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    SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING AN OBJECT USING X-RAY PROJECTIONS
    15.
    发明公开
    SYSTEM AND METHOD FOR MEASURING AN OBJECT USING X-RAY PROJECTIONS 审中-公开
    使用X射线投影来测量对象的系统和方法

    公开(公告)号：EP3201564A1

    公开(公告)日：2017-08-09

    申请号：EP15778442.2

    申请日：2015-09-22

    申请人： Hexagon Metrology, Inc

    发明人： O'HARE, Jonathan J.

    IPC分类号： G01B15/00 ,  G06T17/00 ,  G01N23/203

    CPC分类号： G01N23/046 ,  G01B15/00 ,  G01N2223/645 ,  G06T17/20

    摘要： An apparatus and method of measuring an object (having at least two edges) projects a plurality of x-ray images of the object. At least two of the plurality of x-ray images are projected from different directions relative to the object. The apparatus and method also locate the at least two edges in the x-ray images, and ray trace a plurality of lines. Each ray traced line is tangent to at least one point on at least one of the located edges. Next, the apparatus and method reconstruct at least a partial wireframe model of the object from the tangent points of the ray traced lines. The wireframe model includes the at least two edges. Finally, the apparatus and method measure between the at least two edges of the at least partial wireframe model.

    摘要翻译： 测量物体（具有至少两个边缘）的装置和方法投影物体的多个X射线图像。 多个X射线图像中的至少两个相对于物体从不同方向投影。 该设备和方法还将X射线图像中的至少两个边缘定位，并且射线追踪多条线。 每条射线跟踪线与至少一个定位边缘上的至少一个点相切。 接下来，该设备和方法从射线追踪线的切点重建对象的至少部分线框模型。 线框模型包括至少两个边缘。 最后，该装置和方法在至少部分线框模型的至少两个边缘之间进行测量。

    Mikrostrukturanalyse zur Qualitätskontrolle für TiAl-Bauteile
    17.
    发明公开
    Mikrostrukturanalyse zur Qualitätskontrolle für TiAl-Bauteile 有权
    Mikrostrukturanalyse zurQualitätskontrollefürTiAl-Baustile

    公开(公告)号：EP2720032A1

    公开(公告)日：2014-04-16

    申请号：EP12188308.6

    申请日：2012-10-12

    申请人： MTU Aero Engines AG

    发明人： Dr. Heutling, Falko ,  Dr Helm, Dietmar

    IPC分类号： G01N23/207 ,  C22F1/18

    CPC分类号： C22F1/183 ,  G01N23/207 ,  G01N2223/605 ,  G01N2223/645

    摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Qualitätskontrolle von Bauteilen, die einer Wärmebehandlung unterzogen werden, wobei die Bauteile ein Gefüge aufweisen, welches mindestens eine Phase umfasst, die in mindestens zwei unterschiedlichen Formen im Gefüge der Bauteile vorliegt, und wobei mindestens ein Bauteil oder eine in Bezug auf das Material identische Probe einem Wärmebehandlungsschritt unterzogen werden, bei dem das Bauteil oder die Probe bei einer Temperatur ausgelagert werden, bei der die Phase in einer einzigen Form im Gefüge vorliegt und wobei der Gefügezustand bei der Wärmebehandlungstemperatur durch Abschrecken des Bauteils oder der Probe von der Temperatur des Wärmebehandlungsschritts eingefroren wird, und wobei die Probe oder das Bauteil in diesem Zustand nach dem Abschrecken einer Untersuchung mittels Röntgenbeugung unterzogen werden, um qualitativ und/oder quantitativ die Phase zu identifizieren.

    摘要翻译： 该方法包括使组分相对于材料样品进行热处理，使得组分或样品在一定温度下老化。 在淬火组分形成的热处理温度s中的相中，微观结构和微观结构呈单相形式。 样品在热处理中冷冻。 在通过X射线衍射进行研究淬火以定性或定量地鉴定相之后，对样品或组分进行处理。

    EXAMINATION APPARATUS
    19.
    发明公开
    EXAMINATION APPARATUS 有权
    UNTERSUCHUNGSGERÄT

    公开(公告)号：EP2194374A1

    公开(公告)日：2010-06-09

    申请号：EP08834624.2

    申请日：2008-09-22

    申请人： Ishida Co., Ltd.

