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    INDIRECT CONVERSION DETECTOR ARRAY
    1.
    发明公开
    INDIRECT CONVERSION DETECTOR ARRAY 审中-公开
    间接转换探测器阵列

    公开(公告)号：EP3207407A1

    公开(公告)日：2017-08-23

    申请号：EP14790460.1

    申请日：2014-10-16

    申请人： Analogic Corporation

    发明人： DEYCH, Ruvin ,  LITVIN, Andrew ,  RISTANOVIC, Vladan

    IPC分类号： G01T1/20

    CPC分类号： G01T1/2018 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4208 ,  G01N23/046 ,  G01N2223/501 ,  G01N2223/505

    摘要： Among other things, a detector array (300) for a radiation imaging system is provided. The detector array comprises a plurality of detector elements. Respective detector elements comprise, among other things, a scintillator (304) and a photodetector (306). In some embodiments, a scintillator is shared amongst two or more of the detector elements. In some embodiments, little to no reflective material, configured to mitigate cross-talk between detector elements, is situated between two or more detector elements.

    摘要翻译： 除其他之外，提供了用于放射线成像系统的探测器阵列（300）。 探测器阵列包括多个探测器元件。 除其他之外，各个检测器元件包括闪烁体（304）和光电检测器（306）。 在一些实施例中，闪烁器在两个或更多个检测器元件之间共享。 在一些实施例中，配置成减轻检测器元件之间的串扰的很少或不具有反射材料位于两个或更多个检测器元件之间。

    X-RAY INSPECTION SYSTEM AND METHOD
    2.
    发明公开
    X-RAY INSPECTION SYSTEM AND METHOD 审中-公开
    X射线检查系统和方法

    公开(公告)号：EP2678668A4

    公开(公告)日：2017-04-05

    申请号：EP11859314

    申请日：2011-02-22

    申请人： RAPISCAN SYSTEMS INC

    发明人： MORTON EDWARD JAMES ,  BALDWIN FRANCIS

    IPC分类号： G01N23/087

    CPC分类号： G01N23/087 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/423 ,  G01N2223/501 ,  G01N2223/505

    摘要： The present specification discloses an X-ray system for processing X-ray data to determine an identity of an object under inspection. The X-ray system includes an X-ray source for transmitting X-rays, where the X-rays have a range of energies, through the object, a detector array for detecting the transmitted X-rays, where each detector outputs a signal proportional to an amount of energy deposited at the detector by a detected X-ray, and at least one processor that reconstructs an image from the signal, where each pixel within the image represents an associated mass attenuation coefficient of the object under inspection at a specific point in space and for a specific energy level, fits each of pixel to a function to determine the mass attenuation coefficient of the object under inspection at the point in space; and uses the function to determine the identity of the object under inspection.

    Charged Particle Microscope with improved spectroscopic functionality
    3.
    发明公开
    Charged Particle Microscope with improved spectroscopic functionality 审中-公开
    Ladungsträgerteilchenmikroskopmit verbesserter spektroskopischerFunktionalität

    公开(公告)号：EP3040714A1

    公开(公告)日：2016-07-06

    申请号：EP14200596.6

    申请日：2014-12-30

    申请人： FEI COMPANY

    发明人： Kooijman, Kees ,  Withaar, Thijs ,  Van Veen, Gerarde Nicolaas Anne

    IPC分类号： G01N23/223 ,  G01N23/225

    CPC分类号： H01J37/244 ,  G01N23/223 ,  G01N23/2252 ,  G01N23/2257 ,  G01N2223/501 ,  H01J37/285 ,  H01J2237/2445

    摘要： A method of examining a specimen using a spectroscopic apparatus, such as X-ray energy-dispersive spectroscopy, XRF or PIXE, comprising the following steps:
    - Providing the specimen (S) on a specimen holder (H);
    - Directing a focused input beam (C) of radiation onto a location P on the specimen (S), thereby producing an interaction that causes a flux of X-rays to emanate from said location;
    - Examining said flux using a detector arrangement (D) comprising a plurality of sub-detectors (D1, D2, D3, D4), thus accruing a measured spectrum for said location,

    particularly comprising the following steps:
    - Choosing a set of mutually different measurement directions d = {d n } that originate from P, where n is a member of an integer sequence;
    - Recording an output On of said detector arrangement for different values of d n , thus compiling a measurement set M = {(On, d n )};
    - Adopting a spectral model O n ' for On that is a convoluted mix of terms Band L p , where:
    ▪ B is a substantially continuous spectral component associated with Bremsstrahlung;
    ▪ L p is a substantially discrete spectral component associated with the elemental composition of the specimen at location P;

    - Using computer processing apparatus to automatically deconvolve the measurement set M on the basis of said spectral model On' and distill L p therefrom.

