公开(公告)号：CN105070631B

公开(公告)日：2017-07-14

申请号：CN201510394026.3

申请日：2011-02-28

申请人： 赛默菲尼根有限责任公司

发明人： A.E.谢恩 ,  R.A.小格罗瑟

IPC分类号： H01J49/42

CPC分类号： H01J49/4215 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/0036 ,  H01J49/025 ,  H01J49/26 ,  H01J49/42 ,  H01J49/421

摘要： 介绍了一种新颖的方法和质谱仪设备，用于在空间和时间上分辨一个多极仪器的一个或多个离子离开图案的图像。具体而言，本发明的方法和结构通过一个阵列式检测器测量了作为时间以及在四极滤质器的射束截面中的空间位移的函数的离子电流。所检测的四极杆离子电流与其可重现的空间‑时间结构的线性使得能够对来自复合混合物中的单独离子物种的信号贡献因素去卷积，其中灵敏度和质量分辨能力均是重要的。

公开(公告)号：CN105428201A

公开(公告)日：2016-03-23

申请号：CN201510985225.1

申请日：2015-12-25

申请人： 复旦大学

发明人： 谢小东 ,  徐福兴 ,  杨海洋 ,  丁传凡

IPC分类号： H01J49/42 ,  H01J49/02

CPC分类号： H01J49/42 ,  H01J49/02 ,  H01J49/4205

摘要： 本发明属于分析仪器技术领域，具体为一种新型结构的阶梯电极离子阱质量分析器。本发明提出的离子阱是由2对阶梯电极与1对端盖电极组成。阶梯电极离子阱比传统平板电极矩形离子阱具有可调节电场分布的优点，且其阶梯电极离子阱在几何结构设计上更接近于双曲面电极结构，但比双曲面电极更容易加工。运用理论模拟结合实验方法来研究阶梯电极离子阱，阶梯电极的几何结构参数可以任意调节，使离子阱内部的电场分布优化，以实现最佳的质谱分析性能。优化的阶梯电极离子阱质量分析器，可以在225Da/s扫速下获得10150的质量分辨率，同时实验结果也说明阶梯电极离子阱具有较好的串级质谱分析性能。

公开(公告)号：CN102971826B

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201080067689.X

申请日：2010-06-24

申请人： 株式会社岛津制作所

发明人： 向畑和男 ,  奥村大辅

IPC分类号： H01J49/06 ,  G01N27/62

CPC分类号： H01J49/42 ,  H01J49/044 ,  H01J49/067 ,  H01J49/34

摘要： 在第一级中间真空室(6)内，成为背景噪声的原因的簇离子主要在区域(A)生成，碎片离子主要在区域(B)生成。因此，在源内CID分析模式下，对第一离子导向器(7)施加比分离器(8)低的直流电压，使得在区域(B)生成加速电场。由此，能够对离子赋予足够的能量来促进碎片化。在不进行源内CID的情况下，对脱溶剂管(3)的出口端(3b)施加比第一离子导向器(7)低的直流电压，使得在区域(B)不产生电场而只在区域(A)生成加速电场。由此，能够同时抑制簇离子和碎片离子的生成，取得质量高的色谱。

公开(公告)号：CN101427341B

公开(公告)日：2012-11-21

申请号：CN200780013227.8

申请日：2007-04-13

申请人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

发明人： A·马卡洛夫

IPC分类号： H01J49/42

CPC分类号： H01J49/42 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/0045

摘要： 一种质谱测定方法，所述方法在第一循环中包括如下步骤：将样品离子存储到第一离子存储设备中，第一离子存储设备具有出射孔径以及空间上分开的离子输运孔径；将所存储的离子喷射到出射孔径之外；将所喷射的离子输运到离子选择设备中，该离子选择设备与所述第一离子存储设备在空间上是分开的；在空间上分开的离子选择设备之内进行离子选择；在离子选择步骤之后，使从第一离子存储设备中喷射出的离子或其衍生物中的至少一些从空间上分开的离子选择设备返回到第一离子存储设备；通过第一离子存储设备的离子输运孔径，接收返回的离子；以及将所接收到的离子存储到第一离子存储设备中。

公开(公告)号：CN101427341A

公开(公告)日：2009-05-06

申请号：CN200780013227.8

申请日：2007-04-13

申请人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

发明人： A·马卡洛夫

IPC分类号： H01J49/42

CPC分类号： H01J49/42 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/0045

摘要： 一种质谱测定方法，所述方法在第一循环中包括如下步骤：将样品离子存储到第一离子存储设备中，第一离子存储设备具有出射孔径以及空间上分开的离子输运孔径；将所存储的离子喷射到出射孔径之外；将所喷射的离子输运到离子选择设备中，该离子选择设备与所述第一离子存储设备在空间上是分开的；在空间上分开的离子选择设备之内进行离子选择；在离子选择步骤之后，使从第一离子存储设备中喷射出的离子或其衍生物中的至少一些从空间上分开的离子选择设备返回到第一离子存储设备；通过第一离子存储设备的离子输运孔径，接收返回的离子；以及将所接收到的离子存储到第一离子存储设备中。

