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公开(公告)号：CN118891514A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202280090513.9
申请日：2022-11-29
申请人： 佳能安内华股份有限公司
发明人： 塚本健夫
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/04 , G01N23/2206
摘要： 一种检查装置，用于检查布置于检查面上的检查对象表面，所述检查装置包括：X射线产生管，具有包括通过被电子束照射而产生X射线的X射线产生部的标靶，并被配置为对所述检查面发射X射线；以及X射线检测器，被配置为检测从存在于被照射来自所述X射线产生部的X射线的所述检查对象表面上的异物发射并被所述检查对象表面全反射的X射线。所述X射线检测器具有不小于1keV的能量分辨率，或者所述X射线检测器不具有能量分析功能。
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公开(公告)号：CN118883602A
公开(公告)日：2024-11-01
申请号：CN202411062074.8
申请日：2024-08-05
申请人： 山东国创燃料电池技术创新中心有限公司
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2202
摘要： 本发明提供一种膜电极中催化层一致性的检测方法及其应用。所述检测方法包括以下步骤：(1)将催化剂、离聚物和溶剂混合，得到催化层浆料，然后将所述催化层浆料涂覆在载体上，干燥后形成催化层；(2)对所述催化层的不同位置中的Pt含量和S含量进行检测，得到不同位置下的Pt含量、S含量以及α，所述α为S含量和Pt含量的比值；(3)计算不同位置下所述Pt含量的相对偏差δpt、所述S含量的相对偏差δs以及所述α的相对偏差δα，用于表征膜电极中催化层的一致性。本发明提供的检测方法可以准确无误地表征得到膜电极中催化层的一致性。
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公开(公告)号：CN118858345A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410946159.6
申请日：2024-07-15
申请人： 宁夏北伏科技有限公司
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2204
摘要： 本发明公开了一种陶瓷件成分检测装置，壳体内设置有X射线发生器、分光装置和可开闭的测量腔，分光装置包括滤光组件、晶体分光器以及探测器，测量腔内设置有样品盘以及与样品盘传动连接的驱动装置，样品盘沿周向依次设置有多个样品承载件，样品盘接受驱动装置的驱动可使得各样品承载件依次旋转至检测位置，在检测位置，X射线发生器产生的X射线经过滤光组件后照射样品盘中的检测样品，探测器接收检测样品受激发产生的荧光X射线形成荧光光谱图。本发明提供的陶瓷件成分检测装置，可将陶瓷检测样品件依次安装在各样品承载件上，使得各样品承载件能够依次旋转至检测位置，依次对多个陶瓷检测样品件依次进行检测，提升检测的效率和准确性。
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公开(公告)号：CN110361410B
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN201910668743.9
申请日：2019-07-23
IPC分类号： G01N23/2204 , G01N23/223
摘要： 本发明涉及重金属检测零部件技术领域，公开了一种样品杯，包括主环体，在主环体内套设内杯，所述内杯上口大下口小，呈锥形，内杯的高度小于等于主环体的高度，在主环体的上端口或下端口用于固定覆盖透明薄膜。本发明在杯品杯中设置不同尺寸的内杯，使样品在测量时定位在样品杯的底部中间位置。
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公开(公告)号：CN118837396A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202411127514.3
申请日：2024-08-16
申请人： 天津大学
IPC分类号： G01N23/223 , G01N15/0205
摘要： 本发明公开一种三维图像辅助XRF光谱分析的磨粒颗粒度效应校正方法，S1.建立磨粒颗粒度效应校正模型：S2.利用磨粒颗粒度效应校正装置同时获取辐照区域内的磨粒三维图像和XRF光谱数据；S3.通过计算机处理磨粒三维图像，获得辐照区域内的磨粒形态参数；S4.通过计算机处理XRF光谱数据，获得磨粒内待分析元素的实际特征X射线荧光强度Ii'；S5.将磨粒形态参数代入磨粒颗粒度效应校正模型，获得待分析元素理论特征X射线荧光强度Ii；S4.根据Sherman方程计算待分析元素含量Ci，获得磨粒内待分析元素的含量，实现磨粒颗粒度效应校正。
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公开(公告)号：CN118837394A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202410866508.3
申请日：2024-07-01
申请人： 陕西省环境监测中心站
IPC分类号： G01N23/223
