检测材料表面包覆物厚度的方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118603004A

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202410693601.9

    申请日:2024-05-30

    IPC分类号: G01B15/02

    摘要: 本申请提出了检测材料表面包覆物厚度的方法,所述包覆物包括第一主元素,所述基体包括第二主元素,所述方法包括:(1)调节能谱仪的电压和电流,使能谱仪的谱图中出现第一主元素及第二主元素的特征峰;(2)采用扫描电子显微镜确定材料的测试区域,通过能谱仪分别收集n个颗粒上的测试区域内的第一主元素的特征峰的积分面积,其中,n≥50颗;(3)单个颗粒的包覆物的厚度=(单个颗粒的所述第一主元素的特征峰的积分面积/包覆物的标准品的特征峰积分面积)×标准品的采集厚度;(4)包覆物的平均厚度=n个颗粒的包覆物的厚度之和/n。由此,本方法可获得材料表面包覆物整体的平均厚度,测试方法简单,无需对材料进行特殊处理,测试周期短。

    一种异形玻璃基板镀膜厚度在线监测方法

    公开(公告)号:CN118583095A

    公开(公告)日:2024-09-03

    申请号:CN202411068282.9

    申请日:2024-08-06

    IPC分类号: G01B15/02 G06F18/22

    摘要: 本发明涉及射线厚度测量技术领域,具体涉及一种异形玻璃基板镀膜厚度在线监测方法。该方法通过异形玻璃镀膜样本上扫描点在局部范围的双掠入射角和镀膜厚度的偏差情况,得到镀膜区域紊乱影响;确定扫描点的邻近等厚点,通过扫描点与邻近等厚点在双掠入射角分布和边界分布上的特征,得到异形表面复杂影响;根据扫描点的镀膜区域紊乱影响和异形表面复杂影响,结合扫描点的位置分布得到异形矫正程度,进而确定映射关系进行镀膜厚度监测。本发明考虑扫描点受到区域影响和异形玻璃基板镀膜影响情况,得到更优质的矫正系数,使双掠入射角与镀膜厚度的映射关系能够更准确的被获取,进而实现较为准确的异形玻璃基板镀膜厚度的在线检测。

    一种冰层厚度测量设备及其运行方法

    公开(公告)号:CN118533109A

    公开(公告)日:2024-08-23

    申请号:CN202410630189.6

    申请日:2024-05-21

    发明人: 崔海涛 白旭

    IPC分类号: G01B15/02 G01S13/88 G01S19/14

    摘要: 本发明提出一种冰层厚度测量设备及其运行方法,其中设备包括:探地雷达用于监测冰层厚度和水面、冰面距离雷达的距离;GPS模块用于为雷达设备提供秒脉冲信号和时间信息;远程控制模块用于控制冰雪厚度测量设备的启动、暂停和关闭,对探地雷达的参数进行设置,并对探地雷达的回传数据进行处理和显示;数据传输模块用于建立探地雷达和远程控制模块之间的无线通信;硅能电池用于为冰雪厚度测量设备供电;遥测模块用于利用数据传输模块的双向通信功能,实现遥感信号采集和摄像监控。本发明能够实现对冰层厚度的实时追踪,通过对信号数据进行异常处理,增强算法的鲁棒性,本发明通过对参考信号和初始层位置进行实时更新,使测量的冰层厚度更加精确。

    水面结冰厚度和水位测量方法、计算机装置和存储介质

    公开(公告)号:CN118500308A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410911313.6

    申请日:2024-07-09

    申请人: 中山大学

    发明人: 郭源 温松诚

    摘要: 本发明公开了一种水面结冰厚度和水位测量方法、计算机装置和存储介质,包括通过波导探头发射电磁波信号,采集电磁波信号产生的反射波形,根据反射波形确定混合波段表观长度和水体波段表观长度,根据水体波段表观长度确定水体部分实际长度,根据水体部分实际长度确定混合部分实际长度,分别根据混合部分实际长度和水体部分实际长度确定待测量水体的水面结冰厚度和液态水水位等步骤。本发明可以准确测量水面结冰厚度和液态水水位;只需在待测量水体的测量位置点安装好波导探头,后续测量无需现场人工操作和破冰,即可实现对待测量水体的水面结冰厚度和液态水水位的持续监测,可实现冰层无损伤的长期连续测量。本发明广泛应用于冰水情检测技术领域。

