中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

81 records (took 0.017 seconds)

    A METHOD OF DETECTING A DEFECT LIGHT SENSOR
    31.
    发明公开
    A METHOD OF DETECTING A DEFECT LIGHT SENSOR 审中-公开
    VERFAHREN ZUM NACHWEIS EINES DEFEKTEN LICHTSENSORS

    公开(公告)号：EP3111177A1

    公开(公告)日：2017-01-04

    申请号：EP15706401.5

    申请日：2015-02-16

    Applicant: Philips Lighting Holding B.V.

    Inventor： DENTENEER, Theodorus Jacobus Johannes

    IPC: G01J1/42 ,  G01J1/02

    CPC classification number: G01J1/0228 ,  G01J1/4204

    Abstract: A method of detecting a defect light sensor, includes the operations of: - collecting data, comprising collecting light sensor data; - performing a preparation procedure on the collected data in order to determine a template; and - performing a detection procedure for determining a light sensor status. The operation of performing a preparation procedure includes determining a template of the behavior of the light sensor data collected during a time period constituting a part of a day with well-defined conditions The operation of performing a detection procedure includes the operations of: - collecting light sensor data for several further days during the corresponding time period; - selecting representative days thereof; - determining a corresponding behavior for each selected day; and - comparing the corresponding behavior with the template to detect any defect of the light sensor.

    Abstract translation: 一种检测缺陷光传感器的方法，包括以下操作： - 收集数据，包括收集光传感器数据; - 对收集的数据执行准备程序以确定模板; 并且执行用于确定光传感器状态的检测过程。 执行准备过程的操作包括确定在构成具有明确条件的一天的一部分时间段期间收集的光传感器数据的行为的模板。执行检测过程的操作包括以下操作： - 收集光 传感器数据在相应时间段内进一步数天; - 选择代表日期; - 确定每个选定日期的对应行为; 并将对应的行为与模板进行比较，以检测光传感器的任何缺陷。

    Kalibriereinrichtung zur Kalibration eines extraterrestrischen optischen Instruments und Kalibrierverfahren mit dieser
    33.
    发明公开
    Kalibriereinrichtung zur Kalibration eines extraterrestrischen optischen Instruments und Kalibrierverfahren mit dieser 审中-公开

    公开(公告)号：EP2752689A1

    公开(公告)日：2014-07-09

    申请号：EP13150049.8

    申请日：2013-01-02

    Applicant: Jena-Optronik GmbH

    Inventor： Merschdorf, Matthias

    IPC: G02B5/02 ,  G01J1/42 ,  G01S3/786 ,  G02B27/09 ,  G01N21/27

    CPC classification number: G02B27/0983 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/08 ,  G01J2001/4266 ,  G01N21/274 ,  G01S3/7803 ,  G02B5/0215 ,  G02B5/0284 ,  G02B27/0961

    Abstract: Die Erfindung betrifft eine Kalibriereinrichtung (1) und ein Kalibrierverfahren zur Kalibration zumindest eines Detektors (6) eines optischen Instruments (2) in extraterrestrischer Umgebung insbesondere zur Fernerkundung der Erde enthaltend eine Vielzahl nebeneinander angeordneter optisch wirksamer, auf einen strahlenden Himmelskörper (4) ausgerichteter und über ein Fourier-Element (12) auf zumindest einen Detektor (6) abbildender Elemente (7). Um eine Kalibration unabhängig von Variationen der relativen Position der Strahlungsquelle (4) und/oder einem Degradationsverhalten der Kalibriereinrichtung (1) und/oder des Instrumentes (2) zu kompensieren, sind numerische Aperturen der optisch wirksamen Elemente (7) derart eingestellt, dass ein Akzeptanzwinkel der optisch wirksamen Elemente (7) ein Vielfaches eines von der Strahlungsquelle (4) eingestrahlten Strahlungswinkels (α) beträgt, sodass eine auf den Detektor (6) abgebildete Signalintensität (I) innerhalb des an die Variation der relativen Position der Strahlungsquelle (4) angepassten Akzeptanz-Winkelbereichs unabhängig vom Einstrahlwinkel (β) der Strahlungsquelle (4) ist.. Ein Kalibrierverfahren berücksichtigt dabei durch partielles Bestrahlen der Kalibriereinrichtung (1) und/oder des Detektors (6) ein Degradationsverhalten der Komponenten.

