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公开(公告)号：EP1418400A3
公开(公告)日：2004-08-04
申请号：EP04002747.6
申请日：1998-03-05
申请人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh, INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH , GOM - Gesellschaft für Optische Messtechnik mbH , KRUPP HOESCH STAHL AG
发明人： Müller, Ulrich , Peuker, Gustav , Sonnenschein, Detlev , Winter, Detlef , Degner, Michael , Thiemann, Gerd
CPC分类号： G01B11/306 , B21B37/42 , B21B37/44 , B21B37/54 , B21B37/76 , B21B38/006 , B21B38/02 , B21B38/04 , B21B45/0218
摘要： Die Erfindung betrifft ein Planheitsmeß- und Regelungssystem für Metallband, das eine Verbesserung der Bandoder Coilqualität durch ein einfaches und effektives Erfassen von Planheitsabweichungen und ein Regeln der Fertigungsparameter über die Verwertung eines Linienmusters auf der Bandoberfläche oder der Stirnfläche eines Coils beim Haspeln erlaubt.
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2.发明公开Planheits-Messsystem für Metallband 失效Verfahren zum Messen der Planheit eines bewegten Metallbands oder derStirnflächeeines Coils
公开(公告)号：EP0864847A2
公开(公告)日：1998-09-16
申请号：EP98103890.4
申请日：1998-03-05
申请人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh, INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH , GOM - Gesellschaft für Optische Messtechnik mbH , KRUPP HOESCH STAHL AG
发明人： Müller, Ulrich, Dr. , Peuker, Gustav , Sonnenschein, Detlev , Winter, Detlef, Dr. , Degner, Michael, Dr.-Ing. , Thiemann, Gerd, Dipl.-Ing.
IPC分类号： G01B11/30
CPC分类号： G01B11/306 , B21B37/42 , B21B37/44 , B21B37/54 , B21B37/76 , B21B38/006 , B21B38/02 , B21B38/04 , B21B45/0218
摘要： Die Erfindung betrifft ein Planheitsmeß- und Regelungssystem für Metallband, das eine Verbesserung der Band- oder Coilqualität durch ein einfaches und effektives Erfassen von Planheitsabweichungen und ein Regeln der Fertigungsparameter über die Verwertung eines Linienmusters auf der Bandoberfläche oder der Stirnfläche eines Coils beim Haspeln erlaubt.
摘要翻译： 该方法包括通过投影仪（3）评估指向金属带（1）的表面的线图案（2）。 CCD相机（5）用于直接检查线条图案。 可以将由相机提供的线图案的图像与参考线图案进行比较。 以这种方式提供的测量值可用于调节金属带的生产路径。
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公开(公告)号：EP0864847A3
公开(公告)日：1999-04-07
申请号：EP98103890.4
申请日：1998-03-05
申请人： BETRIEBSFORSCHUNGSINSTITUT VDEh, INSTITUT FÜR ANGEWANDTE FORSCHUNG GmbH , GOM - Gesellschaft für Optische Messtechnik mbH , KRUPP HOESCH STAHL AG
发明人： Müller, Ulrich, Dr. , Peuker, Gustav , Sonnenschein, Detlev , Winter, Detlef, Dr. , Degner, Michael, Dr.-Ing. , Thiemann, Gerd, Dipl.-Ing.
IPC分类号： G01B11/30
CPC分类号： G01B11/306 , B21B37/42 , B21B37/44 , B21B37/54 , B21B37/76 , B21B38/006 , B21B38/02 , B21B38/04 , B21B45/0218
摘要： Die Erfindung betrifft ein Planheitsmeß- und Regelungssystem für Metallband, das eine Verbesserung der Band- oder Coilqualität durch ein einfaches und effektives Erfassen von Planheitsabweichungen und ein Regeln der Fertigungsparameter über die Verwertung eines Linienmusters auf der Bandoberfläche oder der Stirnfläche eines Coils beim Haspeln erlaubt.
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4.发明授权Verfahren zum Messen der Planheit eines bewegten Metallbands oder der Stirnfläche eines Coils 失效测量移动金属带材的一个或线圈的端面的平坦度的方法
公开(公告)号：EP0864847B1
公开(公告)日：2005-12-28
申请号：EP98103890.4
申请日：1998-03-05
申请人： Betriebsforschungsinstitut VDEh, Institut für angewandte Forschung GmbH , ThyssenKrupp Stahl AG
发明人： Müller, Ulrich, Dr. , Peuker, Gustav , Sonnenschein, Detlev , Winter, Detlef, Dr. , Degner, Michael, Dr.-Ing. , Thiemann, Gerd, Dipl.-Ing.
CPC分类号： G01B11/306 , B21B37/42 , B21B37/44 , B21B37/54 , B21B37/76 , B21B38/006 , B21B38/02 , B21B38/04 , B21B45/0218
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