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公开(公告)号：CN102165308B
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN200980137341.0
申请日：2009-01-13
申请人： GE传感与检测技术有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01M17/013
CPC分类号： G01M17/013 , G01N23/04 , G01N2223/308 , G01N2223/309 , G01N2223/321 , G01N2223/3303 , G01N2223/3306 , G01N2223/3307 , G01N2223/5015 , G01N2223/627 , G01N2223/643 , G01N2223/645 , G01N2223/646
摘要： 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置，该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38)，该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13)，该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20)，其中在x射线检测期间，所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动，其特征在于，所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A，13B，...)，各探测部分设置用于在完整径向截面(52A，52B，...)上检测所述检测对象。
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公开(公告)号：CN102165308A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN200980137341.0
申请日：2009-01-13
申请人： GE传感与检测技术有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01M17/013
CPC分类号： G01M17/013 , G01N23/04 , G01N2223/308 , G01N2223/309 , G01N2223/321 , G01N2223/3303 , G01N2223/3306 , G01N2223/3307 , G01N2223/5015 , G01N2223/627 , G01N2223/643 , G01N2223/645 , G01N2223/646
摘要： 本发明涉及一种用于借助x射线辐射对检测对象(15)进行材料检测的装置，该装置包括x射线装置(20)和电子控制装置(38)，该x射线装置具有用于透射被保持在检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)和设计成行探测器的x射线探测器(13)，该电子控制装置布置用于控制所述x射线装置(20)，其中在x射线检测期间，所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)能够仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动，其特征在于，所述x射线探测器(13)包括至少两个探测部分(13A，13B，...)，各探测部分设置用于在完整径向截面(52A，52B，...)上检测所述检测对象。
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公开(公告)号：CN102165307A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN200880131251.6
申请日：2008-09-24
申请人： GE传感与检测技术有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01M17/013
CPC分类号： G01M17/013 , G01N23/04 , G01N2223/308 , G01N2223/309 , G01N2223/321 , G01N2223/3303 , G01N2223/3306 , G01N2223/3307 , G01N2223/5015 , G01N2223/627 , G01N2223/643 , G01N2223/645 , G01N2223/646
摘要： 本发明涉及一种用于借助x射线对检测对象(15)进行材料检测的装置(10)，该装置包括一用于自动、顺序地将检测对象(15)送入检测位置或从检测位置送出的平动输送装置(14)以及一x射线装置(20)，所述x射线装置(20)包含一用于透射被保持在支承件(33)上、所述检测位置中的检测对象(15)的x射线源(12)以及一x射线探测器(13)，其中所述检测对象(15)和所述x射线装置(20)在x射线检测期间能仅围绕大致竖直的转动轴线(R)相对于彼此转动。根据本发明的一方面，所述支承件(33)连同被保持在其上的所述检测对象(15)一起能够围绕所述转动轴线(R)整体转动以进行所述x射线检测。根据本发明的另一方面，所述x射线装置(20)能够围绕所述转动轴线(R)整体转动以进行所述x射线检测。
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