老化架的调度方法及装置

    公开(公告)号:CN116757389B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202310494777.7

    申请日:2023-05-04

    摘要: 本发明提供一种老化架的调度方法及装置,属于老化测试技术领域。该方法包括:基于工位的老化架上待测板的订单信息和该工位的位置信息,得到该工位的老化架的调度值;基于该工位的老化架的调度值,得到该工位的老化架的调度顺序;按照多个工位的老化架的调度顺序,控制多个老化小车对多个工位的老化架进行调度。本发明通过从多方面考虑老化架的调度优先级,使得能够灵活控制老化小车对多个工位的老化架进行调度,从而提高了老化房的运行效率。

    一种组态方法和装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112764396A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN201911064031.2

    申请日:2019-11-04

    IPC分类号: G05B19/418

    摘要: 本发明公开了一种应用于分布式控制系统DCS的组态方法,其特征在于,包括:选择模板站;确定目标工程,在确定的目标工程下确定目标域,在确定的目标域下确定目标站;根据预设的配置文件、所述目标工程、所述目标域和所述目标站,基于模板站中的组态文件生成与所述目标站对应的新的组态文件。本发明还公开了一种应用于分布式控制系统DCS的装置。

    模块与底座的连接结构、连接方法、拆分方法及和安装卡的组装方法

    公开(公告)号:CN108347851B

    公开(公告)日:2023-11-03

    申请号:CN201710058222.2

    申请日:2017-01-23

    IPC分类号: H05K7/12

    摘要: 一种模块与底座的连接结构、连接方法、拆分方法及和安装卡的组装方法。模块与底座的连接结构包括:模块,模块上设置有第一配合部;底座,底座上设置有安装槽孔,安装槽孔的内壁上具有第二配合部;和安装卡,其前端具有第一卡接部、后端具有手持部,中部具有第二卡接部;其中,安装卡自安装槽孔的插入端插装在安装槽孔内,安装卡的第二卡接部与第二配合部卡接、安装卡的第一卡接部伸出安装槽孔的另一端并与第一配合部卡接,以实现安装卡组装模块和底座在一起。该种连接结构安装拆卸方便、连接牢固、节约成本,而且也节省安装空间。

    卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116736072A

    公开(公告)日:2023-09-12

    申请号:CN202310492321.7

    申请日:2023-05-04

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/02

    摘要: 本发明实施例提供一种卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质,属于FCT测试技术领域。方法包括:获取上料区的待测卡件的测试工单;根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位;将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准;在待测卡件完成校准后,根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位;根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。本发明通过根据待测卡件的测试工单对测试区和校准区进行划分工位,相同测试类型的待测卡件放置在同一校准工位和同一测试工位上,多个卡件在同一校准工位上完成校准后,统一有序的移至该校准工位对应的测试工位上,产品的校准测试能够有序进行,提高产品的测试效率。

    卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116736072B

    公开(公告)日:2024-03-26

    申请号:CN202310492321.7

    申请日:2023-05-04

    IPC分类号: G01R31/28 G01R1/02

    摘要: 本发明实施例提供一种卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质,属于FCT测试技术领域。方法包括:获取上料区的待测卡件的测试工单;根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位;将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准;在待测卡件完成校准后,根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位;根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。本发明通过根据待测卡件的测试工单对测试区和校准区进行划分工位,相同测试类型的待测卡件放置在同一校准工位和同一测试工位上,多个卡件在同一校准工位上完成校准后,统一有序的移至该校准工位对应的测试工位上,产品的校准测试能够有序进行,提高产品的测试效率。

    基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116692442B

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202310492343.3

    申请日:2023-05-04

    摘要: 本发明提供一种基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质,属于老化测试技术领域。所述方法包括:获取待测板卡的上料信息:根据上料信息匹配待测板卡在调整区的调整位和在上料区的插料位;抓取来料区的待测板卡移至调整区匹配的调整位;在调整位完成对待测板卡的调整后,抓取调整位上的待测板卡插入至上料区匹配的插料位。本发明的方法能够实现对待测板卡的自动上料,而下料过程与上料过程相反,具有较高的上下料效率,提高待测板卡的老化测试作业效率;其次,通过自动匹配待测板卡的安装工位(插料位),具有较高的匹配精度,能够有效避免待测卡板的针脚出现损伤而影响老化测试的准确性。

    老化架的调度方法及装置
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116757389A

    公开(公告)日:2023-09-15

    申请号:CN202310494777.7

    申请日:2023-05-04

    摘要: 本发明提供一种老化架的调度方法及装置,属于老化测试技术领域。该方法包括:基于工位的老化架上待测板的订单信息和该工位的位置信息,得到该工位的老化架的调度值;基于该工位的老化架的调度值,得到该工位的老化架的调度顺序;按照多个工位的老化架的调度顺序,控制多个老化小车对多个工位的老化架进行调度。本发明通过从多方面考虑老化架的调度优先级,使得能够灵活控制老化小车对多个工位的老化架进行调度,从而提高了老化房的运行效率。

    基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN116692442A

    公开(公告)日:2023-09-05

    申请号:CN202310492343.3

    申请日:2023-05-04

    摘要: 本发明提供一种基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质,属于老化测试技术领域。所述方法包括:获取待测板卡的上料信息:根据上料信息匹配待测板卡在调整区的调整位和在上料区的插料位;抓取来料区的待测板卡移至调整区匹配的调整位;在调整位完成对待测板卡的调整后,抓取调整位上的待测板卡插入至上料区匹配的插料位。本发明的方法能够实现对待测板卡的自动上料,而下料过程与上料过程相反,具有较高的上下料效率,提高待测板卡的老化测试作业效率;其次,通过自动匹配待测板卡的安装工位(插料位),具有较高的匹配精度,能够有效避免待测卡板的针脚出现损伤而影响老化测试的准确性。

    一种组态方法和装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112764396B

    公开(公告)日:2022-06-14

    申请号:CN201911064031.2

    申请日:2019-11-04

    IPC分类号: G05B19/418

    摘要: 本发明公开了一种应用于分布式控制系统DCS的组态方法,其特征在于,包括:选择模板站;确定目标工程,在确定的目标工程下确定目标域,在确定的目标域下确定目标站;根据预设的配置文件、所述目标工程、所述目标域和所述目标站,基于模板站中的组态文件生成与所述目标站对应的新的组态文件。本发明还公开了一种应用于分布式控制系统DCS的装置。