用于在磁阻存储器件编程期间进行有源场补偿的方法和装置

    公开(公告)号:CN1886801B

    公开(公告)日:2010-05-26

    申请号:CN200480034619.9

    申请日:2004-11-17

    IPC分类号: G11C11/16

    CPC分类号: G11C11/16

    摘要: 本发明提供一种磁阻存储元件(10)的阵列(20)。阵列(20)包括:用于施加电流或电压的装置,所述电流或电压用于在被选磁阻存储元件(10s)处产生编程磁场;用于测量被选磁阻存储元件(10s)附近的外部磁场的磁场传感器单元(50);以及用于调整电流或电压的装置(52),所述电流或电压用于在编程操作期间局部地补偿所测量到的外部磁场。本发明还提供一种相应的方法。

    用于磁存储器的数据保持指示器

    公开(公告)号:CN1886804B

    公开(公告)日:2010-05-26

    申请号:CN200480034616.5

    申请日:2004-11-09

    IPC分类号: G11C29/00 G11C11/15

    CPC分类号: G11C11/15

    摘要: 本发明提供一种磁阻存储器元件(10)阵列(20),它配备了至少一个数据保持指示器器件(50)。该至少一个数据保持指示器器件(50)包括第一磁性元件(51)和第二磁性元件(52),这两个磁性元件中每个都有预置的磁化方向,所述第一和第二磁性元件(51,52)的预置磁化方向互不相同。所述第一和第二磁性元件(51,52)适合于将它们的磁化方向对准超过检测门限值的外加磁场的磁力线。根据本发明,选择至少一个数据保持指示器器件(50)中的参数,从而设置要检测的外加磁场的检测门限值。该至少一个数据保持指示器器件(50)具有指示所述阵列(20)的磁阻存储器元件(10)暴露在所述外加磁场中的状态或输出。

    具有磁场传感器的MRAM芯片的非均匀屏蔽

    公开(公告)号:CN100547677C

    公开(公告)日:2009-10-07

    申请号:CN200480034657.4

    申请日:2004-11-09

    IPC分类号: G11C11/15

    CPC分类号: G11C11/15

    摘要: 本发明提供一种磁阻存储器器件(30),包括磁阻存储器元件(10)阵列(20)和至少一个磁场传感器元件(32),其中磁阻存储器器件(30)包括部分或非均匀屏蔽装置(40,41),以至于与所述至少一个磁场传感器元件(32)相比,有差别地将所述磁阻存储器元件(10)阵列(20)从外部磁场屏蔽开。“有差别地”表示有5%的最小屏蔽差别,优选是10%的最小屏蔽差别。本发明还提供相应的屏蔽方法。