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公开(公告)号:CN118434680A
公开(公告)日:2024-08-02
申请号:CN202280084392.7
申请日:2022-12-21
申请人: OCI有限公司
IPC分类号: C01B33/037 , H01M4/38 , H01M4/134 , H01M10/052 , B02C17/20
摘要: 本发明涉及一种将如金属、氧等杂质含量最小化并控制粒度的硅纳米粒子的有效制备方法,具体地,使用多晶硅微粉作为原材料,从而可以提供具有80nm<D50<150nm以及100nm<D90<250nm的粒度,总金属杂质含量为200ppm以下以及总氧含量为10.0%以下的硅纳米粒子的制备方法。
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公开(公告)号:CN118339675A
公开(公告)日:2024-07-12
申请号:CN202280079651.7
申请日:2022-11-29
申请人: OCI有限公司
IPC分类号: H01M4/36 , H01M4/38 , H01M4/62 , H01M10/052 , H01M4/02
摘要: 本发明提供一种二次电池用负极材料的制备方法,上述二次电池用负极材料包含在纳米硅粒子表面均匀且致密地涂有沥青的高质量纳米硅‑碳复合材料。并且,本发明提供一种通过上述二次电池用负极材料的制备方法制备的二次电池用负极材料及包含其的二次电池,以能够提高二次电池的初始放电容量、初始效率及寿命特性。
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公开(公告)号:CN110028971B
公开(公告)日:2021-11-09
申请号:CN201811523773.2
申请日:2018-12-13
申请人: OCI有限公司
IPC分类号: C09K13/06 , H01L21/306
摘要: 本发明涉及蚀刻组合物及利用其的蚀刻方法。本发明涉及蚀刻组合物、蚀刻方法及利用其的半导体器件的制备方法,更详细地,包含在半导体制备工序中进行湿式蚀刻的情况下,对氧化膜的蚀刻率进行最小化的同时能够选择性地去除氮化膜的高选择比的化合物的蚀刻组合物以及包括利用其蚀刻组合物的蚀刻工序的半导体器件的制备方法。
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公开(公告)号:CN108291314B
公开(公告)日:2020-09-11
申请号:CN201680068003.6
申请日:2016-11-21
申请人: OCI有限公司
摘要: 本发明涉及铜蚀刻用组合物及过氧化氢类金属蚀刻用组合物,更具体地,涉及如下过氧化氢类金属蚀刻用组合物,能够防止铜蚀刻用组合物及过氧化氢类金蚀刻用组合物中的过氧化氢的分解及其他成分的改性,上述铜蚀刻用组合物可通过提高在铜与有机物之间形成的螯合键的稳定性来抑制从蚀刻用组合物产生铜沉淀物。
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公开(公告)号:CN110607186A
公开(公告)日:2019-12-24
申请号:CN201910892140.7
申请日:2015-10-16
申请人: OCI有限公司
摘要: 本发明提供高纯度沥青的制备方法,其用于碳原材料原料的高纯度沥青的制备,所述制备方法包括:准备软化点为10℃至60℃的软沥青的步骤;对上述软沥青和芳香族类不溶物凝聚溶剂进行混合来准备混合物的步骤;利用离心分离法或滗析法从上述混合物中分离未包含不溶物的上清液部分和包含不溶物的沉淀物部分的步骤;以及通过蒸馏从上述未包含不溶物的上清液部分中去除上述芳香族类不溶物凝聚溶剂,取得高纯度沥青的步骤,作为重质β树脂的喹啉可溶-四氢呋喃不溶物的含量与作为β树脂的喹啉可溶-甲苯不溶物的总含量之比在0.65以下。
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公开(公告)号:CN107014856B
公开(公告)日:2019-08-13
申请号:CN201611066160.1
申请日:2016-11-28
申请人: OCI有限公司
IPC分类号: G01N25/12 , H01M8/0432
CPC分类号: H01M8/0482 , H01M8/04328 , H01M8/04335 , H01M8/04365 , H01M8/04447 , H01M8/04455 , H01M8/04559 , H01M8/188 , H01M8/20 , H02J7/007 , Y02E60/528
摘要: 一种用于测量氧化还原液流电池的电解质平衡的方法,其包括:通过向电池组施加电流对所述氧化还原液流电池充电;在所述氧化还原液流电池充电的同时,测量阳极电解质溶液和阴极电解质溶液的温度;计算所述阳极电解质溶液随时间的温度变化率和所述阴极电解质溶液随时间的温度变化率;决定对应于所述阳极电解质溶液随时间的温度变化率的拐点的第一变化时间和对应于所述阴极电解质溶液随时间的温度变化率的拐点的第二变化时间;和使用所述第一变化时间、所述第二变化时间、阳极电解质的氧化数和阴极电解质的氧化数计算所述氧化还原液流电池的平均电解质氧化数。
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