摘要： 本发明公开了一种X射线荧光光谱水体重金属走航船自动检测装置及方法，涉及环境污染检测技术领域。包括水样采集与预处理模块：通过自动采集水样，并对其进行必要的预处理，以去除杂质和干扰物质，确保水样适合进行后续的重金属检测。本发明通过设置的水样采集与预处理模块，能够确保采集到的水样具有代表性，同时去除水样中的杂质和干扰物质，从而提高后续X射线荧光光谱分析的准确性，水样采集与预处理模块可以自动完成水样的采集、处理和分析过程，无需人工干预，从而大大提高了检测效率，且可以实现水体重金属的连续检测，为水环境质量的实时监测和预警提供技术支持。
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公开(公告)号：CN112313506B
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN201880094863.6
申请日：2018-04-20
申请人： 美卓奥图泰芬兰有限公司
IPC分类号： G01N23/223 , B03B13/06 , G21K1/06 , C22B3/02 , G01T1/16
摘要： 一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴(204)的方向发射入射X射线(206)的X射线管(402)。浆料处理单元(201)被配置成维持浆料的样品(202)与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪(601、1501)相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位。其包括第一晶体(603、1502)和第一辐射检测器(602、1505)，该第一辐射检测器被配置成以第一能量分辨率检测由所述第一晶体(603、1502)衍射的荧光X射线。第二晶体衍射仪(1511)相对于所述浆料处理单元(201)沿第二方向定位。其包括第二晶体(1512)和第二辐射检测器(1515)，该第二辐射检测器被配置成以第二能量分辨率检测由所述第二晶体(1512)衍射的荧光X射线。所述第一晶体(603、1502)是热解石墨晶体，所述第二晶体(1512)包括热解石墨以外的材料，并且所述第一晶体衍射仪和所述第二晶体衍射仪被配置成将相同元素的特征荧光辐射导向至其相应的辐射检测器。
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公开(公告)号：CN118777351A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202410398082.3
申请日：2024-04-03
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 森久祐司
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2202
摘要： 本发明提供一种荧光X射线分析装置。荧光X射线分析装置具备试样台、第一壳体、X射线管、检测器以及真空调整机构。试样台用于配置试样。第一壳体设置于试样台的用于配置试样的一侧的第一面，与试样台一起形成试样室。检测器检测通过将从X射线管射出的初级X射线照射到试样室内的试样而从试样射出的荧光X射线。真空调整机构用于设定试样室的真空度。真空调整机构被设定为：使在试样为液体的情况下的试样的分析中的试样室的真空度成为相比于试样为固体的情况而言低的真空度。
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公开(公告)号：CN118746360A
公开(公告)日：2024-10-08
申请号：CN202410784873.X
申请日：2024-06-18
申请人： 跃迁科技(天津)有限公司
发明人： 赵晓仿
IPC分类号： G01J3/44 , G01J3/443 , G01N23/223
摘要： 本发明公开了一种能量色散X射线荧光光谱仪及其校正方法，涉及光谱仪技术领域，本发明包括控制系统，所述控制系统包括数据模块和分析模块，所述数据模块包括获取模块和上传模块，所述获取模块具体为获取光谱仪运行数据，所述获取模块获取数据至少包括环境数据、光谱信号和设备运行参数数据，本发明中可对运行过程中的光谱仪受到影响的环境和光谱信号进行诊断，判定光谱仪在不同的运行条件下是否存在异常，以实现进行运行监测的目的，同时可对光谱信号进行滤波和修正处理，使光谱数据的稳定性和可靠性得到进一步的提高，提高了光谱仪的精确度。
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公开(公告)号：CN118671118A
公开(公告)日：2024-09-20
申请号：CN202410746967.8
申请日：2024-06-11
申请人： 西安热工研究院有限公司
IPC分类号： G01N23/2206 , G01N23/223 , G01N23/2055 , G01N23/207
摘要： 本发明提供一种测定煤灰中组分含量的方法，包括：S1，对煤灰进行XRF测试，确定煤灰所含元素种类；S2，对煤灰进行XRD测试，得到第一XRD谱图；根据第一XRD谱图判断煤灰中是否含有非晶相物质，若含有非晶相物质，采用内标法对内标物和煤灰组成的混合物进行XRD测试，得到第二XRD谱图，以第二XRD谱图作为煤灰XRD谱图，否则，以第一XRD谱图作为煤灰XRD谱图；S3，依据S1确定的元素种类对S2中煤灰XRD谱图的衍射峰进行相对应化合物的匹配，得到化合物的种类；S4，利用Rietveld/XRD全谱拟合方法处理煤灰XRD谱图，计算各化合物的相对含量占比。相比于传统化学法检测，本发明方法具有检测周期短、操作简便、分析速度快等优点。
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