公开(公告)号：EP2439716B1

公开(公告)日：2013-11-13

申请号：EP11180655.0

申请日：2011-09-09

Applicant: Ricoh Company, Ltd.

Inventor： Xue, Li ,  Hirai, Hideaki

IPC: G08G1/16 ,  G01J4/00 ,  G06K9/20 ,  G01N21/21 ,  G06T5/00 ,  G01J3/453 ,  G01J3/447 ,  G01J9/02 ,  G01J3/28 ,  G01N21/31 ,  G06K9/00 ,  G06T5/50 ,  G01J3/02

CPC classification number: G08G1/16 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/28 ,  G01J3/447 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0246 ,  G01N21/314 ,  G06K9/00798 ,  G06K9/00805 ,  G06K9/00825 ,  G06K9/2018 ,  G06T5/002 ,  G06T5/50 ,  G08G1/165 ,  G08G1/166 ,  G08G1/167

公开(公告)号：EP2638370A1

公开(公告)日：2013-09-18

申请号：EP11784566.9

申请日：2011-11-07

Applicant: Thermo Electron Scientific Instruments LLC

Inventor： COFFIN, John, Magie

IPC: G01J3/453 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01J3/453

Abstract: A novel means of provided velocity control of an interferometer wherein one of the moving components includes the beamsplitter element is introduced herein. Using a moving beamsplitter and coupled flexure mounting allows improved velocity control because the low mass of the beamsplitter enables the systems disclosed herein to respond faster than conventional mirror velocity controlled interferometer instruments with a resultant lower velocity error so as to provide a more stable and lower noise spectra from the analytical instrument. The control of the velocity of the beamsplitter and if desired, one or both of the configured mirrors, reduces the time wasted changing velocity at the ends of each scan. The result is an increase in data collection available in any given experiment time frame. Such desirable arrangements of the present invention thus allow scans to be collected at higher rates, which beneficially increase the ability to monitor rapidly changing systems.

公开(公告)号：EP1793212B1

公开(公告)日：2013-08-07

申请号：EP06291833.9

申请日：2006-11-28

Applicant: ASTRIUM SAS

Inventor： Pasternak, Frédérick

IPC: G01J3/453 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/453

公开(公告)号：EP1681993B1

公开(公告)日：2013-07-10

申请号：EP04816892.6

申请日：2004-09-23

Applicant: Cambridge Research & Instrumentation, Inc.

Inventor： LEVENSON, Richard, M. ,  CRONIN, Paul, J. ,  GOSSAGE, Kirk, William ,  HOYT, Clifford, C.

IPC: A61B5/00

CPC classification number: G01N33/4833 ,  A61B5/0059 ,  B82Y5/00 ,  B82Y10/00 ,  G01J3/32 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/453 ,  G01N21/255 ,  G01N21/6486 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/125

公开(公告)号：EP1757223B1

公开(公告)日：2013-02-13

申请号：EP06014263.5

申请日：2004-09-23

Applicant: Cambridge Research & Instrumentation, Inc.

Inventor： Levensson, Richard M. ,  Gossage, Kirk William ,  Cronin, Paul J. ,  Hoyt, Clifford C.

IPC: A61B5/00

CPC classification number: G01N33/4833 ,  A61B5/0059 ,  B82Y5/00 ,  B82Y10/00 ,  G01J3/32 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/453 ,  G01N21/255 ,  G01N21/6486 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/125

