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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP2008525765A
公开(公告)日：2008-07-17
申请号：JP2007547334
申请日：2005-12-21
Applicant: ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se
Inventor： ティール エルヴィン , ゼンス リューディガー
IPC: G01N17/00
CPC classification number: G01N17/004 , G01J3/50
Abstract: 本発明は、試料Ｐと対照試料Ｒとの物理的に測定可能な特性の差異を検出する方法において、（ｉ）試料Ｐを提供し、（ｉｉ）対照試料Ｒを提供し、（ｉｉｉ）平面対照フィールドＲＦを提供し、（ｉｖ）この対照試料Ｒの領域及び対照フィールドＲＦから第１のパターンを生じさせ、そして試料Ｐの領域及び対照フィールドＲＦから第２のパターンを生じさせ、その際、第１のパターン及び第２のパターンを位置依存性及び波長依存性のパターン関数Ｍ（ｘ，ｙ，λ）により表し、（ｖ）第１のパターンについては、自由に選択可能な時点ｔ
0 において、かつ第２のパターンについては時点ｔにおいて、検出器により第１のパターン及び第２のパターンによる分析放射線の透過、反射又は散乱をそれぞれ、第１のパターン及び第２のパターンの位置座標（ｘ，ｙ）並びに分析放射線の波長λの関数として検出し、こうして、物理的に分離された対照応答関数Ｒ
0 （ｘ，ｙ，λｔ
0 ）及び第１の対照フィールド応答関数ＲＦ
0 （ｘ，ｙ，λ，ｔ
0 ）の領域を含有する第１のパターン応答関数Ｍ
0 （ｘ，ｙ，λ，ｔ
0 ）を第１のパターンについて決定し、物理的に分離された試料応答関数Ｐ
t （ｘ，ｙ，λ，ｔ）及び第２の対照フィールド応答関数ＲＦ
t （ｘ，ｙ，λ，ｔ）を含有する第２のパターン応答関数Ｍ
t （ｘ，ｙ，λ，ｔ）を第２のパターンについて決定し、その際、これらの関数Ｍ
0 及びＭ
t は、それぞれ、透過、反射又は散乱された分析放射線の強度を、第１のパターンもしくは第２のパターンの位置座標（ｘ，ｙ）及び波長λに応じて、異なる検出の時点ｔ
0 もしくはｔで表し、（ｖｉ）試料応答関数Ｐ
t の補正を、第１の対照フィールド応答関数ＲＦ
0 及び第２の対照フィールド応答関数ＲＦ
t により、検出器により誘導された位置依存性及び時間依存性の変動を試料応答関数Ｐ
t から排除することにより行い、その際、補正試料応答関数Ｐ
t，korr が得られ、（ｖｉｉ）この補正試料応答関数Ｐ
t，korr 及び対照応答関数Ｒ
0 から、物理的に測定可能な特性の変化を決定する、試料Ｐと対照試料Ｒとの物理的に測定可能な特性の差異を検出する方法に関する。-
2.发明专利
公开(公告)号：JP2009522541A
公开(公告)日：2009-06-11
申请号：JP2008547959
申请日：2006-12-27
Applicant: ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se
Inventor： アーラース ヴォルフガング , ティール エルヴィン , ヴァンヴァカリス クリストス , ゼンス リューディガー
CPC classification number: G01J3/4406 , G01J3/02 , G01J3/0232 , G01J3/457 , G01J2001/4242 , G01N21/31 , G01N21/643 , G01N21/645 , G01N2021/6491 , G01N2201/129
Abstract: 本発明は、媒体中に含有される少なくとも１つの化学化合物Ｖを検出する方法に関し、前記方法は、該化合物が媒体中に含有されているかどうかを検出するための検証ステップ、ならびに該化学化合物の濃度を決定する分析ステップから成る。
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3.发明专利
公开(公告)号：JP4521035B2
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：JP2007547334
申请日：2005-12-21
Applicant: ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se
Inventor： ティール エルヴィン , ゼンス リューディガー
IPC: G01N17/00
CPC classification number: G01N17/004 , G01J3/50
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公开(公告)号：JP2011501111A
公开(公告)日：2011-01-06
申请号：JP2010528384
申请日：2008-10-08
Applicant: ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se
Inventor： アーラース ヴォルフガング , ティール エルヴィン , ヴァンヴァカリス クリストス , ゼンス リューディガー
CPC classification number: G01N21/255 , G01J3/0272 , G01J3/42 , G01J2003/104 , G01N21/0303 , G01N21/55 , G01N21/643 , G01N21/645 , G01N33/28 , G01N2021/0143 , G01N2021/0389 , G01N2021/6419 , G01N2021/6421 , G01N2021/6491 , G01N2201/0221 , G01N2201/0222 , G01N2201/0624 , G01N2201/0625 , G01N2201/0627
Abstract: ここで提案されるのは、試験体（１１２）の少なくとも１つの光学特性を決定する装置（１１０）である。 装置（１１０）には、上記の試験体（１１２）に励起光（１２２）を加える調整可能な励起光源（１１４；４１０）が含まれている。 装置（１１０）にはさらに試験体（１１２）から出射される検出光（１３２，１３６；３１４）を検出する検出器（１２８，１３０；３１２）が含まれている。 上記の励起光源（１１４；４１０）には発光ダイオードアレイ（１１４）が含まれており、これは、少なくとも一部分がモノリシック発光ダイオードアレイ（１１４）として構成されている。 このモノリシック発光ダイオードアレイ（１１４）にはそれぞれ異なる発光スペクトルを有する少なくとも３つの発光ダイオード（４２６）が含まれている。
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公开(公告)号：JP2008507685A
公开(公告)日：2008-03-13
申请号：JP2007521883
申请日：2005-07-19
Applicant: ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピアBasf Se
Inventor： ティール エルヴィン , ヴァンヴァカリス クリストス , エーベルト ゾフィア , ゼンス リューディガー
CPC classification number: G01N21/359 , G01N33/2882 , G01N2021/3196
Abstract: 本発明は、ａ）均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ'を含有する媒体に可変波長λの分析ビームを照射し、ｂ）スペクトル測定関数Ｉ'（λ）を吸収光、反射光、放出光および／または散乱光について測定することによって媒体中に均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ'の同一性または非同一性を測定する方法であって、方程式（Ｉ）により、相関関数Ｋ（δλ, ｃ', ｃ）を測定し、この場合Ｋ（δλ, ｃ', ｃ）は、関数Ｉ'（λ, ｃ'）とＩ（λ, ｃ）との相対シフトδλおよび少なくとも１つの化合物Ｖ'およびＶの濃度ｃ'およびｃに依存する相関度を表わし、ｃ'は、公知の同一性を有するかまたは同一と推定される、媒体中に均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ'の濃度を表わし、ｃは、公知の同一性を有する、媒体中に均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖの濃度を表わし、Ｉ'（λ, ｃ'）は、均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ'を濃度ｃ'で含有する媒体の測定関数を表わし、Ｉ（λ, ｃ）は、均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖを濃度ｃで含有する媒体の比較関数を表わし、Ｎは、標準ファクターを表わし、相関関数Ｋ（δλ, ｃ', ｃ）により、化合物Ｖ'とＶとの同一性または非同一性を算出することによって特徴付けられる、媒体中に均一に分布された少なくとも１つの化合物Ｖ'の同一性または非同一性を測定する方法に関する。
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