LOCALIZATION SYSTEM AND ASSOCIATED METHOD
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:EP3394631A1

    公开(公告)日:2018-10-31

    申请号:EP16828846.2

    申请日:2016-12-22

    CPC classification number: G01S5/16 G01S3/7835 G01S3/784

    Abstract: A method for determining a localization parameter of an object includes generating a plurality of estimates of a first frequency-domain amplitude of a baseband signal from the object, each estimate corresponding one of a plurality of temporal segments of the baseband signal. The method also includes determining the first frequency-domain amplitude as most common value of the plurality of estimates, and determining the localization parameter therefrom. A localization system includes a memory and a microprocessor. The memory stores instructions and is configured to store a baseband signal having a temporal frequency component and a corresponding first frequency-domain amplitude. The microprocessor is adapted to execute the instructions to: (i) generate a plurality of estimates of the first frequency-domain amplitude each corresponding to a respective one of a plurality of temporal segments of the baseband signal, and (ii) determine the first frequency-domain amplitude as the most common value of the estimates.

    SYSTÈME DE DÉTECTION ET D'IMAGERIE PAR ANALYSE SPECTRALE DANS PLUSIEURS BANDES DE LONGUEURS D'ONDE
    6.
    发明公开
    SYSTÈME DE DÉTECTION ET D'IMAGERIE PAR ANALYSE SPECTRALE DANS PLUSIEURS BANDES DE LONGUEURS D'ONDE 有权
    苏黎世科学院森林部队德克萨斯州维也纳维也纳森林公园

    公开(公告)号:EP2976607A1

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:EP14710930.0

    申请日:2014-03-19

    Abstract: The invention relates to a system for detection and infrared imaging by spectral analysis in several wavelength bands comprising: - an imaging sensor comprising a plurality of elementary sensors together forming a matrix sensitive surface; - an imaging optic adapted for forming on the sensitive surface of the imaging sensor, a first image of the scene to be analysed in a first wavelength band, and at least one second image of the scene to be analysed in a second wavelength band, characterized in that said detection and imaging system furthermore comprises an optical device consisting of a fixed optical plate adapted for shifting the first image with respect to the second image in the plane of the sensitive surface, the shift between the images being along a direction defined by a row, a column or a diagonal of elementary sensors, the shift distance being equal to the spacing of the elementary sensors of the matrix sensitive surface along this direction or to a multiple of this spacing.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于通过在几个波段中的光谱分析进行检测和红外成像的系统,包括: - 成像传感器,包括多个基本传感器,形成矩阵敏感表面; - 适于在成像传感器的敏感表面上形成的成像光学元件,要在第一波长带中分析的场景的第一图像和要在第二波长带中分析的场景的至少一个第二图像,其特征在于 因为所述检测和成像系统还包括由适于相对于敏感表面的平面中的第二图像移动第一图像的固定光学板组成的光学装置,图像之间的偏移沿着由 行,列或基本传感器的对角线,移位距离等于沿该方向的矩阵敏感表面的基本传感器的间距或该间隔的倍数。

    SYSTEM FOR LIGHT SOURCE LOCATION DETECTION
    7.
    发明公开
    SYSTEM FOR LIGHT SOURCE LOCATION DETECTION 审中-公开
    系统ZUR LICHTQUELLENORTSERKENNUNG

    公开(公告)号:EP2972452A2

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:EP14765624.3

    申请日:2014-03-14

    Abstract: Aspects of the present invention relate to systems, methods, and computer program products for tracking an orientation of a first object. The system includes a light emitting device located relative to a second object at a fixed predetermined position; a sensor having a photodetector array that is configured to receive incident light emitted from the light emitting device, the photodetector array being mounted on the first object; and a processor coupled to the photodetector array, the processor configured to determine the orientation of the first object relative to the second object based on an angle of incident light detected by the photodetector array from the light emitting device.

