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公开(公告)号：KR20210025553A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：KR1020210024813A
申请日：2021-02-24
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H04N19/30 , H04N19/105 , H04N19/117 , H04N19/176 , H04N19/82
CPC classification number: H04N19/30 , H04N19/105 , H04N19/117 , H04N19/176 , H04N19/80 , H04N19/82
Abstract: 본 발명의 일 실시예에 따른 영상 복호화 방법은 복호화 대상이 되는 제2 계층 픽쳐가 참조할 수 있는 제1 계층 픽쳐에 적용될 필터의 종류를 결정하는 필터 종류 결정 단계와; 상기 제1 계층 픽쳐에서 상기 필터가 적용될 적용 대상을 결정하는 적용 대상 결정 단계와; 결정된 필터 종류에 기초하여 필터 적용 대상에 필터링을 수행하는 단계와; 필터링 된 제1 계층 픽쳐를 제2 계층 참조 픽쳐 리스트에 추가하는 단계를 포함할 수 있다. 이로써, 상위 계층에서 예측 오차를 줄이고 부호화 효율을 향상시키는 영상의 복호화 방법 및 이를 이용하는 장치가 제공된다.
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公开(公告)号：KR20210025510A
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：KR1020200108765A
申请日：2020-08-27
Applicant: 한국전자통신연구원 , 경남대학교 산학협력단
IPC: H04N19/119 , H04N19/129 , H04N19/70
CPC classification number: H04N19/119 , H04N19/129 , H04N19/70
Abstract: 영상 부호화/복호화 방법 및 장치가 제공된다. 본 개시에 따른 영상 복호화 방법은, 현재 픽처가 복수의 타일들로 구성된 경우, 상기 복수의 타일들 중 적어도 하나 이상의 타일이 브릭으로 분할되었는지 여부에 관한 브릭 분할 허용 정보를 복호화하는 단계, 상기 브릭 분할 허용 정보가 상기 복수의 타일들 중 적어도 하나 이상의 타일이 브릭으로 분할되었음을 나타내는 경우, 상기 현재 타일이 브릭으로 분할되었는지 여부에 관한 브릭 분할 정보를 복호화하는 단계, 상기 브릭 분할 정보가 상기 현재 타일이 브릭으로 분할되었음을 나타내는 경우, 상기 현재 타일에 포함된 복수의 브릭들의 높이를 나타내는 브릭 높이 정보를 복호화하는 단계, 및 상기 브릭 높이 정보에 따라, 상기 현재 타일에 포함된 복수의 브릭들의 높이를 결정하는 단계를 포함한다.
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53.发明专利
公开(公告)号：KR102222726B1
公开(公告)日：2021-03-08
申请号：KR1020140114013A
申请日：2014-08-29
Applicant: 한국전자통신연구원
CPC classification number: C12Q1/686 , C12M1/38 , B01L7/52 , C01B32/05 , C12Q1/68 , H05B3/145 , H05B3/42 , B01L2200/12 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/1827 , G01N2201/0231 , H05B2203/013 , H05B2203/037
Abstract: 유전자 증폭 및 검출 장치는 내부에 형성된 챔버를 포함한 유전자 증폭 칩; 상기 챔버 내에 충진되고, 형광 물질을 포함하는 반응액; 상기 유전자 증폭 칩의 일 측에 위치된 광원; 상기 유전자 증폭 칩의 타 측에 위치된 광 검출기; 및 상기 반응액을 가열하도록, 상기 유전자 증폭 칩의 내부 또는 외부에 형성된 그래핀 히터를 포함한다.
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54.发明专利
公开(公告)号：KR102222724B1
公开(公告)日：2021-03-08
申请号：KR1020150038333A
申请日：2015-03-19
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: 상술한 기술적 과제들을 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 유기전자소자의 보호막 결함 검사 방법은 기판 상의 투명전극, 상기 투명전극 상의 유기물층, 상기 유기물층 상의 금속 전극, 상기 금속 전극 상의 광발광층, 및 상기 광발광층 상의 보호막을 포함하는 유기전자소자에 검사광을 조사하는 것, 및 상기 검사광의 조사에 의해 상기 광발광층에서 생성된 방출광을 검출하는 것을 포함할 수 있다. 상기 보호막은 그의 내부 또는 상면에 결함을 포함하되, 상기 방출광은 상기 결함을 투과하는 제 1 방출광, 및 결함을 포함하지 않는 영역을 투과하는 제 2 방출광을 포함할 수 있다. 상기 결함은 상기 제 1 및 2 방출광들의 세기의 차이에 의해 검출될 수 있다.
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55.发明专利
公开(公告)号：KR20210024510A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：KR1020210022003A
申请日：2021-02-18
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H04N19/31 , H04N19/105 , H04N19/184 , H04N19/70
CPC classification number: H04N19/31 , H04N19/105 , H04N19/157 , H04N19/172 , H04N19/184 , H04N19/187 , H04N19/44 , H04N19/463 , H04N19/51 , H04N19/70
Abstract: 본 발명은 적어도 하나의 시간적 서브 레이어(temporal sub-layer)를 포함하는 계층이 복수 개로 구성된 영상의 인터 레이어 예측(inter-layer prediction) 방법에 관한 것으로, 인터 레이어 예측을 위한 시간적 서브 레이어에 대한 정보를 획득하는 단계, 상기 시간적 서브 레이어에 대한 정보를 기반으로 현재 픽처의 인터 레이어 예측을 위해 사용되는 참조 픽처를 유도하는 단계 및 상기 참조 픽처를 기반으로 상기 현재 픽처의 인터 레이어 예측을 수행하는 단계를 포함한다.