公开(公告)号：CN101421817A

公开(公告)日：2009-04-29

申请号：CN200780012902.5

申请日：2007-04-13

申请人： 塞莫费雪科学(不来梅)有限公司

发明人： A·马卡洛夫 ,  M·蒙娜丝泰斯崎 ,  D·E·格林菲尔德

IPC分类号： H01J49/06

CPC分类号： H01J49/42 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/0045

摘要： 公开了一种用于减少特定和有限质荷比范围上的离子的能量分散的方法，以及实现该方法的离子减速装置。具有电场强度E的电场由减速电极装置(250)产生。特定和有限质荷比范围的但具有能量分散的离子被引导到由减速电极装置(250)产生的减速电场中。然后一旦基本上特定质荷比范围的所有离子已经进入该减速电场，就去除该减速电场。通过使电场强度E与进入该电场的离子能量分散匹配，可减少所述离子的能量分散。本发明的优选实施例采用在离子减速装置上游的能量离散。例如，可使用离子反射镜装置(200)，将离子反射出在该离子镜装置(200)内的离子反射镜(220)以推动能量散焦。

公开(公告)号：CN1271462A

公开(公告)日：2000-10-25

申请号：CN98807885.6

申请日：1998-06-02

申请人： 先进研究及技术学会

发明人： D·E·克莱默 ,  J·P·赖利

IPC分类号： H01J49/40

CPC分类号： G01N27/622 ,  H01J49/004 ,  H01J49/40 ,  H01J49/42

摘要： 混合离子迁移率和飞行时间质谱测定器(30)包括离子源区(32),该离子源区与直接插入飞行时间质谱测定器(TOFMS)(36)的离子加速区的离子迁移率谱测定器(IMS)(34)耦接。在一个实施例中,相对IMS(34)设置TOFMS(36),使TOFMS(36)的飞行管轴(128)垂直于IMS(34)的漂移管轴(72)。在另一个实施例中,相对IMS(34)设置TOFMS(36),使飞行管轴(128)与IMS(34)的漂移管轴(72)不垂直。在另一个实施例中,将已知的四极离子阱设置于IMS(34)与TOFMS(36)之间,提供对将离子组注入TOFMS(36)的控制能力。离子源(74)可以是MALDI源、电子喷射离子源或设置于IMS(34)与已知任何离子源之间的离子阱。在每一种情况下,最好用计算机(38)控制IMS(34)、TOFMS(36)和离子源(74)。

公开(公告)号：CN108962716A

公开(公告)日：2018-12-07

申请号：CN201810629121.0

申请日：2018-06-19

申请人： 中国科学院光电研究院

发明人： 罗艳 ,  吴晓斌 ,  王魁波 ,  谢婉露 ,  张罗莎 ,  张立佳

IPC分类号： H01J49/02 ,  H01J49/42

CPC分类号： H01J49/02 ,  H01J49/42

摘要： 一种高精度质谱检出限的检测装置及其检测方法，其中，所述检测装置包括，待测高精度质谱仪、真空腔室、分子泵、干泵、隔膜泵、微调阀、金属细管、金属毛细管和大气采样阀；检测方法包括：以空气中稀有气体同位素浓度为检测目标，实现对高精度质谱仪检出限的检测。本发明的优点为，通过采用本发明检测装置，实现了利用空气中的低浓度稀有气体同位素对高精度质谱仪检出限的检测工作，解决了不易获得低浓度标准检测气体的问题，此外，相比已有的技术成果，本发明的一种高精度质谱检出限的检测装置及其检测方法简单易行，通过一次有效的测试，即可直观可比地获得检出限的数量级；通过简单地计算，即可精确可靠地获得四极质谱仪的最小可检浓度和最小可检分压。

公开(公告)号：CN105679635B

公开(公告)日：2018-03-13

申请号：CN201510876350.9

申请日：2015-12-03

申请人： 萨默费尼根有限公司

发明人： J·W·史密斯 ,  A·E·肖恩

IPC分类号： H01J49/02

CPC分类号： H01J49/0031 ,  H01J49/0036 ,  H01J49/025 ,  H01J49/42 ,  H01J49/4215 ,  H01J2237/24435

摘要： 本发明涉及一种记录从四极滤质器发射的离子的空间和时间特性。一种用于检测从质谱仪的质量分析器离开的一定量离子的离子检测系统，包括：(a)光子发生装置，该光子发生装置被配置为接收该量的离子并且产生与该量的离子成比例的一定量的光子；(b)集光透镜，该集光透镜被光学耦合到该光子发生装置上并且被配置为传送所生成的光子束；(c)线聚焦装置，该线聚焦装置是可操作用于将该光束的至少第一部分聚焦成线；以及(d)线性光检测器阵列，该阵列被配置为检测沿该聚焦线该所产生光子的量的变化。

公开(公告)号：CN107275181A

公开(公告)日：2017-10-20

申请号：CN201710282429.8

申请日：2017-04-26

申请人： 苏州安益谱精密仪器有限公司

发明人： 张小华 ,  徐伟 ,  李大宇 ,  姜婷 ,  张洪嘉

IPC分类号： H01J49/42 ,  H01J49/02 ,  H01J49/00 ,  H01J49/26

CPC分类号： H01J49/42 ,  H01J49/00 ,  H01J49/02 ,  H01J49/26

摘要： 本发明实施例提供一种用于驱动质谱仪的正弦波频率扫描装置，涉及终端技术领域。其中，该装置包括：微控制单元、信号输出模块和宽频高压放大器，微控制单元用于从终端获取预置的正弦波数据，并将正弦波数据传输至信号输出模块，信号输出模块用于接收所述正弦波数据，并当接收到微控制单元发送的转换信号后，将正弦波数据转换为正弦波电压信号，以及，将正弦波电压信号传输至宽频高压放大器，宽频高压放大器与离子阱质量分析器电连接，用于将正弦波电压信号放大为高压正弦波信号，并将高压正弦波信号传输至离子阱质量分析器的两个极板，以向两个极板提供正弦波频率扫描的射频电压。本发明实施例通过上述正弦波频率扫描装置降低了功耗。