摘要:
Die Erfindung betrifft ein Überspannungsschutzelement und ein Verfahren zur Herstellung eines Überspannungsschutzelements. Auf einem Substrat 1 sind eine erste Elektrodenschicht 2 und eine zweite Elektrodenschicht 3 übereinander aufgebracht und weisen zueinander ein Abstand d auf, der durch die Dicke einer Abstandsschicht 4 bestimmt ist. Die Abstandsschicht 4 weist eine Durchbrechung 5 auf, die zwischen den Elektrodenschichten 2, 3 einen Hohlraum 6 bildet.
摘要:
Ein Halbleiter-Bauelement (1a) mit wenigstens einer hochdotierten Diode, insbesondere mit einer Zenerdiode oder einer Tunneldiode, und wenigstens einer parallel geschalteten Schottky Diode, welches ein hochdotiertes Substrat (4,4a) eines ersten Dotierungstyps aufweist, das bereichsweise von einer hochdotierten Schicht (6,15) eines zweiten Dotierungstyps zur Bildung eines pn-Übergangs (8,16) kontaktiert ist und auf dem eine niedrig dotierte Epitaxieschicht (5) gebildet ist. Auf die dem Substrat (4) abgewandte Seite der Epitaxieschicht (5) ist ein die hochdotierte Schicht (6,15) zumindest teilweise überdeckendes Schottkymetall (11) aufgebracht zur Bildung eines Schottky-Übergangs (13,18) zwischen dem Schottkymetall und der Epitaxieschicht (5).