    Abstract translation: 本发明的方面涉及用于跟踪第一对象的取向的系统,方法和计算机程序产品。 该系统包括在固定的预定位置处相对于第二物体定位的发光装置; 具有被配置为接收从所述发光器件发射的入射光的光电检测器阵列的传感器,所述光电检测器阵列安装在所述第一物体上; 以及耦合到所述光电检测器阵列的处理器,所述处理器被配置为基于由所述光电检测器阵列从所述发光器件检测到的入射光的角度来确定所述第一物体相对于所述第二物体的取向。

    Verfahren zur Detektion von gepulster Laserstrahlung sowie bildgebender Laserwarner
    9.
    发明公开
    Verfahren zur Detektion von gepulster Laserstrahlung sowie bildgebender Laserwarner 审中-公开
    激光手电筒激光打火机

    公开(公告)号:EP2682777A1

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:EP12005946.4

    申请日:2012-08-18

    CPC classification number: H04N7/183 G01S3/784 G01S7/4804 G01S7/4863

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Detektion von gepulster Laserstrahlung (10) mit 2-dimensionaler Auflösung der Einfallsrichtung wobei:
    - zur Detektion ein CCD-Sensor (1) mit einer abbildenden Optik (2) verwendet wird,
    - in einer ersten Signalverarbeitung (4) mit einer Abtastfrequenz von mindestens 5 kHz Einzelbilder erzeugt werden, indem jedes Pixel des CCD-Sensors (1) mit einem Schwellwert verglichen wird und der Pixelwert nur bei Übertreffen des jeweiligen Schwellwerts für die weitere Prozessierung gespeichert wird,
    - in der ersten Signalverarbeitung (4) der Mittelwert oder Spitzenwert aus diesen gespeicherten Pixelwerten eines Einzelbilds pixelweise über mindestens 10 Abtastungen ermittelt wird,
    - das so in der ersten Signalverarbeitung (4) erhaltene Signalbild mit einer Bildfrequenz von 10 Hz bis 500 Hz einer weiteren Bildverarbeitung (5) bereitgestellt wird,
    - in der weiteren Bildverarbeitung (5) aus dem Signalbild das bzw. die die einfallende Laserstrahlung repräsentierenden Signalpixel identifiziert werden, wobei sich die Einfallsrichtung der Laserstrahlung aus der Position der Signalpixel auf dem Signalbild ergibt.
    Ein CCD-Sensor zur Verwendung in dem erfindungsgemäßen Verfahren sowie ein bildgebener Laserwarner zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens sind ebenfalls Gegenstand der Patentanmeldung.

    Abstract translation: 该方法包括通过将CCD传感器(1)的像素与相应的阈值进行比较来生成单个图像。 在信号处理期间,通过10个采样来确定逐像素的单个图像的存储像素值的平均值或峰值。 在信号处理中获得的信号图像以10-500Hz的图像频率被转发用于图像处理。 在图像处理中从图像中识别表示入射激光辐射(10)的信号像素。 从图像上的信号像素的位置确定激光辐射的入射方向。 还包括以下独立权利要求:(1)CCD传感器(2)成像激光报警器。

    Strahlungsrichtungssensor und Verfahren zur Ermittlung des Einfallswinkels einer Strahlungsquelle
    10.
    发明公开
    Strahlungsrichtungssensor und Verfahren zur Ermittlung des Einfallswinkels einer Strahlungsquelle 审中-公开
    用于确定辐射源的入射辐射角方向传感器和方法

    公开(公告)号:EP2469290A3

    公开(公告)日:2013-07-03

    申请号:EP11194849.3

    申请日:2011-12-21

    CPC classification number: G01S3/784 G01S3/7862

    Abstract: Die Erfindung betrifft einen Strahlungsrichtungssensor 1 sowie ein entsprechendes Verfahren zur Bestimmung des Einfallswinkels einer Strahlungsquelle. Ein dafür geeigneter Strahlungsrichtungssensor 1 weist in einer Halbleiterschicht 6 eine Diodenanordnung 5 von Avalanche-Fotodioden 4 und eine anwendungsspezifische, integrierte Schaltung, eine Distanzschicht 8, eine darauf befindliche Blendenstruktur 9 sowie Mittel zur elektrischen Anbindung des Strahlungsrichtungssensors 1 auf, wobei diese direkt übereinanderliegenden Schichten und Strukturen in Ihrer Form, Größe bzw. Dicke aufeinander abgestimmt sind. Ein entsprechendes Mess- und Auswerteverfahren wird angegeben.

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