摘要:
Die Erfindung betrifft eine Verzögerungsschaltung mit einstellbarer Verzögerungszeit für die Ausgabe eines aus mindestens einem Bit bestehenden Binärsignals. Sie zeichnet sich durch ein als FIFO (first-in, first-out) ausgebildetes Schieberegister (2) aus, in das in Abhängigkeit der gewünschten Verzögerungszeit Initialisierungsdaten eingeschrieben werden. Ferner wird ein Verfahren zur Verzögerung eines Binärsignals angegeben.
摘要:
A timing generator for generating arbitrarily delayed pulses, in which, upon each readout of period data from a period data memory (21), a computing section (25) subtracts its accumulated value from delay data read out of a delay data memory (22) and upon inversion of the sign of the subtracted value, the immediately preceding subtracted value is provided to a delayed pulse generator (26), which generates a pulse at the timing corresponding to the subtracted value applied thereto.
摘要:
A timing subsystem 10 including several test period generators for supplying a variety of timing signals to a device under test. Major, minor, and free-run period generators each supply various timing signals to a multiplexer 18, which selectively connects the timing signals to timing generators 20. A central processing unit 28 supplies data to the period generators and timing generators to define their respective timing signals. Timing signals generated by the major period generator 12 define the overall testing rate. The minor period generator 14 generates multiple timing signals within the periods of the major clock signals to permit higher clock rates. Timing signals that are independent of the major clock periods are generated by the free-run period generator 16. An external synchronizer circuit 26 provides a feedback loop from the device under test 22 to the major period generator. A reference driver trigger delay circuit 27 provides means for calibrating the timing generators. Each of the three period generators includes two interconnected timing interval generators 30 and 40 that alternately generate overlapping timing signals. Each timing interval generator includes a stop-restart oscillator 32, a counter 34, and a delay-line vernier 36. Upon the receipt of a start signal, the oscillator stops and restarts to align its clock pulses to the start signal. The oscillator output clocks the counter, which supplies a signal to the vernier when a preselected number is reached. The vernier delays the counter signal by a preselected delay and issus a signal that designates the end of the period.
摘要:
A plurality of test signal applying and monitoring circuits are coupled to pins of an electronic device being tested to force test stimuli signals onto input pins of the device under test. The response signals are monitored while the device is being tested. Each test signal applying and monitoring circuit includes a node to be coupled to a pin of the device under test, a digitally programmed source for supplying a test signal connectable to the node by a first switch, and a comparison circuit connected to the node by a second switch for indicating the relative amplitude of the response signal with respect to a programmed reference level. The digitally programmed source is included for providing gated voltage-current crossover forcing functions during functional testing to minimize the disturbance when the device being tested is connected and to protect out of tolerance devices. Progammable voltage and current values define a pass window to assure a non-ambiguous go/no-go result during testing. Other features are also disclosed.
摘要:
A timing subsystem 10 including several test period generators for supplying a variety of timing signals to a device under test. Major, minor, and free-run period generators each supply various timing signals to a multiplexer 18, which selectively connects the timing signals to timing generators 20. A central processing unit 28 supplies data to the period generators and timing generators to define their respective timing signals. Timing signals generated by the major period generator 12 define the overall testing rate. The minor period generator 14 generates multiple timing signals within the periods of the major clock signals to permit higher clock rates. Timing signals that are independent of the major clock periods are generated by the free-run period generator 16. An external synchronizer circuit 26 provides a feedback loop from the device under test 22 to the major period generator. A reference driver trigger delay circuit 27 provides means for calibrating the timing generators. Each of the three period generators includes two interconnected timing interval generators 30 and 40 that alternately generate overlapping timing signals. Each timing interval generator includes a stop-restart oscillator 32, a counter 34, and a delay-line vernier 36. Upon the receipt of a start signal, the oscillator stops and restarts to align its clock pulses to the start signal. The oscillator output clocks the counter, which supplies a signal to the vernier when a preselected number is reached. The vernier delays the counter signal by a preselected delay and issus a signal that designates the end of the period.
