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公开(公告)号:CN101855700B
公开(公告)日:2012-12-05
申请号:CN200880115934.2
申请日:2008-09-23
Applicant: MKS仪器股份有限公司
CPC classification number: H01J49/105 , H01J49/145
Abstract: 描述用于产生质谱系统中使用的试剂离子和产品离子的系统和方法。还揭示了用于检测痕量浓度的挥发性有机化合物的系统和方法的应用。微波或高频RF能量源使试剂蒸汽的粒子电离以形成试剂离子。试剂离子进入一个腔室,诸如漂移腔室,以与流体样品交互作用。电场引导试剂离子和促进与流体样品的交互作用而形成产品离子。然后试剂离子和产品离子在电场的影响下退出腔室,以供质谱仪模块检测。系统包括:各种控制模块,用于设置系统参数值;以及分析模块,用于在质谱法和系统故障期间检测离子物质的质量和峰值强度值。
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公开(公告)号:CN101855700A
公开(公告)日:2010-10-06
申请号:CN200880115934.2
申请日:2008-09-23
Applicant: MKS仪器股份有限公司
CPC classification number: H01J49/105 , H01J49/145
Abstract: 描述用于产生质谱系统中使用的试剂离子和产品离子的系统和方法。还揭示了用于检测痕量浓度的挥发性有机化合物的系统和方法的应用。微波或高频RF能量源使试剂蒸汽的粒子电离以形成试剂离子。试剂离子进入一个腔室,诸如漂移腔室,以与流体样品交互作用。电场引导试剂离子和促进与流体样品的交互作用而形成产品离子。然后试剂离子和产品离子在电场的影响下退出腔室,以供质谱仪模块检测。系统包括:各种控制模块,用于设置系统参数值;以及分析模块,用于在质谱法和系统故障期间检测离子物质的质量和峰值强度值。
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