用于测量集成电路中的功耗的方法和系统

    公开(公告)号:CN102478603A

    公开(公告)日:2012-05-30

    申请号:CN201110259186.9

    申请日:2011-09-05

    IPC分类号: G01R21/06 G01R31/28

    摘要: 本发明涉及用于测量集成电路中的功耗的方法和系统。提供了一种用于确定集成电路(10)内的功率域(12)的功耗的方法(100)。在第一步骤(110)中,确定这个功率域(12)的局部电源阻抗剖面(Z(f))。随后,在功率域(12)中执行良定义的周期性活动(50)的同时测量局部时间分辨电源电压(U(t))(步骤120)。因此累积一组时域测量的电压数据(U(t))并把其变换到频域以产生电压谱(U(f))(步骤130)。通过使用这个功率域(12)的电源阻抗剖面(Z(f)),按照I(t)=Ff-1{U(f)/Z(f)}从该电压剖面(U(f))计算电流谱I(t)(步骤140)。最后,从测量的电压谱(U(t))和计算的电流谱(I(t))确定时间分辨功耗谱P(t)(步骤150)。可以把该功耗(P(t))与基准(Pref(t))进行比较(步骤160)以验证功率域(12)内的功耗是否符合预期。

    测量芯片上的电流
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100538372C

    公开(公告)日:2009-09-09

    申请号:CN200410061598.1

    申请日:2004-12-21

    IPC分类号: G01R19/25 G01R27/02

    CPC分类号: G01R31/3012

    摘要: 本发明公开用于测量中央处理机(CPU)组件中电流的各种系统、方法和包括在计算机可读媒体中的程序。为了测量所述电流,在芯片(109)中运行计算机程序的同时现场确定CPU组件中芯片(109)的电源输入两端的电压V(t)。然后,根据电压(V(t))计算电压的傅立叶变换(Ff(V(t)))。然后可以根据电压Ff(V(t))和阻抗(Zf)计算频率域中芯片(109)的电源输入端上的电流(Ff(Idd(t))),其中,阻抗(Zf)包括与电源输入端连接的电源环路的阻抗,它是频率的函数。最后,通过计算频率域中电流的傅立叶逆变换(Ff(Idd(t))),确定时间域中芯片(109)的电源输入端上的电流(Idd(t))。

    故障检测装置、电器以及故障检测方法

    公开(公告)号:CN102654551B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201210055036.0

    申请日:2012-03-05

    IPC分类号: G01R31/08

    摘要: 提供一种故障检测装置、电器以及故障检测方法。故障检测装置包括:接口,电连接到电器以将商业电传送给电器,将用于驱动包括在电器中的多个负载中的一个负载的命令发送到电器,并检测在电器的多个负载中的一个负载中流动的电流;终端,被构造为从接口接收与在多个负载中的一个负载中流动的电流相应的电流信号,基于接收的电流信号确定所述一个负载是否具有故障,并显示所述负载是否具有故障,当在电器中产生了故障时,仅通过检测被怀疑具有故障的负载的电流来确定故障负载,从而提高故障检测精度。

    故障检测装置、电器以及故障检测方法

    公开(公告)号:CN102654551A

    公开(公告)日:2012-09-05

    申请号:CN201210055036.0

    申请日:2012-03-05

    IPC分类号: G01R31/08

    摘要: 提供一种故障检测装置、电器以及故障检测方法。故障检测装置包括:接口,电连接到电器以将商业电传送给电器,将用于驱动包括在电器中的多个负载中的一个负载的命令发送到电器,并检测在电器的多个负载中的一个负载中流动的电流;终端,被构造为从接口接收与在多个负载中的一个负载中流动的电流相应的电流信号,基于接收的电流信号确定所述一个负载是否具有故障,并显示所述负载是否具有故障,当在电器中产生了故障时,仅通过检测被怀疑具有故障的负载的电流来确定故障负载,从而提高故障检测精度。

    用于测量集成电路中的功耗的方法和系统

    公开(公告)号:CN102478603B

    公开(公告)日:2015-04-01

    申请号:CN201110259186.9

    申请日:2011-09-05

    IPC分类号: G01R21/06 G01R31/28

    摘要: 本发明涉及用于测量集成电路中的功耗的方法和系统。提供了一种用于确定集成电路(10)内的功率域(12)的功耗的方法(100)。在第一步骤(110)中,确定这个功率域(12)的局部电源阻抗剖面(Z(f))。随后,在功率域(12)中执行良定义的周期性活动(50)的同时测量局部时间分辨电源电压(U(t))(步骤120)。因此累积一组时域测量的电压数据(U(t))并把其变换到频域以产生电压谱(U(f))(步骤130)。通过使用这个功率域(12)的电源阻抗剖面(Z(f)),按照I(t)=Ff-1{U(f)/Z(f)}从该电压剖面(U(f))计算电流谱I(t)(步骤140)。最后,从测量的电压谱(U(t))和计算的电流谱(I(t))确定时间分辨功耗谱P(t)(步骤150)。可以把该功耗(P(t))与基准(Pref(t))进行比较(步骤160)以验证功率域(12)内的功耗是否符合预期。

    测量芯片上的电流
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1637421A

    公开(公告)日:2005-07-13

    申请号:CN200410061598.1

    申请日:2004-12-21

    IPC分类号: G01R19/25 G01R27/02

    CPC分类号: G01R31/3012

    摘要: 本发明公开用于测量中央处理机(CPU)组件中电流的各种系统、方法和包括在计算机可读媒体中的程序。为了测量所述电流,在芯片(109)中运行计算机程序的同时现场确定CPU组件中芯片(109)的电源输入两端的电压V(t)。然后,根据电压(V(t))计算电压的傅立叶变换(Ff(V(t)))。然后可以根据电压Ff(V(t))和阻抗(Zf)计算频率域中芯片(109)的电源输入端上的电流(Ff(Idd(t))),其中,阻抗(Zf)包括与电源输入端连接的电源环路的阻抗,它是频率的函数。最后,通过计算频率域中电流的傅立叶逆变换(Ff(Idd(t))),确定时间域中芯片(109)的电源输入端上的电流(Idd(t))。