公开(公告)号：EP2416130A1

公开(公告)日：2012-02-08

申请号：EP10171987.0

申请日：2010-08-05

申请人： Mettler-Toledo (Albstadt) GmbH

发明人： Schön, Thomas

IPC分类号： G01G21/28 ,  G01G23/01

CPC分类号： G01G21/283 ,  G01G23/017

摘要： Die Erfindung betrifft ein Gerät mit eichrelevanten und nicht-eichrelevanten Bauteilen (50, 60) und einem Gehäuse (1), das der Aufnahme der eichrelevanten und nicht-eichrelevanten Bauteile (50, 60) dient, wobei die eichrelevanten Bauteile (50) im Gehäuse (1) unter einer Eichkappe (70) angeordnet sind und die eichrelevanten Bauteile (50) nur durch Entfernen dieser Eichkappe (70) zugänglich sind und die Eichkappe (70) derart durch eine Eichmarke (81) gesichert ist, dass bei einer Entfernung der Eichkappe (70) die Eichmarke (81) beschädigt wird. Dabei ist die Eichkappe (70) mit mindestens einem Sicherungselement (80) fixiert und die unter der Eichkappe (70) angeordneten eichrelevanten Bauteile (50) sind nur nach dem Entfernen des Sicherungselements (80) zugänglich und mindestens ein Sicherungselement (80) ist bei geschlossenem Gehäuse (1) entfernbar.

摘要翻译： 所述装置具有校准相关和非相关部件（50）和壳体，其中校准盖（70）固定有安全元件（80）。 安装在校准盖下方的校准相关组件可在拆卸安全元件后进入。 安全元件可以在封闭的外壳上移动。 还包括用于修正校准装置的状态的方法的独立权利要求。

公开(公告)号：EP2413114A1

公开(公告)日：2012-02-01

申请号：EP09834488.0

申请日：2009-12-25

申请人： Omron Healthcare Co., Ltd.

发明人： DATE, Wataru

IPC分类号： G01G23/01 ,  G01G19/50

CPC分类号： G01G19/50 ,  G01G23/16

摘要： To correctly recognize the 0 kg state and to reduce the time required for weight measurement. A body composition meter 100, 100A including a load cell 134 for measuring a weight includes step S221 of performing a measurement of an output value of the load cell 134 in an initial state on which a measuring target does not ride, a storage unit 112 for storing a plurality of measured output values of the initial state, step S207 for creating 0 kg reference value data 161 when variation of the plurality of output values in the initial state is within a predetermined range, and step S204 of measuring using the initial reference value when measuring the weight with the load cell 134.

摘要翻译： 正确识别0 kg状态并减少重量测量所需的时间。 包括用于测量重量的测力传感器134的身体成分仪100,100A包括步骤S221，在测量对象不骑行的初始状态下执行测力传感器134的输出值的测量;存储单元112，用于 存储初始状态的多个测量输出值，当初始状态下的多个输出值的变化在预定范围内时，用于创建0kg参考值数据161的步骤S207;以及使用初始参考值进行测量的步骤S204 当用测力传感器134测量重量时。

公开(公告)号：EP1929255A4

公开(公告)日：2011-09-28

申请号：EP06815037

申请日：2006-09-20

申请人： METTLER TOLEDO INC

发明人： BLISS DOUG ,  MOORMAN JOHN ,  SIMMONS VENUS

IPC分类号： G01G23/01

CPC分类号： G01G23/01

公开(公告)号：EP2329236A1

公开(公告)日：2011-06-08

申请号：EP09782354.6

申请日：2009-08-28

申请人： Mettler-Toledo AG

发明人： TRAUTWEILER, Christoph

IPC分类号： G01G3/14 ,  G01G23/01 ,  G01L25/00

摘要： The invention relates to a method and an apparatus, which is suitable for said method, for monitoring the state of a force-measuring apparatus, in particular a weighing apparatus, having a moving force-transmission means which conducts a force acting on the force-measuring apparatus to a measurement transformer which generates a measuring signal which corresponds to the active force, said measurement signal then being displayed or forwarded for further processing. In this case, at least one parameter which characterizes the movement of the force-transmission means or the change in said force transmission means with respect to time is determined, the parameter is then compared with at least one threshold value and an action of the force-measuring apparatus is triggered as a function of said comparison.