    基于零频分量的薄板厚度函数绘制方法和系统

    公开(公告)号:CN118484910A

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202311124608.0

    申请日:2023-09-01

    发明人: 孙晓强

    摘要: 本发明属于薄板厚度检测领域,具体涉及一种基于零频分量的薄板厚度函数绘制方法及系统,具体方法包括:在待检测模型的一侧设置信号激发点,在沿基波传播直线路径上设置信号接收点;在模型的信号激发点发射基波,信号接收点提取接收到的零频信号,并作出零频信号强度随基波传播距离变化关系图;通过零频累积函数对基波传播距离求导,得到零频信号强度变化率曲线;定标,测定基波传播路径上任意某处位置处的薄板厚度以确定常数C;确定在基波传播路径上对应的薄板厚度函数h(x1)。利用非线性兰姆波零频分量可持续累积特性和对板材厚度变化的高敏感性,实现薄板厚度变化检测,克服了混合波和二次谐波技术的相关难点。

    一种单晶高温合金的位错密度测定方法

    公开(公告)号:CN118464950A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410644934.2

    申请日:2024-05-23

    IPC分类号: G01N23/04 G01N1/28 G01B15/02

    摘要: 本发明公开一种单晶高温合金的位错密度测定方法,涉及位错密度测量领域,方法包括对单晶高温合金样品进行脉冲火花放电切割成型,得到试样;采用离子减薄仪对试样进行减薄至试样中心穿孔;采用透射电镜对中心穿孔后的试样进行成像,确定感兴趣的区域;调整合适的曝光参数和对比度,获取设定数量的感兴趣区域的透射照片;采用双束会聚束电子衍射的方式确定中心穿孔后的试样的透射箔片厚度;在中心穿孔后的试样中以视野中心为圆心画若干个同心圆;并根据每个圆周的半径、每个圆周上与位错线交点的个数和对应的透射箔片厚度确定位错密度,本发明能够提高单晶高温合金的位错密度测定的准确性。

    一种硼粉颗粒表面氧化层厚度的表征方法

    公开(公告)号:CN118442953A

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202410582165.8

    申请日:2024-05-11

    发明人: 何志成 吴建军

    IPC分类号: G01B15/02

    摘要: 本发明公开了一种硼粉颗粒表面氧化层厚度的表征方法,包括以下步骤:(1)将硼粉进行干燥;(2)取干燥后的硼粉进行压片,贴于样品盘上,然后放进XPS分析仪的样品室;(3)在真空腔室内将样品送入分析室,通过XPS全谱和窄谱扫描对硼粉表面的氧化层进行表征,通过B、O元素含量变化规律,可计算出硼粉表面氧化层的组成及相对含量;(4)取出XPS测试后的样品,置于有机溶剂中搅拌分散,超声振荡;(5)取分散好的硼粉液体滴加在透射电镜样品专用半分载网上,晾干,放置于透射电镜真空腔室中并抽真空;(6)通过透射电镜对单颗粒硼边缘进行观测,测量其表面氧化层的厚度。本方法简单有效,可直接测试出硼粉颗粒的氧化层厚度的大小。

    一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法

    公开(公告)号:CN114279374B

    公开(公告)日:2024-07-30

    申请号:CN202111596454.6

    申请日:2021-12-24

    IPC分类号: G01B15/02

    摘要: 本发明涉及特种设备检验检测技术领域,具体公开了一种他比式的管道壁厚数字射线在役测量方法。该方法包括:步骤一,采用已知尺寸的物体作为标定物,紧挨着被检测管道放置在侧面,并且与被检测管道轴线在同一平面上;步骤二,采用低能量X射线检测拍摄被检测管道和标定物的图像;步骤三,选中标定物图像,根据标定物的已知尺寸,计算单个像素尺寸;步骤四,采用高能量X射线检测拍摄被检测管道和标定物的图像;步骤五,将步骤二和步骤四得到的图像进行合并,计算得到被检测管道两个侧壁位置的壁厚绝对值。本发明通过已知尺寸的物体作为标定物,直接测量管道壁厚绝对值;还可测量管道测面外部边缘线性区域内的壁厚,测量区域大。