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公开(公告)号:CN117269323B
公开(公告)日:2024-02-13
申请号:CN202311567431.1
申请日:2023-11-23
申请人: 吉林大学
摘要: 的分离。本发明涉及一种液体中磁性悬浮物微谐振式质量传感器及检测方法,包括:电路板、控制单元、供能单元、接收单元、电压控制单元、数模转化单元、输出单元、检测单元,检测单元包括R形正交微悬臂梁、压电驱动机构、拾振机构、磁性吸附层、绝缘膜,压电驱动机构通过运算放大器供电驱动微悬臂梁振动,拾振机构用于将振动信号转为电压信号传输至接收单元,绝缘膜用于阻碍磁性吸附层在使用前吸附杂物造成检测误差,磁性吸附层用于吸附液体内磁性悬浮物;本发明的优点是:通过将悬臂梁主梁后端浸没在液体中来(56)对比文件Dong F. Wang等.A Passive Sensing-Wireless Transmitting Scheme Demonstratedby Integrating a Magnetic Cantilever Witha Microstrip Patch for DC CurrentMonitoring《.IEEE TRANSACTIONS ONINSTRUMENTATION AND MEASUREMENT》.2023,第第72卷卷全文.Alexander Dabsch1等.MEMS cantileverbased magnetic field gradient sensor.《Journal of Micromechanics andMicroengineering》.第第27卷卷全文.王天华;张辉;周凤梅;张仲宁;吴浩东;张淑仪.1mm管式悬臂梁结构微型超声马达研究.南京大学学报(自然科学版).2007,(第04期),全文.俞锋;李昕欣;于海涛.平面内谐振式微悬臂梁生化传感器的设计与制造.传感技术学报.2012,(第07期),全文.杨冰,杨银堂,李跃进.PZT压电薄膜在微传感器中的应用.传感器技术.2003,(第12期),全文.
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公开(公告)号:CN114964447B
公开(公告)日:2024-01-02
申请号:CN202210173749.0
申请日:2022-02-24
申请人: 精工爱普生株式会社
发明人: 小林祥宏
摘要: 本申请公开了测量方法、测量装置、测量系统以及存储介质。测量方法包括:高通滤波处理工序,对包括基于观测数据的漂移噪声的速度数据进行高通滤波处理,生成使所述漂移噪声降低了的漂移噪声降低数据;位移数据生成工序,对所述漂移噪声降低数据进行积分,生成位移数据;校正数据推定工序,基于所述位移数据,对与从将所述速度数据进行积分而得的数据去除了所述漂移噪声的数据、和所述位移数据之差相当的校正数据进行推定;以及测量数据生成工序,将所述位移数据和所述校正数据相加,生成测量数据。
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公开(公告)号:CN116972936A
公开(公告)日:2023-10-31
申请号:CN202310803928.2
申请日:2023-07-03
申请人: 北京首钢股份有限公司 , 首钢股份公司迁安钢铁公司
IPC分类号: G01G3/16 , G01G19/414 , G01G23/01
摘要: 本发明公开了一种称重电路及电子秤,涉及称重设备技术领域,所述称重电路包括:电容传感器,所述电容传感器用于将被测物的重量转换为电信号;信号发生电器,所述信号发生器用于向所述电容传感器提供工作电源;检测电路和主控单元,所述检测电路用于检测电容传感器测量被测物时输出的称重电信号,并将称重电信号放大后传输至主控单元,所述主控单元根据称重电信号计算出被测物的重量。相比传统的电容传感器检测电路而言,本申请的称重电路中的检测电路有更好的抗干扰能力,电路稳定性好,提高了称重电路的精度,从而提高了电子秤重量检测的精度。
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公开(公告)号:CN113841032B
公开(公告)日:2023-07-25
申请号:CN202080035887.1
申请日:2020-05-12
申请人: I·M·A·工业机械自动装置股份公司
发明人: 马尔科·米纳尔迪
摘要: 一种与自动处理机相关联的用于测量制品或制品的一部分的质量的质量测量仪器,包括:转移和夹持装置;致动器装置;传感器装置;处理单元,连接到传感器装置以及被布置成接收振动响应信号并控制致动器装置,以便生成该致动器装置的致动信号,以能够使支撑制品或制品的一部分的夹持元件以操作共振频率振动,然后通过将操作共振频率与夹持元件单独的共振频率进行比较来计算制品或制品的一部分的质量;或者替代地被布置成生成致动器装置的致动信号,以使支撑制品或制品的一部分的夹持元件以夹持元件单独的特定共振频率振动,并通过测量致动器装置的致动信号和由所述传感器装置检测的振动响应信号之间的操作相位差来计算制品或制品的一部分的质量。
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公开(公告)号:CN113841032A