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Patent Agency Ranking56.发明专利
公开(公告)号：KR102239763B1
公开(公告)日：2021-04-13
申请号：KR1020180066163A
申请日：2018-06-08
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: 본 발명은 미터링 보정 파라미터 결정 방법에 관한 것으로, 미터링 보정 파라미터 결정 방법은 태양광 패널에서 발생되는 전압-전류를 미터링하는 과정에서 발생하는 전압-전류 측정기의 측정 오차를 보정하기 위한 미터링 보정 파라미터를 이용함으로써, 태양광의 발전량 모니터링과 관련된 전압-전류 미터링의 정확도를 높인다.
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公开(公告)号：KR102238794B1
公开(公告)日：2021-04-09
申请号：KR1020150041711A
申请日：2015-03-25
Applicant: 한국전자통신연구원
CPC classification number: H04N13/204 , G06T15/00 , H04N13/239 , H04N13/257
Abstract: 본 발명은 둘 이상의 촬영 장치를 조합하여 영상을 촬영하고 촬영된 영상을 이용하여 영상을 생성, 제공함으로써 촬영 장치의 촬영 속도를 증가시키는 방법 및 그 촬영 장치를 제공하는 것으로서, 본 발명의 일실시예에 따르면, RGB 영상 취득 장치와 뎁스 영상 취득 장치가 시간적으로 교대로 촬영을 하며 영상을 획득한다. 그리고 교대로 촬영함에 따라 번갈아가며 획득되는 제1 RGB 영상과 제1 뎁스 영상에 각각 대응하는 제2 뎁스 영상과 제2 RGB 영상을 합성하여 함께 출력함으로써 실제적인 촬영 속도를 두 배 증가시키는 방법을 제공한다.
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公开(公告)号：KR102238000B1
公开(公告)日：2021-04-08
申请号：KR1020150066585A
申请日：2015-05-13
Applicant: 한국전자통신연구원
CPC classification number: G16B99/00 , G06F9/3867
Abstract: 인간 유전체 정보에 있어서 중요한 가장 기본적인 데이터인 대립 유전자 카운팅(allele counting)값을 고속으로 추출해 내는 장치 및 방법을 제시한다. 제시된 장치는 인간 유전체 데이터를 포함하는 하나 이상의 BAM 파일을 입력받는 BAM 파일 입력부, 및 BAM 파일을 근거로 대립 유전자의 수를 카운팅하는 카운팅부를 포함한다.
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公开(公告)号：KR102237991B1
公开(公告)日：2021-04-08
申请号：KR1020150039009A
申请日：2015-03-20
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H04L29/06
CPC classification number: H04L69/162 , H04L67/42 , H04L69/10
Abstract: 호스트들 사이의 PCIe(peripheral component interconnect express)전용 통신 모듈을 이용한 통신 방법은, 제1호스트의 PCIe 전용 통신 모듈이, 제2호스트로부터 수신된 연결 명령을 저장할 제1연결 버퍼를 생성하고, 대기 소켓을 생성하여 상기 제2호스트로부터 연결 요청을 대기하는 단계와, 상기 PCIe 전용 통신 모듈이, 상기 제2호스트로부터 수신된 연결 요청에 응답하여 상기 제2호스트와 연결 가능 여부를 판단하는 단계와, 상기 PCIe 전용 통신 모듈이, 상기 제2호스트와 연결 가능한 것으로 판단되면 데이터를 송수신을 위해 상기 제2호스트와 연결된 제1연결 소켓을 생성하는 단계와, 상기 PCIe 전용 통신 모듈이, 상기 제2호스트로부터 수신된 데이터를 저장할 제1송수신 버퍼를 생성하는 단계와, 상기 PCIe 전용 통신 모듈이, 상기 제1송수신 버퍼를 상기 제1연결 소켓에 할당하고 상기 제1호스트와 상기 제2호스트의 연결을 승인하는 단계와, 상기 PCIe 전용 통신 모듈이, 상기 제2호스트와의 데이터 송수신을 대기하는 단계를 포함한다.
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60.发明专利
公开(公告)号：KR102237211B1
公开(公告)日：2021-04-08
申请号：KR1020150025284A
申请日：2015-02-23
Applicant: 한국전자통신연구원
Abstract: 표시 패널은 반사 모드 또는 발광 모드 중 어느 하나의 모드로 구동할 수 있는 복수의 픽셀들을 포함하되, 상기 복수의 픽셀들 각각은, 광 투과성 재료를 포함하는 제1 기판, 상기 제1 기판과 대향하는 제2 기판, 상기 제1 기판의 상기 제2 기판 방향의 표면 상에 위치하는 제1 전극, 상기 1 전극 상에 위치하고, 환원 및 산화 반응에 의해 발광하는 발광 재료를 포함하는 발광소자 층, 상기 제2 기판의 상기 제1 기판 방향의 표면 상에 위치하는 제2 전극, 상기 제2 전극 상에 위치하고, 환원 및 산화 반응에 의해 착색 또는 탈색되는 반사소자 층 및 상기 발광소자 층 및 상기 반사소자 층 사이에 위치하고, 상기 광의 투과율을 조절하는 전해질 층을 포함하되, 상기 반사 모드 시, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에는 제1 주파수 이하의 교류 전압이 인가되고, 상기 발광 모드 시, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에는 제2 주파수 이상의 교류 전압이 인가되고, 상기 제2 주파수는 상기 제1 주파수보다 높은 갖는다.
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