一种准确判定白钨矿稀土元素替代机制的方法

    公开(公告)号:CN114674912B

    公开(公告)日:2024-08-06

    申请号:CN202210329735.3

    申请日:2022-03-31

    申请人: 中南大学

    发明人: 刘飚 吴锟言 蒋华

    摘要: 本发明提供了一种准确判定白钨矿稀土元素替代机制的方法,包括如下步骤:将白钨矿抛光,得到样品;拍摄样品CL图像,观察其形态及结构;开展微量元素点分析及稀土元素面分析;开展主量元素点分析,对不同主量元素特征的白钨矿进行X‑单晶衍射测试;根据Ca2+离子半径计算得出稀土元素中最优替代元素并与实际测试得出的稀土元素配分曲线进行对比;半定量观察特征元素与稀土元素总量的相关关系,判别替代机制;结合稀土元素原子数总量与Na,Nb原子数的相关性、晶体结构以及由晶胞参数计算得出的最优替代稀土元素,揭示白钨矿中稀土元素的替代机制;本发明从元素相关性的间接判别改进成原位微量结合晶体结构和晶格参数的定量分析。

    基于能量特征测量来对样本进行非破坏性分类

    公开(公告)号:CN118408965A

    公开(公告)日:2024-07-30

    申请号:CN202410128707.4

    申请日:2024-01-30

    IPC分类号: G01N23/2252

    摘要: 本文公开了一种用于对样本进行非破坏性分类的系统。所述系统包括电子束源、X射线测量模块和计算模块。电子束源被配置为以一个或多个电子束着陆能量将电子束投射到样本上,以便穿透样本并且引起X射线的发射。X射线测量模块被配置为测量所发射的X射线。计算模块被配置为处理测量数据以获得样本中包括的至少一个目标物质的能量特征,并且基于所获得的能量特征和分别与一个或多个参考样本相关的一个或多个参考能量特征对已检查的样本进行分类。

    EDX方法
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN112577986B

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202011036541.1

    申请日:2020-09-27

    IPC分类号: G01N23/2252

    摘要: 一种EDX方法,包括:基于x射线辐射检测器的输出,生成具有多个图像元素的图像;向每个图像元素分配至少一组化学元素和这些化学元素的相对比例;确定两个图像元素子集;确定两个过滤器,这些过滤器从该图像元素的该组化学元素中选择预定子集;利用该第一过滤器和该第二过滤器分别过滤该图像元素的这些化学元素;基于过滤后的化学元素子集确定这些图像元素的代表性特征;以及使用这些代表性特征在显示设备上表示该图像元素。

    用于夹杂物分析的方法和系统

    公开(公告)号:CN111829992B

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202010218468.3

    申请日:2020-03-25

    申请人: FEI 公司

    摘要: 用于夹杂物分析的方法和系统。提供了用于分析样品夹杂物的各种方法和系统。作为一个实例,可以基于由光发射光谱(OES)系统和带能量色散X射线光谱法的带电粒子显微镜(CPM/EDX)系统两者确定的第一样品的夹杂物特性来生成校正因子。可以利用所述校正因子来校准所述OES系统。可以使用经过校准的OES系统确定不同的第二样品的夹杂物特性。

    一种改进型铀矿全岩U-Pb同位素定年方法

    公开(公告)号:CN117030772A

    公开(公告)日:2023-11-10

    申请号:CN202310818157.4

    申请日:2023-07-05

    发明人: 朱斌 东前 吴玉

    摘要: 本发明属于放射性测年领域,具体涉及一种改进型铀矿全岩U‑Pb同位素定年方法,包括:步骤1、利用放射性探测仪采集样品;步骤2、实验前处理;步骤3、EPMA分析,划分铀成矿阶段;步骤4、全岩粉末U‑Pb同位素测量;步骤5、铀‑镭平衡分析,判定是否需要采用铀镭平衡系数进行铀含量校正;步骤6、铀成矿年龄计算。本发明方法能够准确测定铀矿全岩铀成矿年龄。

    一种用于芯片框架开发新产品的成分分析方法

    公开(公告)号:CN116953007A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202311205921.7

    申请日:2023-09-19

    摘要: 本发明提供一种用于芯片框架开发新产品的成分分析方法,包括:获取芯片框架样品;对芯片框架样品做横断面处理;将横断面处理后的芯片框架样品放入扫描电镜与能谱仪,进行N次能谱映射后,获得芯片框架样品的成分分析粗略结果;其中,所述N次能谱映射包括至少一次对芯片框架样品的整体进行能谱映射以及至少一次对芯片框架样品的局部进行能谱映射;对芯片框架样品的成分分析粗略结果进行筛选,得到芯片框架样品的成分分析精确结果。本发明结合横断面处理和多次能谱映射实现了用于芯片框架开发新产品的成分分析,对未知芯片框架成分分析调研有很重要的作用,能够帮助研发新产品时确定调研的芯片框架的成分信息。

    基于微腔激光的PUF器件
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN113758956B

    公开(公告)日:2023-10-10

    申请号:CN202110966993.8

    申请日:2021-08-23

    IPC分类号: G01N23/2252 G02B27/09

    摘要: 本发明公开了一种基于微腔激光的光学PUF,包括衬底以及生长于衬底表面密度、位置、尺寸、形貌、接触数目随机变化的半导体微球。本发明利用半导体微球优异的增益与谐振特性,在较低泵浦阈值下实现高品质窄线宽单模微腔激光输出。基于半导体微腔对激光波长的调制,本发明利用微球制备工艺过程中微球特征的随机多样性可实现高强度窄线宽激射峰构成的随机光谱响应,具有硬件指纹特征,不可克隆的制备随机性与不可预测的激励——响应物理机制使得本光学PUF难以被逆向破解与复制篡改。因此,本发明提出的光学PUF是一种安全的物理不可克隆功能器件。

    一种淡水淋滤成因铝土岩溶孔的判识方法

    公开(公告)号:CN116818755A

    公开(公告)日:2023-09-29

    申请号:CN202211585606.7

    申请日:2022-12-09

    申请人: 西北大学

    摘要: 本发明提供了一种淡水淋滤成因铝土岩溶孔的判识方法。采集含孔的铝土岩样品磨制铸体薄片。使用偏光显微镜在铸体薄片中寻找疑似鲕绿泥石和溶孔,并确定它们形成的先后顺序。挑选形成于溶孔之后的疑似鲕绿泥石开展电子探针测试,识别出真正的鲕绿泥石。形成于真正鲕绿泥石之前的溶孔即为淡水淋滤成因。该方法简单高效,为铝土岩溶孔成因判识难题的解决提供了一条技术途径,应用前景广阔。