    Abstract translation: 校准装置（1）具有在辐射天体（4）上对准的多个光学活性元件（7），并通过检测器（6）上的傅立叶元件（12）成像。 调整光学活性元件的数值孔径使光学活性元件的接受角度等于由外星辐射源照射的多个辐射角。 在接受角度区域内成像在检测器上的信号强度与外星辐射源的入射角无关。 接受角度区域适应于外星辐射源的相对位置的变化。

    Lighting device, lighting control device and lighting system
    36.
    发明公开
    Lighting device, lighting control device and lighting system 有权
    Beleuchtungsvorrichtung，Beleuchtungsausrüstungund Beleuchtungssystem

    公开(公告)号：EP2587235A2

    公开(公告)日：2013-05-01

    申请号：EP12187327.7

    申请日：2012-10-05

    Applicant: Panasonic Corporation

    Inventor： Kato, Junichi ,  Kanda, Takashi ,  Saeki, Koji ,  Mannami, Tomoaki ,  Hirowatari, Yuichirou ,  Kurihara, Shinichiro

    IPC: G01J1/02 ,  G01J1/04 ,  G01J5/00 ,  G01J5/08 ,  G01J1/44

    CPC classification number: H05B37/02 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/044 ,  G01J1/44 ,  G01J5/0025 ,  G01J5/0834 ,  G01J5/34 ,  Y10T307/773

    Abstract: A lighting device includes a pyroelectric sensor, a shutter and a lighting control unit. The lighting control unit is configured, when the lighting load is turned off, to turn the lighting load on if the pyroelectric sensor detects a change in infrared radiation. The lighting control unit is also configured, when the lighting load is turned on, to turn the lighting load off if a repetition count or time of a lighting retention time reaches a specified count or time, respectively, with no change in infrared radiation detected through the pyroelectric sensor within each lighting retention time per the passage of lighting retention time.

    Abstract translation: 照明装置包括热电传感器，快门和照明控制单元。 照明控制单元被构造为当照明负载关闭时，如果热电传感器检测到红外辐射的变化，则打开照明负载。 如果照明负载打开，则如果照明保持时间的重复次数或照明保持时间的时间分别达到指定的计数或时间，则照明控制单元也被配置为在点亮负载打开时关闭照明负载，而不会通过检测到的红外辐射没有变化 热电传感器在每个照明保持时间内每次通过照明保持时间。

    Circuit de détection avec module d'anti-éblouissement
    37.
    发明公开
    Circuit de détection avec module d'anti-éblouissement 审中-公开
    Detektionsschaltung mit Blendschutzmodul

    公开(公告)号：EP2455731A1

    公开(公告)日：2012-05-23

    申请号：EP11354068.6

    申请日：2011-11-21

    Applicant: Société Française de Détecteurs Infrarouges - SOFRADIR

    Inventor： Ricard, Nicolas

    IPC: G01J1/02 ,  G01J1/44

    CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0228

    Abstract: Le circuit de détection comporte une photodiode (1) reliée à un module de lecture (2). La photodiode (1) et le module de lecture (2) sont connectés par l'intermédiaire d'un transistor (4) agencé pour fonctionner en commutateur fermé lorsque le module de lecture (2) polarise la photodiode (1) dans une gamme prédéfinie et pour fonctionner en commutateur ouvert dans les autres cas.

    Abstract translation: 该电路具有读取模块（2），例如 电容跨阻放大器或缓冲直接注入模块，用于在输入端子上施加参考电压（V-REF）。 光电二极管（1） P / N型光​​电二极管耦合到读取模块的输入端，以便被偏置。 读取模块的光电二极管和输入端子通过非对称晶体管（4）耦合，例如， P型MOS晶体管被布置为当读取模块将光电二极管偏压在预定范围内时作为闭合开关工作，并在其它情况下作为开路开关工作。 还包括用于包括一组检测电路的检测矩阵的独立权利要求。

    SECURE ARC FLASH DETECTION
    39.
    发明公开
    SECURE ARC FLASH DETECTION 审中-公开
    SAFE电弧探测

    公开(公告)号：EP2327129A1

    公开(公告)日：2011-06-01

    申请号：EP09815287.9

    申请日：2009-09-18

    Applicant: Schweitzer Engineering Laboratories, Inc.

    Inventor： SCHWEITZER, Edmund, O.

    IPC: H02H3/00

    CPC classification number: H02H1/0023 ,  G01J1/02 ,  G01J1/0228 ,  G01J2001/0276 ,  H02H3/04

    Abstract: An intelligent electronic device (IED) may be configured to detect arc flash events within a power system using stimulus measurements acquired by detection devices communicatively coupled to the power system. An arc flash event may be detected using a time-intensity comparison metric, such as an inverse time-over- stimulus metric, a cumulative stimulus metric, or the like. The stimulus may include electro-optical (EO) radiation produced in the vicinity of the power system, current measurements, or the like. The IED may detect an arc flash event if one or more of the stimulus types are indicative of an arc flash event. Responsive to detecting an arc flash event, the IED, or other protective element, may take one or more protective actions, such as issuing trip commands, or the like.

Patent Agency Ranking