-
公开(公告)号:CN106575085B
公开(公告)日:2019-03-15
申请号:CN201580038295.4
申请日:2015-07-06
申请人: ASML荷兰有限公司 , 卡尔蔡司SMT有限责任公司
IPC分类号: G03F7/20
摘要: 使用EUV辐射的光刻设备具有被配置用于提供科勒照射的照射器。照射器包括具有多个可独立导向的反射器的场反射镜(422)和具有多个光瞳琢面(4241‑1至4241‑M)的光瞳反射镜(424),其中可独立导向的反射器被分成多组相邻的可独立导向的反射器、以形成虚拟场琢面(50),光瞳琢面投影虚拟场琢面的像、以填充照射场(IS)。可独立导向的反射器被控制在非激活状态和至少一个激活状态之间,以便控制传送至衬底的剂量。
-
公开(公告)号:CN106575085A
公开(公告)日:2017-04-19
申请号:CN201580038295.4
申请日:2015-07-06
申请人: ASML荷兰有限公司 , 卡尔蔡司SMT有限责任公司
IPC分类号: G03F7/20
CPC分类号: G03F7/70083 , G03F7/70075 , G03F7/70558
摘要: 使用EUV辐射的光刻设备具有被配置用于提供科勒照射的照射器。照射器包括具有多个可独立导向的反射器的场反射镜(422)和具有多个光瞳琢面(4241‑1至4241‑M)的光瞳反射镜(424),其中可独立导向的反射器被分成多组相邻的可独立导向的反射器、以形成虚拟场琢面(50),光瞳琢面投影虚拟场琢面的像、以填充照射场(IS)。可独立导向的反射器被控制在非激活状态和至少一个激活状态之间,以便控制传送至衬底的剂量。
-