公开(公告)号：KR102237211B1

公开(公告)日：2021-04-08

申请号：KR1020150025284A

申请日：2015-02-23

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 김주연 ,  전상훈 ,  이현구 ,  권병화 ,  문제현 ,  박승구 ,  유병곤 ,  이정익 ,  임종태 ,  추혜용 ,  한준한

IPC: G09G3/20 ,  G02F1/133

CPC classification number: G09G3/20 ,  G02F1/133

Abstract: 표시 패널은 반사 모드 또는 발광 모드 중 어느 하나의 모드로 구동할 수 있는 복수의 픽셀들을 포함하되, 상기 복수의 픽셀들 각각은, 광 투과성 재료를 포함하는 제1 기판, 상기 제1 기판과 대향하는 제2 기판, 상기 제1 기판의 상기 제2 기판 방향의 표면 상에 위치하는 제1 전극, 상기 1 전극 상에 위치하고, 환원 및 산화 반응에 의해 발광하는 발광 재료를 포함하는 발광소자 층, 상기 제2 기판의 상기 제1 기판 방향의 표면 상에 위치하는 제2 전극, 상기 제2 전극 상에 위치하고, 환원 및 산화 반응에 의해 착색 또는 탈색되는 반사소자 층 및 상기 발광소자 층 및 상기 반사소자 층 사이에 위치하고, 상기 광의 투과율을 조절하는 전해질 층을 포함하되, 상기 반사 모드 시, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에는 제1 주파수 이하의 교류 전압이 인가되고, 상기 발광 모드 시, 상기 제1 전극 및 상기 제2 전극에는 제2 주파수 이상의 교류 전압이 인가되고, 상기 제2 주파수는 상기 제1 주파수보다 높은 갖는다.

公开(公告)号：KR102226490B1

公开(公告)日：2021-03-12

申请号：KR1020160121574A

申请日：2016-09-22

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 조두희 ,  이종희 ,  조현수 ,  권병화 ,  문제현 ,  박영삼 ,  신진욱 ,  유병곤 ,  이현구 ,  임종태 ,  조남성 ,  한준한

IPC: H05K3/10 ,  H05K3/00 ,  H05K3/18 ,  H05K3/28

CPC classification number: H05K3/101 ,  H05K3/007 ,  H05K3/184 ,  H05K3/281 ,  H05K2201/05

Abstract: 본 발명의 실시예에 따른 유기발광소자의 제조 방법은 유연기판을 형성하는 것, 및 상기 유연기판 상에 유기발광 구조체를 형성하는 것을 포함하되, 상기 유연기판을 형성하는 것은, 제 1 금속막 상에 제 1 폴리머 패턴을 형성하는 것, 상기 제 1 폴리머 패턴에 의해 노출된 상기 제 1 금속막의 일부분 상에 제 2 금속막을 형성하는 것, 상기 제 1 폴리머 패턴 및 상기 제 2 금속막 상에 가스 배리어막을 형성하는 것, 상기 가스 배리어막 상에 제 2 폴리머막을 형성하는 것 및 상기 제 1 금속막을 제거하여 제 1 폴리머 패턴의 일면 및 제 2 금속막의 일면을 노출시키는 것을 포함할 수 있다.

公开(公告)号：KR20210027604A

公开(公告)日：2021-03-11

申请号：KR1020190106369A

申请日：2019-08-29

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 최수경 ,  이현구 ,  권병화 ,  문제현 ,  조현수 ,  강찬모 ,  변춘원 ,  신진욱 ,  조남성

IPC: H01L33/06 ,  H01L33/00 ,  H01L33/08 ,  H01L33/30 ,  H01L33/36 ,  H01L33/44

CPC classification number: H01L33/06 ,  C09K11/06 ,  H01L33/005 ,  H01L33/08 ,  H01L33/30 ,  H01L33/36 ,  H01L33/44 ,  H01L51/502 ,  H01L51/56 ,  C09K2211/1029 ,  H01L2251/303 ,  H01L51/0003 ,  H01L51/0035 ,  H01L51/0037 ,  H01L51/0061 ,  H01L51/0072 ,  H01L51/5056 ,  H01L51/5072

Abstract: 본 발명은 발광 소자 및 이의 제조방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 하부 전극; 상기 하부 전극과 마주하여 배치되는 상부 전극; 상기 하부 전극과 상기 상부 전극 사이의 양자점 발광층; 상기 하부 전극과 상기 양자점 발광층 사이의 전자이동층; 및 상기 상부 전극과 상기 양자점 발광층 사이의 정공이동층을 포함하고, 상기 양자점 발광층은, 양자점, 및 상기 양자점의 표면 상의 제1 리간드 및 제2 리간드를 포함하며, 상기 제1 리간드는 상기 전자이동층에 인접하고, 상기 제1 리간드는 사슬 구조의 유기 화합물이고, 상기 제2 리간드는 상기 정공이동층에 인접하고, 상기 제2 리간드는 고리 구조의 유기 화합물이며, 상기 제2 리간드의 길이는, 상기 제1 리간드의 길이보다 작은 발광 소자에 관한 것이다.

公开(公告)号：KR102222724B1

公开(公告)日：2021-03-08

申请号：KR1020150038333A

申请日：2015-03-19

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 이현구 ,  황치선

IPC: H01L51/56 ,  H01L21/66

CPC classification number: H01L22/12 ,  H01L51/56

Abstract: 상술한 기술적 과제들을 해결하기 위한 본 발명의 실시예에 따른 유기전자소자의 보호막 결함 검사 방법은 기판 상의 투명전극, 상기 투명전극 상의 유기물층, 상기 유기물층 상의 금속 전극, 상기 금속 전극 상의 광발광층, 및 상기 광발광층 상의 보호막을 포함하는 유기전자소자에 검사광을 조사하는 것, 및 상기 검사광의 조사에 의해 상기 광발광층에서 생성된 방출광을 검출하는 것을 포함할 수 있다. 상기 보호막은 그의 내부 또는 상면에 결함을 포함하되, 상기 방출광은 상기 결함을 투과하는 제 1 방출광, 및 결함을 포함하지 않는 영역을 투과하는 제 2 방출광을 포함할 수 있다. 상기 결함은 상기 제 1 및 2 방출광들의 세기의 차이에 의해 검출될 수 있다.