公开(公告)号：CN114002589B

公开(公告)日：2024-09-03

申请号：CN202111286497.4

申请日：2021-11-02

申请人： 苏州纳芯微电子股份有限公司

发明人： 于亮 ,  陈奇辉 ,  李浴江 ,  陈润乾 ,  夏丽娜 ,  诸弘超

IPC分类号： G01R31/317 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/54

摘要： 本发明揭示了一种数字隔离单元故障检测方法及检测系统，所述数字隔离单元包括输入侧和输出侧，所述数字隔离单元故障检测方法包括：向所述输入侧和所述输出侧施加共模干扰信号；向所述输入侧施加输入电平信号，并对应接收所述输出侧的输出电平信号；当所述输入电平信号和所述输出电平信号不一致时，输出故障信号。本发明提供的数字隔离单元故障检测方法，通过向输入侧和输出侧施加共模干扰信号，不仅能够测试数字隔离单元的共模干扰能力，也能够通过输出信号判断数字隔离单元的输入侧和输出侧之前是否发生断线，从而提升检测效率和出厂产品的良品率。

公开(公告)号：CN118501675A

公开(公告)日：2024-08-16

申请号：CN202410479510.5

申请日：2024-04-19

申请人： 苏州元脑智能科技有限公司

发明人： 高思明

IPC分类号： G01R31/3181 ,  G01R31/3183 ,  G01R31/40

摘要： 本发明实施例提供了一种数字电源测试系统，系统包括控制机和数字电源，控制机与数字电源通信连接，数字电源包括多个寄存器组，寄存器组包括多个寄存器，寄存器组中的多个寄存器分别存储对应一个测试项的多组测试参数：控制机用于：获取多个测试项并从中确定一个目标测试项；从目标测试项对应的多组测试参数中确定目标测试参数；向数字电源发送第一测试指令以使数字电源根据目标测试参数进行测试；获取数字电源的测试结果并判断是否测试通过；若测试不通过，则重新确定目标测试参数进行测试；若测试通过，则重新确定一个目标测试项进行测试。通过本发明实施例可以实现多个测试项的自动测试。

公开(公告)号：CN118393331A

公开(公告)日：2024-07-26

申请号：CN202410091865.7

申请日：2024-01-23

申请人： 意法半导体国际公司

发明人： V·N·斯瑞尼瓦桑 ,  U·C·斯瑞瓦斯塔瓦 ,  S·K·瓦茨 ,  M·沙尔马

IPC分类号： G01R31/317 ,  G01R31/3181 ,  G01R31/3183 ,  G01R31/319

摘要： 本公开涉及面积、成本和时间有效的扫描覆盖改进。根据实施例，数字电路包括OR门和触发器。OR门包括第一输入和第二输入。OR门的第一输入耦接到控制信号，并且OR门的第二输入耦接到数字电路的未覆盖的功能组合逻辑。OR门的第一输入被配置为响应于将数字电路设置为测试未覆盖的功能组合逻辑的配置而被控制信号拉低。触发器包括耦接到OR门的输出的重置引脚或设置引脚。触发器的输出被配置为在未覆盖的功能组合逻辑的测试期间被观察以检测数字电路中的缺陷。

公开(公告)号：CN113098435B

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202110367341.2

申请日：2021-04-06

申请人： 中国科学院上海微系统与信息技术研究所

发明人： 任洁 ,  陈理云 ,  应利良 ,  王镇

IPC分类号： H03H9/72 ,  G01R31/3181

摘要： 本发明提供一种超导高频降频模块和方法，接收高频时钟信号，将所述高频时钟信号转换成降频时钟子信号和二倍时钟信号，基于二倍时钟信号进行复位，对测试信号进行周期性选择抽样，从而将所述测试信号转换为降频测试信号；本发明还提供一种超导高频测试系统和方法基于线性反馈移位寄存器进行实现；本发明的电路结构相对比较简单；可以实现持续性的高频测试，更符合待测电路的实际工作情况；数据降频系统通过对输出的GHz级别的高频信号进行降频处理，将频率降低到KHz级别，可以直接输出，简化了整个测试系统。

公开(公告)号：CN117783819A

公开(公告)日：2024-03-29

申请号：CN202311812424.3

申请日：2023-12-23

申请人： 杭州市电子信息职业学校

发明人： 许倩倩

IPC分类号： G01R31/28 ,  G01R31/3181 ,  G01R1/04 ,  G01R1/02 ,  B08B5/04

摘要： 本发明涉及计算机硬件主板性能检测技术领域，更具体地说，是一种计算机硬件主板性能检测装置，包括底座、控制箱、输送带、顶盖、所述输送带活动设置在底座上，顶盖设置在底座的一侧且两者连接，所述底座上位于输送带的两侧对称设置有调位板，所述控制箱设置在底座上，所述检测装置还包括：动力元件，设置在底座上且其输出端和输送带连接；调向系统，设置在底座上且位于输送带的一侧，用于检测主板的面向并推向输送带上；以及检测系统，设置在顶座和底座之间；实现对主板表面灰尘的清洁工作，避免灰尘对检测过程造成影响，无需工作人员手动清洁，整个装置自动化程度高。