公开(公告)日:2021-12-24
申请号:CN202080035887.1
申请日:2020-05-12
申请人: I·M·A·工业机械自动装置股份公司
发明人: 马尔科·米纳尔迪
摘要: 一种与自动处理机(50;60)相关联的用于测量制品(100;200)或制品的一部分(101)的质量(ma)的质量测量仪器(1),包括转移和夹持装置(2),该转移和夹持装置被布置成将制品(100;200)或制品的一部分(101)从自动处理机的移动设备(30;130)的相应座部(33;133)移除,以将制品(100;200)或制品的一部分(101)保持在测量位置(A;D3),然后将制品(100;200)或制品的一部分(101)重新插入到相应座部(33;133)中,转移和夹持装置(2)包括:适于将制品(100;200)或制品的一部分(101)保持在测量位置(A;D3)的至少一个夹持元件(3;7);致动器装置(13;6),致动器装置被布置成使用致动信号对夹持元件(3;7)进行操作,特别是用于使夹持元件以特定共振频率(f0)单独振动;传感器装置(4),传感器装置被配置用于测量在测量位置(A;D3)振动并支撑制品(100;200)或制品的一部分(101)的夹持元件(3;7)的振动响应信号;处理单元(15),该处理单元连接到传感器装置(4)以及被布置成接收振动响应信号并控制致动器装置(13;6),以便:生成该致动器装置的致动信号,以能够使支撑制品(100;200)或制品的一部分(101)的夹持元件(3;7)以操作共振频率(fm)振动,然后通过将操作共振频率(fm)与夹持元件(3;7)单独的共振频率(f0)进行比较来计算制品(100;200)或制品的一部分(101)的质量(ma);或者替代地被布置成生成致动器装置(13;6)的致动信号,以使支撑制品(100;200)或制品的一部分(101)的夹持元件(3;7)以夹持元件(3;7)单独的特定共振频率(f0)振动,并通过测量致动器装置(13;6)的致动信号和由所述传感器装置(4)检测的振动响应信号之间的操作相位差(Δφm)来计算制品(100;200)或制品的一部分(101)的质量(ma)。
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公开(公告)号:CN111351553B
公开(公告)日:2021-08-03
申请号:CN202010186923.6
申请日:2020-03-17
申请人: 大连理工大学
摘要: 本发明公开了一种基于模态局部化效应的高阶模态微质量传感器,属于微机电系统领域,包括第一固支梁、第二固支梁、上耦合电极Ⅰ、上耦合电极Ⅱ、下耦合电极Ⅰ、下耦合电极Ⅱ、固定电极Ⅰ、固定电极Ⅱ、耦合电压源和驱动电压源;第一固支梁两端分别通过固定端Ⅰ和固定端Ⅱ固定;第二固支梁两端分别通过固定端Ⅲ和固定端Ⅳ固定;上耦合电极Ⅰ和上耦合电极Ⅱ固定在第一固支梁的下表面两端;下耦合电极Ⅰ和下耦合电极Ⅱ固定在第二固支梁的上表面两端;第一固支梁的下表面和第二固支梁的上表面之间施加耦合电压源实现相对应的静电耦合连接;固定电极Ⅰ和固定电极Ⅱ分别与驱动电压源相连接;固定电极Ⅰ和固定电极Ⅱ固定在第二固支梁的下方,该发明结构简单,驱动方式易于调节,无需进行任何的结构优化,具有工艺简单,构型稳定易于加工等优点,因而可广泛应用在各个方面。
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公开(公告)号:CN110440883B
公开(公告)日:2021-04-02
申请号:CN201910653127.6
申请日:2019-07-19
申请人: 广州大学
摘要: 本发明公开了一种石英晶体微天平的静态电容补偿电路和方法,所述静态电容补偿电路包括电位控制单元、直流控制单元、静态电容补偿单元、信号衰减单元和信号采集单元;方案在电路中加入一变容二极管,通过直流控制单元控制变容二极管电容量的大小,对变容二极管施加一交流电压使得通过变容二极管的电流与流过石英晶体静态电容的电流大小相等,相互抵消,从而达到电容补偿的目的;由运算放大器和变容二极管构成电容补偿单元,对石英晶体静态电容进行精确补偿,实现静态电容的自动补偿,补偿准确度及稳定性良好。电容补偿范围为:2pF‑30pF,电容补偿精度±2pF。
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公开(公告)号:CN112539811A
公开(公告)日:2021-03-23
申请号:CN201910896665.8
申请日:2019-09-23
申请人: 崔学晨
摘要: 本发明提供一种用于气体检测的石英晶体微天平传感器,属于科学检测仪器领域。它包括传感器壳体和两个石英晶体片总成,所述传感器壳体为立方体,该壳体设置有贯通的气体通道和分别对称设置石英晶体片总成安装孔,该安装孔与气体通道轴向垂直并通透;所述两个石英晶体片总成具有相同结构,其一端为插接端,该插接端与传感器壳体的石英晶体片总成安装孔配合,在该插接端设置有石英晶体片插件,其另一端设置有电磁辐射屏蔽引线接口。本发明使安装和更换石英晶体片的操作更加方便,并可避免出现安装应力;使两个测量单元处于同一检测环境中,使之可以同步检测以消除系统误差提高测量的准确度。
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