公开(公告)号：EP2366986A1

公开(公告)日：2011-09-21

申请号：EP11156249.2

申请日：2011-02-28

Applicant: CENTRE NATIONAL D'ETUDES SPATIALES

Inventor： Pierangelo, Clémence ,  Buil, Christian

IPC: G01J3/453

CPC classification number: G01J3/453 ,  G01J3/4531 ,  G01J3/4532

Abstract: L'invention concerne un procédé de métrologie d'un interféromètre (1) statique comprenant une lame (3) séparatrice apte à séparer un faisceau incident (2) vers un premier (M1) et un deuxième miroirs (M2), le premier miroir (M1) présentant N surfaces (S 1 , S 2 , S 3 ... ,S N ) réfléchissantes sensiblement planes et parallèles entre elles, lesdites surfaces étant décalées entre elles et réalisant N premières hauteurs de marche (h M1 (x)), le deuxième miroir (M2) présentant M surfaces (S' 1 , S' 2 , S' 3 ... ,S' M ) réfléchissantes sensiblement planes et parallèles entre elles, lesdites surfaces étant décalées entre elles et réalisant M deuxièmes hauteurs de marche (h M2 (y)), les hauteurs de marche (h M1 (x),h M2 (y)) correspondant à la distance entre chaque surface (S 1 , S 2 , S 3 ... ,S N , S' 1 , S' 2 , S' 3 ... ,S' M ) et la lame (3), de sorte que les deux miroirs (M1,M2) fournissent une pluralité de faisceaux réfléchis présentant entre eux des différences de chemin optique (δ(x,y)) égales aux N*M sommes croisées des premières hauteurs de marche (h M1 (x)) et des deuxièmes hauteurs de marche (h M2 (y)), ledit procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend au moins les étapes consistant à :
- acquérir un interférogramme d'intensité (I(x,y)) à partir d'un faisceau (2) incident monochromatique,
- estimer (22) lesdites N+M premières et deuxièmes hauteurs de marche (h M1 (x);h M2 (y)) par résolution d'un système d'équations liant l'intensité I(x,y) mesurée aux N+M premières et deuxièmes hauteurs de marche, ledit système exploitant les corrélations et dépendances géométriques des miroirs,
- déduire (23) les N*M différences de chemin optique (δ(x,y)) à partir des N+M premières et deuxièmes hauteurs de marche.

Abstract translation: 该方法涉及从单色入射光束获取强度干涉图，其中入射光束朝向静态干涉仪（1）的反射镜（M1，M2）发射。 前一镜的表面（S1，S2，S3）的工作高度通过求解将测量强度与操作高度相关联的方程系统来估计，其中系统利用反射镜的相关性和几何依赖性。 干涉仪的光程差来自前镜的表面的估计操作高度。

公开(公告)号：EP1192411B1

公开(公告)日：2011-05-25

申请号：EP00923200.0

申请日：2000-04-11

Applicant: PLX Inc.

Inventor： BLEIER,Zvi ,  VISHNA, Itai

IPC: G01B9/02 ,  G01J3/45

CPC classification number: G01B9/02051 ,  G01B9/02056 ,  G01B9/0209 ,  G01B2290/15 ,  G01J3/453 ,  G02B5/122 ,  G02B27/14

Abstract: In accordance with the invention, an improved optical assembly (200) having a monolithic structure is provided. The monolithic optical assembly (200) is useful in interferometers to achieve a fringe effect in a Fourier transform spectrometer, and comprises top (260) and bottom members (270) which are joined into a monolithic structure by first (210) and second support members (220) and a beamsplitter (130). The assembly also comprising a first reflecting assembly (140) in reflecting relation with the beamsplitter (130). An alternate embodiment of the invention has an added reflecting assembly (150) in reflecting relation with the first reflecting assembly (140) and the beamsplitter assembly (130), which allows for the use of multiple wavelength light sources to achieve a fringe effect in a Fourier transform spectrometer.

公开(公告)号：EP2309236A1

公开(公告)日：2011-04-13

申请号：EP10186483.3

申请日：2010-10-05

Applicant: Thales

Inventor： Degrelle, Cyril

IPC: G01J3/453 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01J3/453 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0291 ,  G01N21/3518 ,  G01N2021/3595

Abstract: La présente invention concerne un système optique pour spectromètre à transformée de Fourier destiné à des missions de sondage atmosphérique et comprenant un interféromètre.
Le système optique selon l'invention comprend un dispositif optique apte à rapprocher les projections des points de sondage (P0, P1' à P8') du centre du champ de l'interféromètre.
Ce système présente notamment l'avantage de permettre augmentation de la capacité d'étendue des interféromètres tout en conservant l'étendue géométrique de chaque point de sondage.

Abstract translation: 该系统具有望远镜，以将一组光束即对应于大气测量点的入射光束引向干涉仪。 干涉仪包括对应于光束的场，其中场具有中心。 调查点对应于现场勘测点的预测（P0-P8）。 由反射镜形成的光学装置使得干涉仪的场中心的测量点的投影分别对应于点（P1'-P8'）。

公开(公告)号：EP2280256A1

公开(公告)日：2011-02-02

申请号：EP10182358.1

申请日：2004-09-08

Applicant: The General Hospital Corporation

Inventor： Yun, Seok Hyun, Ph. D. ,  Bouma, Brett Eugene, Ph. D. ,  Tearney, Guillermo J., MD, Ph. D. ,  Boer, Johannes Fitzgerald de, Ph. D.