公开(公告)号：CN117723948A

公开(公告)日：2024-03-19

申请号：CN202311516894.5

申请日：2023-11-14

申请人： 上海云攀半导体有限公司

发明人： 王超然 ,  请求不公布姓名

IPC分类号： G01R31/3181 ,  G01R31/319

摘要： 本发明实施例涉及自动测试技术领域，公开了一种自动工装校准方法、装置、电子设备及存储介质。本发明中，获取了频率不同于电路正常工作频率信号作为参考信号；根据参考信号的频点调节待校准芯片的内部电路中的输入隔直电容的电容值以使待校准芯片内部电路在PVT波动时，对参考信号与工作信号的响应保持一致，根据待校准芯片内部电路对所述参考信号的响应，对待校准芯片内部电路进行校准；利用频率不同于电路正常工作频率信号作为参考信号，这样就可以降低工装测试校准时对外部仪器种类以及数量的需求，任意时间内对模块做到实时检测，使得该模块完全不再需要对工装测试校准，进而降低了产品的整体生产周期以及对产品进行工装测试时的成本。

公开(公告)号：CN117434430A

公开(公告)日：2024-01-23

申请号：CN202311567132.8

申请日：2023-11-22

申请人： 深圳市航顺芯片技术研发有限公司

发明人： 刘吉平 ,  刘洋 ,  王翔 ,  郑增忠

IPC分类号： G01R31/3181

摘要： 本申请实施例公开了一种MCU测试电路和MCU测试方法，其中，该MCU测试电路包括主控MCU、待测MCU、LDO电路、电压调整电路和电压采集电路，主控MCU具有ADC输入引脚、DAC输入/输出引脚、通用输入引脚和通用输出引脚，主控MCU用于通过DAC输入/输出引脚和电压调整电路对LDO电路的输出电压进行调整，以及通过ADC输入引脚和电压采集电路对LDO电路的输出电压进行采集，从而对LDO电路进行闭环控制，以实现对待测MCU的PMU进行高精度测试。本方案可以提高对待测MCU的PMU监控处理功能的测试效率。

公开(公告)号：CN117192344B

公开(公告)日：2024-01-09

申请号：CN202311461118.X

申请日：2023-11-06

申请人： 东莞市新易讯时代通信有限公司

发明人： 周新 ,  凌乐 ,  李克磊

IPC分类号： G01R31/3181 ,  G01R23/167 ,  G01R23/20

摘要： 本发明涉及数据处理技术领域，提出了一种数字滤波器的检测方法及系统，获取离散时间信号；将离散时间信号输入数字滤波器得到频域信号，根据频域信号各采样点的频率增益得到各采样点的频率增益差异矩阵，获取频率增益差异矩阵的增益偏移序列，根据增益偏移序列得到各采样点的增益偏移波动系数，根据频域信号的能量分布得到能量差异系数，根据频域信号的增益偏移波动系数及能量差异系数得到数字滤波器的频率失真程度，根据数字滤波器的频率失真程度、幅度失真程度及非线性失真程度得到数字滤波器的故障程度指标，实现数字滤波器的检测。本发明旨在提高数字滤波器的检测性能，实现数字滤波器的精确检测。

公开(公告)号：CN117330942A

公开(公告)日：2024-01-02

申请号：CN202311611017.6

申请日：2023-11-29

申请人： 珠海市芯动力科技有限公司

发明人： 戴林颖 ,  朱建斌 ,  李原

IPC分类号： G01R31/317 ,  G01R31/3181

摘要： 本申请提供了一种芯片调试方法及相关装置，应用于目标芯片的并行处理器，方法包括：获取标准工作电压下配置在双数据速率物理层接口模块中的参考窗口参数；通过双数据速率物理层接口模块执行读写测试，以判断目标芯片能否在第一电压波动范围内正确读写；若不能正确读写，则检测目标芯片中所有功能模块的工作电压波动范围；若检测到双数据速率物理层接口模块的工作电压波动范围为第二电压波动范围，则调整参考窗口参数，以使得目标芯片能够在第一电压波动范围内正确读写。如此，解决了已经按照原有设计生产的目标芯片无法在较大的电压波动下正确读写的问题，极大提高了已制板生产的包含目标芯片的PCB板卡的良品率。

公开(公告)号：CN117250486A

公开(公告)日：2023-12-19

申请号：CN202311230648.3

申请日：2023-09-22

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 张钊 ,  亓学庆 ,  李涛 ,  张博 ,  田磊 ,  王钢

IPC分类号： G01R31/3181 ,  G01R31/317

摘要： 本发明公开了一种ADC模块的采集状态检测方法及控制器、电力设备，其中，方法包括：控制ADC模块在预设转换时间内进行模数转换得到转换结果，并获取ADC模块的实际转换时间；在预设读取时间内控制ADC模块以读取转换结果，并获取转换结果的实际读取时间；根据预设转换时间、实际转换时间、预设读取时间和实际读取时间，确定ADC模块的采集状态。该方法能够准确地检测出ADC模块的采集状态是否正确，且方法简单易于实现，适用性较高。