公开(公告)号：EP2278283A1

公开(公告)日：2011-01-26

申请号：EP09166245.2

申请日：2009-07-23

申请人： Mettler-Toledo AG

发明人： Köppel, Thomas ,  Reber, Daniel

IPC分类号： G01G3/18 ,  G01G7/04 ,  G01G23/01

CPC分类号： G01G23/01 ,  G01G3/18 ,  G01G7/04 ,  G01G23/48 ,  G06F17/40 ,  G06F19/00

摘要： Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Temperaturkorrektur einer auf dem Prinzip der elektromagnetischen Kraftkompensation basierenden Kraftmessvorrichtung (1), insbesondere einer Waage, welches die Schritte aufweist: Erzeugung eines elektrischen, zur einwirkenden Kraft korrespondierenden Kraftmesssignals (mL) mittels einer Kraftmesszelle (10); Erzeugung eines elektrischen Temperaturmesssignals (mT) mittels eines Temperatursensors (15), welches zu der auf die Kraftmessvorrichtung einwirkenden Umgebungstemperatur (Te) korrespondiert; Verarbeitung des Kraftmesssignals (mL) anhand des Temperaturmesssignals (mT) und des Kraftmesssignals (mL) zu einem temperaturkorrigierten Ausgabesignal (mLc); Übertragung des Ausgabesignals (mLc) an eine Anzeigeeinheit (13) und/oder an eine weitere Verarbeitungseinheit (14). Dabei wird bei dem Schritt der Verarbeitung aus dem Kraftmesssignal (mL) und/oder dem Temperaturmesssignal (mT), mindestens ein der Korrektur des Ausgabesignals (mLc) dienender Korrekturparameter (CP) berechnet, welcher eine Temperaturdifferenz (dTr, dT1, dT2) charakterisiert, die zwischen einer Systemtemperatur (Ts, Ts1, Ts2) und der Umgebungstemperatur (Te) oder zwischen einer ersten Systemtemperatur (Ts1) und einer zweiten Systemtemperatur (Ts2) besteht.

摘要翻译： 该方法涉及将温度校正的输出信号发送到显示单元和/或处理单元。 使用热力学模型，基于力测量信号（mL）和/或温度测量信号（mT）计算校正参数。 校正参数用于校正输出信号，其中存在于系统温度和环境温度（Te）之间或系统温度之间的温度差由校正参数表征。 还包括用于包括温度传感器的力测量装置的独立权利要求。

公开(公告)号：EP2208032A1

公开(公告)日：2010-07-21

申请号：EP08805477.0

申请日：2008-10-06

申请人： TAMTRON OY

发明人： ASIKAINEN, Pentti

IPC分类号： G01G23/01 ,  G01G19/08 ,  B60P5/00 ,  G01G15/00

CPC分类号： G01D5/39 ,  G01G23/017 ,  G01G23/3742

摘要： The invention relates to a method and an arrangement for verification of a measurement device. The prior art solutions have e.g. a disadvantage that the measurement devices to be verified must be transported to the verification location or the person who monitors the verification must travel to the verification locations. The object of the invention is achieved with a solution, wherein data which relates to the measurements performed in the verification is transferred (99) from the local point (80) to the distant point (90) so that the monitoring of the verification can be performed in the distant point. The distant point can locate at a distance from the local point, in which the measurements are performed. The acceptance/rejection of the verification is then made on the basis of the transferred data.

公开(公告)号：EP2201340A1

公开(公告)日：2010-06-30

申请号：EP08806451.4

申请日：2008-09-30

申请人： Metryx Limited

发明人： WILBY, Robert John

IPC分类号： G01G9/00 ,  G01G23/00 ,  G01G23/01 ,  G01G23/16 ,  G01G21/22 ,  H01L21/00

CPC分类号： G01G23/14 ,  G01G9/00 ,  G01G21/22 ,  G01G23/00 ,  H01L21/67253

摘要： A semiconductor wafer metrology technique which corrects for the effect of electrostatic forces on an atmospheric buoyancy compensated weight force measurement of a semiconductor wafer. In one aspect a wafer is weighed in a faraday cage whose is measured independently. A change in the measured weight of the faraday cage can be used to correct the measure weight of the wafer. In another aspect a direct electrostatic measurement can be converted into a weight correction using a predetermined correlation between an electrostatic charge measured by the charge meter and a weight error force. In another aspect the electrostatic measurement may be indirect, e.g. derived from varying the distance between the wafer and a grounded plate parallel to the wafer to effect a change in an electrostatic force between the grounded plate and the wafer.

