公开(公告)号：EP2530460A2

公开(公告)日：2012-12-05

申请号：EP12169742.9

申请日：2012-05-29

申请人： General Electric Company

发明人： Rose, Curtis Wayne ,  Deaton, Jr,, John Broddus

IPC分类号： G01N27/00 ,  G01N29/30 ,  G01N29/44 ,  G01N21/93 ,  G01N23/00

CPC分类号： G01N29/4436 ,  B33Y80/00 ,  G01N21/91 ,  G01N21/93 ,  G01N29/043 ,  G01N29/30 ,  G01N29/4427 ,  G01N2291/0258 ,  G05B19/401

摘要： An engineering component (60) with a designed defect and use of an engineering component (60) with a designed defect to evaluate a production component are disclosed. A test component (70) having a known defect is manufactured. This known defect is a flaw that is intentionally included in the test component (70). The test component (70) is then analyzed to obtain a test profile (40) of the defect. In addition, the engineering component (60) to be tested is analyzed to obtain a production profile (40). This production profile (40) is compared with the test profile (40) to determine whether the engineering component (60) has a defect that corresponds to the known defect.

摘要翻译： 工程构件（60）具有设计的缺陷和使用工程构件（60）的具有设计的缺陷，以评估制造组分是游离缺失盘。 具有已知的缺陷的测试元件（70）被制造。 这个缺陷是公知的缺陷没有被有意地包括在测试元件（70）。 然后将试验部件（70）进行分析，以获得缺陷的测试配置文件（40）。 此外，待测试的工程构件（60）进行分析，以获得生产轮廓（40）。 该生产轮廓（40）与测试轮廓（40），以确定是否矿的工程构件（60）具有一个缺陷确实对应于已知的缺陷进行比较。