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    用于测量胶体颗粒的生长或溶解动力学的装置和方法
    1.
    发明公开
    用于测量胶体颗粒的生长或溶解动力学的装置和方法 有权 转让

    公开(公告)号：CN108369169A

    公开(公告)日：2018-08-03

    申请号：CN201680060558.6

    申请日：2016-10-13

    申请人： 曼塔仪器股份有限公司

    发明人： 贾恩·J·塔塔科维兹 ,  莫内特·卡尔

    IPC分类号： G01N15/02

    CPC分类号： G01N15/0211 ,  G01N2013/006 ,  G01N2015/0038 ,  G01N2015/0053

    摘要： 公开了一种用于确定胶体颗粒的生长/溶解速率的系统，所述系统包括多个光源和多个传感器。光源被构造成在容纳所述胶体颗粒的样本室处发射电磁辐射束。所述样本室允许组合射束的一部分垂直或以某个其它角度向所述组合射束散射。所述射束的所述散射部分被引导至检测电磁辐射的传感器。所述传感器连接到激活所述光源并从所述传感器获取图像的处理器。以一定时间间隔拍摄多张图像，并对于拍摄的每一张图像，计算总图像强度级别，并进行归一化。然后，计算随时间拟合归一化值的公式，并根据所述公式来确定斜率。

    一种对纳米级碳烟微粒物理特性的检测方法及应用
    3.
    发明公开
    一种对纳米级碳烟微粒物理特性的检测方法及应用 失效

    公开(公告)号：CN106525667A

    公开(公告)日：2017-03-22

    申请号：CN201610839479.7

    申请日：2016-09-21

    申请人： 天津大学

    发明人： 宋崇林 ,  刘野 ,  李娜 ,  吕刚

    IPC分类号： G01N15/00

    CPC分类号： G01N15/00 ,  G01N2015/0038

    摘要： 本发明公开了一种对纳米级碳烟微粒物理特性的检测方法，利用原子力显微镜与拉曼光谱仪联用系统同时检测出纳米级碳烟微粒的同一位置处的三维形貌、力学特性以及石墨化程度，包括以下步骤：获得纳米级碳烟微粒样品的三维形貌、力曲线和拉曼光谱图，用origin软件对拉曼光谱图进行分峰拟合以评价纳米级碳烟微粒样品的石墨化程度；最终获得所有纳米级碳烟微粒样品的力学特性，所述力学特性包括吸附力、范德华力和粘附力。本发明可以对不同来源燃烧过程中生成的碳烟微粒的三维形貌、力学特性及石墨化程度的演变规律进行研究，其研究结果有助于深入理解碳烟微粒的生成和演变机制，从而为降低碳烟微粒的排放以及大气环境污染的防治提供了理论指导。

    粒子数测定器
    6.
    发明公开
    粒子数测定器 失效

    公开(公告)号：CN104285140A

    公开(公告)日：2015-01-14

    申请号：CN201280073168.4

    申请日：2012-05-21

    申请人： 株式会社岛津制作所

    发明人： 奥田大二

    IPC分类号： G01N15/06 ,  G01N27/60

    CPC分类号： G01N15/0266 ,  B03C3/017 ,  B03C3/08 ,  B03C3/12 ,  B03C3/38 ,  B03C3/41 ,  B03C3/47 ,  B03C2201/06 ,  B03C2201/24 ,  G01N15/0656 ,  G01N27/62 ,  G01N2015/0038

    摘要： 粒子数测定器包括：前处理部，其构成为使被导入测定区域的气溶胶为中和状态、正带电状态或者负带电状态中的某个电气状态；单极带电部，其位于所述测定区域的内侧，并构成为使被导入的气溶胶为与被导入测定区域时的电气状态不同的电气状态的正带电状态或者负带电状态中的某一个；离子阱，其在所述测定区域的内侧被配置于气溶胶的流向上的所述单极带电部的下游，并具有产生仅吸引气溶胶中的气体离子的电场的离子阱电极；排气机构，其以一定流量将气溶胶从所述测定区域排出；以及电流计，其将从所述单极带电部供给的电流与流入离子阱的电流之差作为与粒子数浓度相对应的测定值来进行检测。

    微分型电迁移率分级装置、粒子测量系统以及粒子筛选系统
    8.
    发明授权
    微分型电迁移率分级装置、粒子测量系统以及粒子筛选系统 有权 转让

    公开(公告)号：CN102192949B

    公开(公告)日：2014-05-07

    申请号：CN201110033972.7

    申请日：2011-01-31

    申请人： 独立行政法人理化学研究所

    发明人： 折井孝彰 ,  工藤聪

    IPC分类号： G01N27/62 ,  G01N15/02

    CPC分类号： G01N15/0266 ,  G01N2001/2223 ,  G01N2015/0038 ,  G01N2015/0046 ,  G01N2015/0288

    摘要： 为了提供一种可容易地增大能够分级的带电粒子的粒径的上限值，并且能够分析粒径可能会发生变化的带电粒子的微分型电迁移率分级装置，本发明的DMA(微分型电迁移率分级装置)包括：分级槽、气体供给部以及电压源；分级槽，其中依次配置有彼此相隔规定距离且相对而设的入口电极、中间电极以及出口电极，所述入口电极、中间电极以及出口电极分别具有入口狭缝、狭缝、出口狭缝；气体供给部，其对分级槽供给鞘气；电压源，其在彼此相对的所述电极之间施加规定的电压；并且，分级槽具有在每组彼此相对的所述电极之间形成的第1分级部和第2分级部，所述气体供给部对供给到分级槽的所述鞘气的流量，在第1分级部和第2分级部分别进行控制。

    一种检测纳米粒子的方法
    9.
    发明公开
    一种检测纳米粒子的方法 有权 转让

    公开(公告)号：CN103728236A

    公开(公告)日：2014-04-16

    申请号：CN201210391585.5

    申请日：2012-10-12

    申请人： 厦门大学

    发明人： 颜晓梅 ,  朱少彬

    IPC分类号： G01N15/14

    CPC分类号： G01N15/1434 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/53 ,  G01N21/85 ,  G01N2015/0038 ,  G01N2015/1413 ,  G01N2015/1447 ,  G01N2201/06113

    摘要： 本发明提供了一种检测单个纳米粒子的方法，该方法包括如下步骤：（1）使用鞘液通过流体动力学聚焦将待测的样品液体压缩成样品液流；（2）向所述样品液流照射测量光，其中，所述样品液流中的单个纳米粒子接受测量光照射的时间为0.1-10毫秒；（3）将接受测量光照射的所述样品液流的区域定义为探测区，通过透镜成像系统收集由接受测量光照射的区域发出的光信号，使透镜成像系统所收集的光信号通过视场光阑以滤除探测区外的光信号并富集探测区的光信号；（4）将通过视场光阑富集得到的光信号进行光电信号转换。本发明能够实现对粒径为40-1000nm的低折射率纳米颗粒和粒径10-150nm纳米金颗粒的检测。