摘要:
In einer Schaltungsanordnung zur variabel einstellbaren Verzögerung digitaler Signale soll eine matrixförmige Speicheranordnung (SP) verwendet werden bei der als Speicherelemente Kippglieder in Form von zwei miteinander rückgekoppelten Invertem vorgesehen sind; welche die Daten zwischen einer Schreibbitleitung (b s ) und einer Lesebitleitung - (b,) übertragen, wobei dazu die Steuerung über Schreibwortleitungen (w s ) bzw. der Lesewortleitungen (w 1 ) erfolgt, welche von einem Zeilenwähler - (P,...P n ) angesteuert werden der vom Eingangsdatentakt taktgesteuert, kontinuierlich fortschaltbar und jederzeit rücksetzbar ist und je zwei in der phase gegeneinander versetzte Signalausgänge je wählschritt aufweist. Über eine Datenleitung (D i ) werden die zu verzögernden Daten der Speicheranordnung - (SP) zugeführt. Eine Auswahleinrichtung (AUS) zum Auswählen der Spalten (Z,...Z m ) der Speicheranordnung (SP) ist zwischen zwei benachbarten Spalten umschaltbar und wird durch einen Teil eines externen Verzögerungszeit-Einstelldatenwortes - (V N+1 ...V s ) und einem Steuersignal (ST) von (EST) gesteuert und gibt an einem Ausgang (D o die verzögerten Datensignale aus. Eine Datentaktgesteuerte Einstell-und Steuereinrichtung (EST) generiert aus einem Verzögerungs-Eingstelldatenwort - (V 1 ......V S ) ein Rückstellsignal ( RESET ) für die Speicheranordnung (SP) und ein Steuersignal (ST) für die Auswahleinrichtung (AUS). Durch ein externes Rücksetzsignal (RESET) können die Speicheranordnung (SP) und die Einstell-und Steuereinrichtung (EST) unmittelbar zurückgesetzt werden.
摘要:
Eine Schaltungsanordnung mit einer matrixförmigen Speicheranordnung zur variabel einstellbaren Verzögerung digitaler Signale, in weicher Schaltungsanordnung eine Auswahleinrichtung - (AUS) zum Auswählen von Spalten der Speicheranordnung (SP) vorgesehen ist, die zwischen zwei ausgewählten benachbarten Spalten umschaltbar ist und der ein Teil eines externen Verzögerungszeit-Einstelldatenwortes zur Auswahl dieser Spalten zuführbar ist. Zum Umschalten ist zwischen den beiden benachbarten Spalten eine dynamische Umschaltung mittels eines zugeführten Steuersignals (ST) vorgesehen. Eine Einstell-und Steuereinreichtung (EST) ist vorgesehen, der das gesamte externe Verzögerungszeit-Einstelldatenwort zugeführt wird, die ein Rückstellsignal ( ) für die Speicheranordnung (SP) und das Steuersignal (ST) für die Auswahleinrichtung (AUS) erzeugt und der ein externes Rücksetzsignal (RESET) über einen Rücksetzeingang zugeführt, wird welches dazu benutzt wird, die Einstell-und Steuereinrichtung (EST) unmittelbar und die Speicheranordnung (SP) mittelbar rückzustellen. Die Speicheranordnung (SP) weist einen Dateneingang (D,) auf, über den die zu verzögernden Datensignale eingebbar sind. Die Auswahleinrichtung (AUS) weist einen Datenausgang - (D o ) auf, über den die verzögerten Datensignale ausgebbar sind. Die Auswahleinrichtung (AUS) ist mit Dateneingängen (E,...E M ) mit Datenausgängen - (Z,...Z M ) der Speicheranordnung (SP) verbunden, und die Einstell-und Steuereinrichtung (EST) ist datentaktgesteuert.
摘要:
In a delay element (2) according to the prior art, comprising a FIFO (2) it is only possible to obtain a delay value which is equal to an integer number of symbol periods. By using a phase shifter (8) for obtaining an arbitrary phase shift between a write control signal controlling a write operation of the FIFO memory and a read control signal controlling a read operation of the FIFO memory, a delay value being not an integer value of the symbol period can be obtained.
摘要:
A delay circuit includes a memory (4) addresses of which is designated by a counter (6) incremented in response to each clock signal from an initial value set by an initial value setting circuit (7) to an end value. A digital signal is written into an address as designated and read and converted into an analog signal to be outputted at an output terminal through a buffer amplifier (13). A delay time is determined by the writing timing and the reading timing of the digital signal. If the delay time is to be varied in the course of a delaying operation, a further initial value is set in the counter. A control signal for returning the counter to the initial value is generated by a first signal generating circuit (9) when the end value is reached and a setting completion signal is generated by a second signal generating circuit (11) when a setting of the further initial value is completed, and in response to both the signals, a muting signal is generated by a muting signal generating circuit, whereby the buffer amplifier mutes the output signal in response to the muting signal to prevent a noise due to random data from occurring at the output terminal.