    摘要翻译： 使用X射线能量分散光谱法，XRF或PIXE等分光装置检查试样的方法，包括以下步骤： - 将样品（S）放置在样品架（H）上; 将辐射的聚焦输入光束（C）引导到样本（S）上的位置P上，从而产生引起X射线通量从所述位置发出的相互作用; - 使用包括多个子检测器（D1，D2，D3，D4）的检测器装置（D）检查所述通量，从而产生用于所述位置的测量光谱，特别地包括以下步骤： - 选择一组相互不同的 来自P的测量方向d = {dn}，其中n是整数序列的成员; - 对于不同的d n值记录所述检测器装置的输出On，从而编译测量集M = {（On，d n）}; - 对于On，采用光谱模型O n'，这是一个卷积混合的条带L p，其中：-B B是与Bremsstrahlung相关联的基本连续的光谱分量; -a L p是与位置P处的样品的元素组成相关联的基本上离散的光谱分量; - 使用计算机处理装置根据所述光谱模型On'自动解卷积测量集M，并从其中蒸馏出L p。

    PHOTON COUNT-BASED RADIATION IMAGING SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS
    5.
    发明公开
    PHOTON COUNT-BASED RADIATION IMAGING SYSTEM, METHOD, AND APPARATUS 审中-公开
    AUFPHOTONENZÄHLUNGBASIERTE STRAHLUNGSBILDGEBUNGSSYSTEM，VERFAHREN UND VORRICHTUNG

    公开(公告)号：EP3062093A1

    公开(公告)日：2016-08-31

    申请号：EP14855053.6

    申请日：2014-10-23

    申请人： Nanovision Technology (Beijing) Co., Ltd.

    发明人： LI, Yunxiang ,  ZHENG, Hailiang ,  CAO, Hongguang

    IPC分类号： G01N23/083 ,  G01T1/16 ,  A61B6/03

    CPC分类号： G01N23/083 ,  A61B6/03 ,  A61B6/4241 ,  A61B6/484 ,  A61B6/502 ,  A61B6/52 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/501 ,  G01T1/24

    摘要： A photon count-based radiation imaging system. The invention also relates to a method of implementing X-ray imaging in said system, and to key apparatus of said system. In the system, an x-ray source directs x-rays at a sample on a scanning platform. When the x-rays pass through said sample, photons carrying information about characteristics of the material at various spatial positions are produced. A photon count detector counts the photons on an imaging plane, obtains incident photon projection data and energy data, and transmits same to a 3D reconstruction system. The 3D reconstruction system reconstructs, on the basis of said projection data and energy data, the 3D structure and the matter composition inside the sample, then performs digital dyeing on the component parts of the sample, thereby differentiating the matter composition of the sample.

    摘要翻译： 基于光子计数的辐射成像系统。 本发明还涉及在所述系统中实现X射线成像的方法以及所述系统的关键装置。 在该系统中，x射线源在扫描平台上的样本处引导X射线。 当x射线通过所述样品时，产生携带关于材料在各种空间位置的特性的信息的光子。 光子计数检测器对成像平面上的光子进行计数，获得入射光子投影数据和能量数据，并将其传输到3D重建系统。 3D重建系统根据所述投影数据和能量数据重建样本内的3D结构和物质组成，然后对样品的组成部分进行数字染色，从而区分样品的物质组成。

    Vorrichtung und Verfahren zur spektroskopischen Analyse
    6.
    发明公开
    Vorrichtung und Verfahren zur spektroskopischen Analyse 有权
    Vorrichtung und Verfahren zur spektroskopischen分析