    发明人： KABUMOTO, Takashi ,  HIROSE, Osamu

    IPC分类号： G01N23/04

    CPC分类号： G01N23/04 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/89 ,  G01N2223/645

    摘要： An X-ray inspection apparatus (10) is equipped with an X-ray irradiator (13), an X-ray line sensor (14), an image generating component (21a), a region identifying component (21b), a weight estimating component (2 1 c) and a weight determining component (2 1 d) and inspects a chain of connected packages (M) including a plurality of bags (N1, N2, ..., N6) that are connected in a chain. The X-ray irradiator (13) irradiates the chain of connected packages (M) with X-rays. The X-ray line sensor (14) receives the X-rays from the X-ray irradiator (13). The image generating component (21a) generates an X-ray image (P) on the basis of the X-rays that the X-ray line sensor (14) has received. The region identifying component (21b) identifies discrete package regions (C1, C2, ..., C6) from the X-ray image (P). The weight estimating component (21c) estimates weight values with respect to the discrete package regions (C1, C2, ..., C6). The weight determining component (21d) determines the chain of connected packages (M) as being abnormal in weight when any of the weight values falls outside a predetermined range.

    摘要翻译： X射线检查装置（10）配备有X射线照射器（13），X射线线传感器（14），图像生成部件（21a），区域识别部件（21b），重量估计 组件（211c）和重量确定组件（2d），并且检查包括链中连接的多个袋（N1，N2，...，N6）的连接的包装链（M）。 X射线照射器（13）利用X射线照射连接的包装（M）链。 X射线线传感器（14）从X射线照射器（13）接收X射线。 图像生成部件（21a）基于X射线线传感器（14）接收到的X射线生成X射线图像（P）。 区域识别部件（21b）从X射线图像（P）识别离散包装区域（C1，C2，...，C6）。 权重估计组件（21c）估计相对于离散包装区域（C1，C2，...，C6）的权重值。 重量确定部件（21d）当任何重量值落在预定范围之外时，将连接的包装链（M）确定为重量异常。

    X-RAY INSPECTION DEVICE AND PRODUCTION SYSTEM
    20.
    发明公开
    X-RAY INSPECTION DEVICE AND PRODUCTION SYSTEM 审中-公开
    RÖNTGEN-INSPEKTIONSVORRICHTUNG UND PRODUKTIONSSYSTEM

    公开(公告)号：EP2163886A1

    公开(公告)日：2010-03-17

    申请号：EP08721603.2

    申请日：2008-03-07

    申请人： Ishida Co., Ltd.

    发明人： KABUMOTO, Takashi ,  HIROSE, Osamu

    IPC分类号： G01N23/04

    CPC分类号： G01N23/04 ,  G01N2223/643 ,  G01N2223/645

    摘要： An X-ray inspection device (10) comprises a conveyor (50), an identification part (12B), a determining part (12C), and an operation controller (121). The X-ray inspection device irradiates articles with X-rays while the articles are being conveyed, and the articles are inspected. The conveyor (50) conveys the articles. The identification part (12B) identifies whether the articles are a test piece or a product. The operation controller (121) sets operation to a normal mode in which the article is determined to be defective or not defective in a case in which the article has been identified as an end product by the identification part (12B), and to a test mode in which the state of the device is assessed in a case in which the article has been identified as a test piece by the identification part (12B). As a result, the state of the X-ray inspection device can be assessed without halting production of the products.

    摘要翻译： X射线检查装置（10）包括输送机（50），识别部件（12B），确定部件（12C）和操作控制器（121）。 X射线检查装置在物品被输送的同时对物品进行X射线照射，对物品进行检查。 输送机（50）传送物品。 识别部件（12B）识别物品是试件还是产品。 操作控制器（121）在通过识别部（12B）将物品识别为终端产品的情况下将操作设定为其中物品被确定为有缺陷的缺陷或不具有缺陷的正常模式，以及测试 在由识别部（12B）将物品识别为试片的情况下，对装置的状态进行评价的模式。 结果，可以评估X射线检查装置的状态而不停止产品的生产。