测量装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106461371B

    公开(公告)日:2019-08-13

    申请号:CN201580029220.X

    申请日:2015-05-12

    发明人: 中野良平

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 一种测量装置,其设置有:测量标记(2),其设置在转鼓(3)的外周表面上,转鼓具有设置在外周表面上的带状部件(10);至少一个测量传感器(4),其获取至少一些测量标记(2)的位置信息;以及计算装置,其基于测量标记(2)上的测量信息来计算测量标记(2)的位置,所述测量信息已经通过测量传感器(4)获取,并且其计算提前测得的测量标记(2)的实际位置与测量标记(2)的计算位置之间的偏差。

    测量装置
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106461371A

    公开(公告)日:2017-02-22

    申请号:CN201580029220.X

    申请日:2015-05-12

    发明人: 中野良平

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 一种测量装置,其设置有:测量标记(2),其设置在转鼓(3)的外周表面上,转鼓具有设置在外周表面上的带状部件(10);至少一个测量传感器(4),其获取至少一些测量标记(2)的位置信息;以及计算装置,其基于测量标记(2)上的测量信息来计算测量标记(2)的位置,所述测量信息已经通过测量传感器(4)获取,并且其计算提前测得的测量标记(2)的实际位置与测量标记(2)的计算位置之间的偏差。

    缺陷检查系统以及膜制造装置

    公开(公告)号:CN105408737A

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201480042672.7

    申请日:2014-07-31

    摘要: 缺陷检查系统具备:输送带状的膜的膜输送部;进行通过上述膜输送部输送的上述膜的缺陷检查的缺陷检查部;以及在上述膜输送部构成的膜输送路径中相比上述缺陷检查部设置在下游侧、并且能够将与通过上述缺陷检查部检测到的缺陷有关的缺陷信息记录于上述膜的记录部。上述膜输送部包括分别在通过上述记录部在上述膜的第1面记录上述缺陷信息的第1模式以及在第2面记录上述缺陷信息的第2模式下被缠绕上述膜的第1输送辊部、以及在上述第1模式以及上述第2模式中的某一个模式下被缠绕上述膜的第2输送辊部。