公开(公告)号：EP3155365A1

公开(公告)日：2017-04-19

申请号：EP15730648.1

申请日：2015-06-10

申请人： Hexagon Metrology, Inc

发明人： FERRARI, Paul, A. ,  JUNG, Hyun, Kwon ,  MCKNIGHT, James, F.

IPC分类号： G01B11/26 ,  G01D5/34 ,  G01B5/012 ,  G01B7/012 ,  G01N29/22

CPC分类号： G01B5/012 ,  G01B7/012 ,  G01B11/007 ,  G01B15/08 ,  G01B17/08 ,  G01B21/047 ,  G01D5/34 ,  G01N29/225

摘要： An articulating probe for use with a coordinate measuring machine comprises an attachment portion, a measuring portion, and at least one articulating joint. The attachment portion can be configured for attachment to a coordinate measuring machine. The measuring portion can be configured to contact an object to be measured by the coordinate measuring machine. The at least one articulating joint can be configured to allow rotation between the attachment portion and the measuring portion. Further, the articulating joint can comprise an angular sensor configured to measure an angle of the joint.

摘要翻译： 用于与坐标测量机一起使用的铰接探头包括附接部分，测量部分和至少一个铰接接头。 附接部分可以构造成用于附接到坐标测量机。 测量部分可以被配置成通过坐标测量机接触被测物体。 所述至少一个铰接接头可构造成允许所述附接部分和所述测量部分之间的旋转。 此外，铰接接头可以包括构造成测量接头的角度的角度传感器。