干法气相化学蚀刻结构的方法和装置

    公开(公告)号:CN106373877B

    公开(公告)日:2021-07-23

    申请号:CN201610592934.8

    申请日:2016-07-25

    IPC分类号: H01L21/306 H01L21/67

    摘要: 根据本发明,提供了一种干法气相化学蚀刻结构的方法,包括以下步骤:将该结构放置在蚀刻室中,该结构包括第一材料和第二材料,其中,第一材料选自硅、钼、锗、SiGe和钨,第二材料是二氧化硅或硅氮化物,并且第一材料的至少一个表面是露出的,以便能与气相化学蚀刻剂接触;以及用惰性气体氟化物或卤素氟化物气相化学蚀刻剂蚀刻第一材料;该方法进一步包括使蚀刻室暴露于水蒸气的步骤,使得蚀刻第一材料的步骤在水蒸气的存在下执行。