公开(公告)号：EP2194364A2

公开(公告)日：2010-06-09

申请号：EP09014287.8

申请日：2009-11-16

申请人： Bundesrepublik Deutschland, vertr. d.d. Bundes- ministerium f. Wirtschaft- und Technologie, dieses vertr. d.d. Präs. d. Phys.-Techn. Bundesanstalt

发明人： Schrader, Thorsten ,  Münter, Klaus ,  Daneschnejad, Ahmad

IPC分类号： G01G19/414 ,  G01G23/00 ,  G01G23/01

CPC分类号： G01G23/00 ,  G01G19/4144 ,  G01G23/01

摘要： Die Erfindung betrifft eine Waage zum Erfassen einer Messgröße (m), mit einem Messsensor (14) für die Messgröße (m), der so ausgebildet ist, dass ein hochfrequentes elektromagnetisches Feld (30) von außen einkoppeln und ein Messergebnis für die Messgröße verfälschen kann, wobei eine Feldstärke (E) des hochfrequenten elektromagnetischen Felds (30) unterhalb einer Maximal-Feldstärke (E max ) das Messergebnis um einen Betrag verfälscht, der unter einem Toleranzwert liegt. Erfindungsgemäß ist mindestens ein Hochfrequenzsensor (24) zum Erfassen einer aus dem hochfrequenten elektromagnetischen Feld (30) resultierenden Größe (U 26 ) vorgesehen, wobei der mindestens eine Hochfrequenzsensor (24) so mit dem Messsensor (14) gekoppelt ist, dass jedes Überschreiten der vorgegebenen Maximal-Feldstärke (E max ) detektierbar ist.

摘要翻译： 设备（10）具有形成为使得高频电磁场（30）耦合到外部并且测量参数的测量结果被伪造的测量传感器（14）。 低于预设最大场强的电磁场的场强将测量结果伪造在低于公差值的量下​​。 高频传感器（24.1-24.4）检测来自电磁场的参数，其中高频传感器与测量传感器耦合，从而检测出超过电磁场预设的最大场强。

公开(公告)号：EP2167925A1

公开(公告)日：2010-03-31

申请号：EP08773260.8

申请日：2008-06-13

申请人： Soehnle-Waagen GmbH & Co. KG

发明人： GERSTER, Stephan

IPC分类号： G01G23/01

CPC分类号： G01G23/017 ,  G01G23/3735 ,  G01G23/3742

摘要： The invention relates to a method for weighing arbitrary goods using a scale, wherein the scale comprises a support surface (1), preferably a platform, for goods to be weighed and an interface (2) for transmitting data captured by the support surface (1) to at least one electronic data processing unit (3) and wherein, in the electronic data processing unit (3), at least one transmitted datum or the transmitted data are recorded and, optionally, processed. Said method is structured and refined with regard to a particularly secure application such that the transmitted data are fed back into the scale and the identity of said fed-back data is checked against the originally transmitted data by the scale. The invention further relates to a scale for performing said method.

公开(公告)号：EP2124024A1

公开(公告)日：2009-11-25

申请号：EP08704508.4

申请日：2008-02-06

申请人： Ishida Co., Ltd.

发明人： HIROSE, Osamu

IPC分类号： G01G9/00 ,  G01G23/01 ,  G01N23/04

CPC分类号： G01G9/005 ,  G01N23/02

摘要： To provide a weight inspection apparatus capable of calculating the weight of an inspection target object with high precision and a weight inspection system provided therewith, an X-ray inspection apparatus (10) is configured such that a deviation amount calculation unit (45) calculates the degree of the discrepancy of the estimated weight from the actual weight, based on the actual weight of the product (G) which is externally obtained and the estimated weight of the product (G) calculated by each of the function blocks (41 to 44) formed in the control computer (30).

摘要翻译： 为了提供能够高精度地计算检查对象物的重量的重量检查装置和设置有重量检查系统的重量检查系统，X射线检查装置（10）被构造成使得偏差量计算单元（45）计算 基于由外部获得的乘积（G）的实际重量和由每个功能块（41至44）计算出的乘积（G）的估计权重），实际重量与估计重量的差异程度， 形成在控制计算机（30）中。