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公开(公告)号：JP2016031371A
公开(公告)日：2016-03-07
申请号：JP2015149994
申请日：2015-07-29
申请人： テクトロニクス・インコーポレイテッド , TEKTRONIX,INC.
发明人： クラウス・エム・エンゲンハルト , ラスズロ・ジェイ・ドボス , ジャン・ピー・ピーターズ・ウィーム
IPC分类号： G01R13/34
CPC分类号： G01D18/00 , G01R13/0272 , G01R31/31709
摘要： 【課題】クロック信号のタイミングエラーを訂正する。 【解決手段】4つのサンプラー212、214、216、218は、それぞれスプリットされたクロック信号を受信する。第1のクロック信号204は、第1のサンプラー212で第1の位相によりサンプリングされ、第2のクロック信号206は、第2のサンプラー214で第1の位相から90度オフセットされた第2の位相によりサンプリングされ、第3のクロック信号208は、第3のサンプラー216で第1の位相から45度オフセットされた第3の位相によりサンプリングされ、そして、第4のクロック信号210は、第4のサンプラー218で第3の位相から90度オフセットされた第4の位相によりサンプリングされる。各サンプラーからの出力がそれぞれデジタル化され、そして、デジタル化された出力に基づいてタイミング訂正が算出される。 【選択図】図2
摘要翻译： 要解决的问题：纠正时钟信号的定时误差。解决方案：四个采样器212,214,216,218中的每一个接收已经被分离的时钟信号。 第一时钟信号204由第一采样器212在第一相位采样，第二时钟信号206由第二采样器214以与第一相位偏移90度的第二相位采样，第三时钟信号208被采样 第三采样器216处于与第一相位偏移45度的第三相位，并且第四时钟信号210由第四采样器218以与第三相位偏移90度的第四相位进行采样。 来自每个采样器的输出被数字化，并且基于数字化输出计算定时校正。选择图：图2
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公开(公告)号：JP2019174458A
公开(公告)日：2019-10-10
申请号：JP2019046449
申请日：2019-03-13
申请人： テクトロニクス・インコーポレイテッド , TEKTRONIX,INC.
发明人： ジャン・ピー・ピーターズ・ウィーム
摘要： 【課題】単一の試験測定装置で、複数のDUTの測定を行う。 【解決手段】管理デバイス220には、1つ以上のプロセッサと、リクエスト・デバイス222からリクエストを受け、これらリクエストをリクエスト・キューとして記憶するメモリがある。各リクエストは、DUT214の識別情報と要求された測定方法を含む。1つ以上のプロセッサは、リクエスト・キューからリクエストを受け、DUT214の識別情報に基づいて、複数のポートからDUT214と関連する1つのポートを選択するよう光スイッチに指示する命令を生成し、リクエストから要求された測定方法を特定し、要求された測定方法及び被試験デバイスの識別情報に基づいて、要求された測定方法を実行するよう試験測定装置を設定する命令を生成する。 【選択図】図2
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公开(公告)号：JP2017040646A
公开(公告)日：2017-02-23
申请号：JP2016142831
申请日：2016-07-20
申请人： テクトロニクス・インコーポレイテッド , TEKTRONIX,INC.
发明人： ジャン・ピー・ピーターズ・ウィーム
CPC分类号： G01R27/28 , G01R31/06 , G01R35/005 , G01R31/31709
摘要： 【課題】サンプリング・モジュールによる時間領域測定を改善する。 【解決手段】試験測定装置が、DUT114から反射されるか又は伝達されたパルス信号を受ける入力部と、反射されたパルス信号とは非同期の基準クロック124を受ける基準クロック入力部と、基準クロックのサンプルを取り込む位相基準モジュール122と、反射されたパルス信号のサンプルを取り込むサンプリング・モジュール110と、基準クロック124の取り込まれたサンプル及び反射されたパルス信号の取り込まれたサンプルに基いて、DUT114のSパラメータを求めるコントローラ118とを含んでいる。 【選択図】図1
摘要翻译： 本发明的一个目的是通过采样模块以提高时域测量。 一种测试和测量装置，用于接收脉冲信号的输入或发送从DUT114，用于接收异步参考时钟124和反射脉冲信号，基准时钟的基准时钟输入反射 相位基准模块122捕获样本，连续服用反射脉冲信号的样本采样模块110，基于与拍摄采样所捕获的样本和反射的参考时钟124的脉冲信号，DUT114第 和用于确定所述参数控制器118。 点域1
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