IPC: G01J3/18 ,  H01S3/10 ,  G01B9/02

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

Abstract: An apparatus and method are provided. In particular, at least one first electro-magnetic radiation may be provided to a sample and at least one second electro-magnetic radiation can be provided to a non-reflective reference. A frequency of the first and/or second radiations varies over time. An interference is detected between at least one third radiation associated with the first radiation and at least one fourth radiation associated with the second radiation. Alternatively, the first electro-magnetic radiation and/or second electro-magnetic radiation have a spectrum which changes over time. The spectrum may contain multiple frequencies at a particular time. In addition, it is possible to detect the interference signal between the third radiation and the fourth radiation in a first polarization state. Further, it may be preferable to detect a further interference signal between the third and fourth radiations in a second polarization state which is different from the first polarization state. The first and/or second electro-magnetic radiations may have a spectrum whose mean frequency changes substantially continuously over time at a tuning speed that is greater than 100 Tera Hertz per millisecond.

Abstract translation: 提供了一种装置和方法。 特别地，可以向样品提供至少一个第一电磁辐射，并且可以向非反射参考提供至少一个第二电磁辐射。 第一和/或第二辐射的频率随时间变化。 在与第一辐射相关联的至少一个第三辐射与与第二辐射相关联的至少一个第四辐射之间检测到干扰。 或者，第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的光谱。 频谱可以在特定时间包含多个频率。 此外，可以在第一偏振状态下检测第三辐射与第四辐射之间的干涉信号。 此外，优选地，在与第一偏振状态不同的第二偏振状态下，检测第三和第四辐射之间的另外的干涉信号。 第一和/或第二电磁辐射可以具有在每毫秒大于100Tera赫兹的调谐速度下，其平均频率随时间而基本连续变化的频谱。

公开(公告)号：EP2278287A1

公开(公告)日：2011-01-26

申请号：EP10182341.7

申请日：2004-09-08

Applicant: The General Hospital Corporation

Inventor： Yun, Seok Hyun, Ph. D. ,  Bouma, Brett Eugene, Ph. D. ,  Tearney, Guillermo J., MD, Ph. D. ,  Boer, Johannes, Fitzgerald de, Ph. D.

IPC: G01J3/18 ,  H01S3/10 ,  G01B9/02

CPC classification number: H01S5/5045 ,  A61B5/0059 ,  A61B5/0066 ,  A61B5/7257 ,  G01B9/02002 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02043 ,  G01B9/02075 ,  G01B9/02081 ,  G01B9/02083 ,  G01B9/02084 ,  G01B9/0209 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/45 ,  G01B2290/70 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/453 ,  G01J9/0215 ,  G01N21/4795 ,  G02B6/3604 ,  G02B26/12 ,  G02B27/48 ,  G02F1/093 ,  G02F1/11 ,  H01S3/0071 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/08009 ,  H01S3/08063 ,  H01S3/105 ,  H01S3/1068 ,  H01S5/0071 ,  H01S5/0078 ,  H01S5/1025 ,  H01S5/14 ,  H01S5/141 ,  H01S5/146

Abstract: An apparatus and method are provided. In particular, at least one first electro-magnetic radiation may be provided to a sample and at least one second electro-magnetic radiation can be provided to a non-reflective reference. A frequency of the first and/or second radiations varies over time. An interference is detected between at least one third radiation associated with the first radiation and at least one fourth radiation associated with the second radiation. Alternatively, the first electro-magnetic radiation and/or second electro-magnetic radiation have a spectrum which changes over time. The spectrum may contain multiple frequencies at a particular time. In addition, it is possible to detect the interference signal between the third radiation and the fourth radiation in a first polarization state. Further, it may be preferable to detect a further interference signal between the third and fourth radiations in a second polarization state which is different from the first polarization state. The first and/or second electro-magnetic radiations may have a spectrum whose mean frequency changes substantially continuously over time at a tuning speed that is greater than 100 Tera Hertz per millisecond.

Abstract translation: 提供了一种装置和方法。 特别地，可以向样品提供至少一个第一电磁辐射，并且可以向非反射参考提供至少一个第二电磁辐射。 第一和/或第二辐射的频率随时间变化。 在与第一辐射相关联的至少一个第三辐射与与第二辐射相关联的至少一个第四辐射之间检测到干扰。 或者，第一电磁辐射和/或第二电磁辐射具有随时间变化的光谱。 频谱可以在特定时间包含多个频率。 此外，可以在第一偏振状态下检测第三辐射与第四辐射之间的干涉信号。 此外，优选地，在与第一偏振状态不同的第二偏振状态下，检测第三和第四辐射之间的另外的干涉信号。 第一和/或第二电磁辐射可以具有在每毫秒大于100Tera赫兹的调谐速度下，其平均频率随时间而基本连续变化的频谱。