    公开(公告)号：EP2818853A1

    公开(公告)日：2014-12-31

    申请号：EP14168505.7

    申请日：2014-05-15

    申请人： Carl Zeiss Microscopy GmbH

    发明人： Correns, Nico ,  Rode, Michael

    IPC分类号： G01N23/225

    CPC分类号： G01N21/64 ,  G01N23/2254 ,  G01N2223/501

    摘要： Die vorliegende Erfindung betrifft Vorrichtungen und Verfahren zur spektrometrischen Analyse von licht-emittierenden Proben. Die Vorrichtung umfasst eine Teilchenstrahlquelle, die einen auf die Probe gerichteten Primärteilchenstrahl erzeugt, derart, dass der Primärteilchenstrahl auf der Probe auftrifft und aufgrund der Wechselwirkung zwischen Primäfleilchenstrahl und Probenmaterial Photonen aus der Probe frei gesetzt werden. Außerdem umfasst die Vorrichtung eine Vielzahl von Lichtaufnahmeelementen, die geeignet sind, die aus der Probe frei gesetzten Photonen aufzufangen, wobei die Lichtaufnahmeelemente die im jeweils zugeordneten Raumwinkelbereich emittierten Photonen auffangen. Die Vorrichtung umfasst weiterhin Leitungselemente, die ausgebildet sind, aufgefangene Photonen zu einer Auswerteeinheit weiterzuleiten, sowie ein Analysesystem, das eine Mehrzahl von Auswerteeinheiten umfasst, derart, dass von jedem Lichtaufhahmeelement aufgefangene Photonen spektral analysiert werden.

    摘要翻译： 本发明涉及发光样品的光谱分析的装置和方法。 该装置包括粒子束源，其产生以样品的一次粒子束入射到样品的方式产生一次粒子束，并且由于一次粒子束和样品材料之间的相互作用，光子从样品中释放出来 。 此外，该装置包括适于捕获从样品释放的光子的多个光拾取元件，其中光拾取元件捕获在分配的立体角范围内发射的光子。 此外，该装置包括传导元件，其被实现为将捕获的光子转发到评估单元，以及分析系统，其包括多个评估单元，使得每个光拾取元件捕获的光子被光谱地分析。

    Röntgengerät und Röntgenverfahren zur Untersuchung eines dreidimensionalen Untersuchungsobjekts
    7.
    发明公开
    Röntgengerät und Röntgenverfahren zur Untersuchung eines dreidimensionalen Untersuchungsobjekts 审中-公开
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    公开(公告)号：EP2623964A1

    公开(公告)日：2013-08-07

    申请号：EP12000766.1

    申请日：2012-02-06

    申请人： Kupper, Jürgen

    发明人： Kupper, Jürgen

    IPC分类号： G01N23/04

    CPC分类号： G01N23/04 ,  G01N2223/41 ,  G01N2223/414 ,  G01N2223/501

    摘要： Röntgengerät zur Untersuchung eines dreidimensionalen Untersuchungsobjekts mit
    ● einem Röntgendetektor, der eine Vielzahl von Detektorelementen aufweist, die jeweils zur Erfassung einer Intensität von auf das Detektorelement auftreffender Röntgenstrahlung ausgebildet sind,
    ● einem Röntgenoptikarray, das zwischen dem Untersuchungsobjekt und den Detektorelementen angeordnet ist und eine Vielzahl von Röntgenoptiken enthält, die so angeordnet sind, dass vom Untersuchungsobjekt auf eine der Röntgenoptiken auftreffende Röntgenstrahlung auf mehrere der Detektorelemente abgebildet wird, und
    ● einer Auswerteeinrichtung, die mit den Detektorelementen erfasste Intensitäten auswertet und auf dieser Grundlage für eine Vielzahl von Volumenelementen des Untersuchungsobjekts jeweils eine Intensität der von dem Volumenelement ausgehenden Röntgenstrahlung ermittelt.

    摘要翻译： X射线装置具有检测器元件（32）的X射线检测器（30），以检测入射的X射线辐射的强度。 设置在检查对象（12）和检测器元件之间的X射线光学阵列（34）具有多个X射线光学元件（36），这些X射线光学元件被布置成使得在射入若干X射线辐射的X射线光学器件之一上的检查对象是 投影到探测器元件上。 提供评估单元以评估检测到的强度，从而针对物体的多个体积元素检测从物体的体积元件（18）发出的X射线辐射的强度。 对于检查被检查的三维物体的方法，包括独立权利要求。

    COMPUTED TOMOGRAPHY
    9.
    发明公开
    COMPUTED TOMOGRAPHY 审中-公开

    公开(公告)号：EP3343209A1

    公开(公告)日：2018-07-04

    申请号：EP17210021.6

    申请日：2017-12-22

    申请人： Malvern Panalytical B.V.

    发明人： GATESHKI, Milen ,  BECKERS, Detlef

    IPC分类号： G01N23/046 ,  G21K1/02

    CPC分类号： G01N23/046 ,  G01N2223/309 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/501

    摘要： Apparatus for computed tomography is described that is also suitable for X-ray diffraction. The computed tomography measurement uses a line focus 8 and passes the X-rays from the line focus through a perpendicular slit 22 and then through a sample onto a two dimensional detector. A plurality of images are taken, each with the sample rotated about a rotation axis 14 by a different amount, and combined to create a computed tomography image.