摘要:
Ein integrierter Halbleiterspeicher weist Speicherzellen (MC) auf, die zu adressierbaren normalen Einheiten (WL) und zu wenigstens einer redundanten Einheit (RWL1) zum Ersetzen einer der normalen Einheiten (WL) zusammengefaßt sind. Weiterhin weist der Halbleiterspeicher einen Adreßbus (3), auf dem eine Adresse (ADR) anlegbar ist, und eine Redundanzschaltung (1) auf, die mit dem Adreßbus (3) verbunden ist. Die Redundanzschaltung (1) dient zur Auswahl der redundanten Einheit (RWL1). Eine Verarbeitungseinheit (2) ist eingangsseitig mit einem Anschluß (A1) des Adreßbusses (3) sowie mit einem Anschluß für ein Testsignal (TM) verbunden und ausgangsseitig mit einem Eingang (E1) der Redundanzschaltung (1). Ein Testen der redundanten Einheit (RWL1) ist vor dem Programmieren der Reparatur-Information in der Redundanzschaltung (1) möglich. Der dazu benötigte Schaltungsaufwand ist vergleichsweise gering.
摘要:
Es ist eine elektronische Treiberschaltung für Wortleitungen (WL) einer Speichermatrix (3) vorgesehen, wobei kodierte Ausgänge (IV0-IV3) einer Treiberquelle (2), insbesondere einer Strom-/Spannungsquelle, auf selektierte Wortleitungen (WL i-2 -WL i+1 )durchgeschaltet werden. Dabei werden die Wortleitungen (WL) blockweise durch ein Steuersignal (SLNP; SLN1; SLN2) selektiert und daran die Ausgänge der Treiberquelle (2) angelegt. Durch die Kodierung der Treiberquelle (2) wird dann die jeweilige aktive Wortleitung (Wl i )ausgewählt.
摘要:
Ein integrierter Halbleiterspeicher weist Speicherzellen (MC) auf, die zu adressierbaren normalen Einheiten (WL) und zu wenigstens einer redundanten Einheit (RWL1) zum Ersetzen einer der normalen Einheiten (WL) zusammengefaßt sind. Weiterhin weist der Halbleiterspeicher einen Adreßbus (3), auf dem eine Adresse (ADR) anlegbar ist, und eine Redundanzschaltung (1) auf, die mit dem Adreßbus (3) verbunden ist. Die Redundanzschaltung (1) dient zur Auswahl der redundanten Einheit (RWL1). Eine Verarbeitungseinheit (2) ist eingangsseitig mit einem Anschluß (A1) des Adreßbusses (3) sowie mit einem Anschluß für ein Testsignal (TM) verbunden und ausgangsseitig mit einem Eingang (E1) der Redundanzschaltung (1). Ein Testen der redundanten Einheit (RWL1) ist vor dem Programmieren der Reparatur-Information in der Redundanzschaltung (1) möglich. Der dazu benötigte Schaltungsaufwand ist vergleichsweise gering.
摘要:
Bei einem insbesondere ferroelektrischen Halbleiter-Speicher mit einem differentiellen Schreib-/Leseverstärker (SA), der über Transfertransistoren (T) mit einem aus einer Bitleitung (BLi) und einer entsprechenden Referenzbitleitung (/BLi) bestehenden Bitleitungspaar verbunden ist zum Lesen und Schreiben von Daten aus und in den Speicherkondensator (MC), ist zur Steigerung der Genauigkeit der Bitleitungsreferenzspannung vorgesehen, dass eine Hauptreferenzbitleitung (/BL0) über ein Ladungs-Schaltelement (TL) mit einer Referenzspannung (VREF) verbunden ist, und dass zumindest eine weitere Referenzbitleitung (/BLi) über ein Ausgleichs-Schaltelement (TA) zum Ladungsausgleich zwischen den Referenzbitleitungen mit der Hauptreferenzbitleitung verbunden ist.
摘要:
Die integrierte Schaltung weist ein erstes Decoderelement (DE1) auf, das drei Betriebszustände hat, in denen es an einem Ausgang (OUT) drei jeweils unterschiedliche Potentiale (-2V, 0V, 4V) erzeugt, wobei das zweite Potential (0V) zwischen dem ersten (-2V) und dem dritten (4V) Potential liegt.
摘要:
Bei einem insbesondere ferroelektrischen Halbleiter-Speicher mit einem differentiellen Schreib-/Leseverstärker (SA), der über Transfertransistoren (T) mit einem aus einer Bitleitung (BLi) und einer entsprechenden Referenzbitleitung (/BLi) bestehenden Bitleitungspaar verbunden ist zum Lesen und Schreiben von Daten aus und in den Speicherkondensator (MC), ist zur Steigerung der Genauigkeit der Bitleitungsreferenzspannung vorgesehen, dass eine Hauptreferenzbitleitung (/BL0) über ein Ladungs-Schaltelement (TL) mit einer Referenzspannung (VREF) verbunden ist, und dass zumindest eine weitere Referenzbitleitung (/BLi) über ein Ausgleichs-Schaltelement (TA) zum Ladungsausgleich zwischen den Referenzbitleitungen mit der Hauptreferenzbitleitung verbunden ist.