撮像装置、内視鏡装置および撮像装置の制御方法
    3.
    发明专利
    撮像装置、内視鏡装置および撮像装置の制御方法 审中-公开
    成像装置,内窥镜装置和成像装置控制方法

    公开(公告)号:JP2016184948A

    公开(公告)日:2016-10-20

    申请号:JP2016104909

    申请日:2016-05-26

    Inventor: 奥田 義行

    Abstract: 【課題】 本発明は、特定基準色の照明光の照射時間を長くし、且つ好適なカラー画像を得ることを課題としている。 【解決手段】 本発明は、被写体Aに、基準色3色の照明光を照射可能な照明部23と、照明部23を制御する照明制御部24と、単位撮像期間において、被写体Aの、3色に対応する3個の色画像を時分割で撮像する撮像部22と、撮像した3個の色画像に基づいて、カラー画像を生成する信号処理部12と、を備え、照明制御部24は、単位撮像期間において、赤色の照明光を継続して照射すると共に、単位撮像期間内の2個のブランキング期間において、緑色および青色の照明光をそれぞれ照射することを特徴とする。 【選択図】 図2

    Abstract translation: 要解决的问题:延长特定参考色的光的照射时间,并获得合适的彩色图像。成像装置包括:照射部23,其能够用三种参考色的照明光照射被检体A. ; 控制照射部23的照明控制部24; 用于在单位成像周期内对与被摄体A的三种颜色相对应的三个彩色图像进行时分捕获的成像部分22; 以及信号处理部分12,其基于所捕获的三色图像生成彩色图像。 照明控制部24在单位摄像期间以红色照明光连续地照射被摄体A,并且在单位成像期间,在两个消隐期间以绿色和蓝色照明光进行照射。图2

    計測装置、計測方法及びコンピュータプログラム

    公开(公告)号:JP2019203905A

    公开(公告)日:2019-11-28

    申请号:JP2019161222

    申请日:2019-09-04

    Inventor: 奥田 義行

    Abstract: 【課題】試料の屈折率を計測するために試料に何らかの特殊な部材を接触させなくてもよい計測装置を提供する。 【手段】計測装置100は、試料10の表面10aに照射されたテラヘルツ波THzが表面で反射された後に所定位置に到達するまでに要する第1時間t a1 、t a2 、及び、表面に照射されたテラヘルツ波が試料の裏面で反射された後に所定位置に到達するまでに要する第2時間t a1 、t a2 を、試料に対する位置が互いに異なるテラヘルツ波の複数の照射位置の夫々毎に取得する取得手段1521と、第1及び第2時間に基づいて、試料の屈折率nを算出する算出手段1522とを備える。 【選択図】図1

    静電容量検出装置及び光波長選択フィルタ装置

    公开(公告)号:JPWO2018037463A1

    公开(公告)日:2019-06-20

    申请号:JP2016074410

    申请日:2016-08-22

    Inventor: 奥田 義行

    Abstract: 静電容量検出装置は、被検体(Cx)と第1抵抗要素(R1)とが第1ノードで接続されてなる第1直列回路、及び基準静電容量要素(Cref)と第2抵抗要素(R2)とが第2ノードで接続されてなる第2直列回路が並列接続された並列回路と、並列回路に特定周波数の交流電圧(Vi)を印加する電源回路と、第1ノード及び第2ノード間に接続され、当該ノード間に生じる特定周波数の電圧の位相差を拡大するインダクタ要素(Lb)と、位相差に基づいて被検体の静電容量に応じた電気信号を出力する出力部(100)とを備える。この静電容量検出装置によれば、被検体の静電容量を好適に検出することが可能である。

    電磁波検出装置
    7.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2020038212A

    公开(公告)日:2020-03-12

    申请号:JP2019198993

    申请日:2019-10-31

    Inventor: 奥田 義行

    Abstract: 【課題】温度変化の影響を抑制することができる電磁波検出装置を提供する。 【解決手段】電磁波検出装置は、入射する電磁波の強度に応じた電流を発生する検出素子D1と、該検出素子に電磁波が入射していないときに該検出素子に印加することで、該検出素子に所定電流値の基準電流を発生させる印加電圧の電圧値に基づいて設定されたバイアス電圧を、入射する電磁波の検出時に該検出素子に印加する印加回路OA1を備える。 【選択図】図4

    検出装置及びセンサ装置
    8.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2020031180A

    公开(公告)日:2020-02-27

    申请号:JP2018157268

    申请日:2018-08-24

    Abstract: 【課題】アバランシェダイオードの信号の回復時間を短くする。 【解決手段】検出装置200は、アバランシェダイオード(AD)210、第1抵抗220及び第1素子230を含んでいる。第1抵抗220は、AD210に直列に接続されている。第1素子230は、AD210に並列に接続されている。AD210に第1電流未満の電流が流れる場合、第1素子230には電流が流れない。AD210に第1電流以上の電流が流れる場合、第1素子230に電流が流れる。第1素子230は、ツェナーダイオード(ZD)である。 【選択図】図1

    信号処理装置
    9.
    发明专利
    信号処理装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2020027034A

    公开(公告)日:2020-02-20

    申请号:JP2018152036

    申请日:2018-08-10

    Inventor: 奥田 義行

    Abstract: 【課題】簡易な構成で精度よく測距をすることが可能な信号処理装置を提供する。 【解決手段】第1周波数の第1の正弦波より周波数が低い第2周波数の第2の正弦波を振幅変調した光強度を有するレーザ光の反射光を受光して受信信号を取得する取得部と、受信信号に対し、第1の正弦波に基づく第1の演算及び第1の正弦波とは位相が異なる第3の正弦波に基づく第2の演算を行う第1の演算部22と、第1又は第2の演算の演算結果に対し、第2の正弦波を演算する第3の演算及び第2の正弦波とは位相が異なる第4の正弦波を演算する第4の演算を行う第2の演算部23と、演算結果に対する高周波成分の遮断により、受信信号の第1周波数の余弦成分である第1成分、第1周波数の正弦成分である第2成分、第2周波数の余弦成分である第3成分、及び第2周波数の正弦成分である第4成分を検出する信号成分検出部と、を有する。 【選択図】図1

    撮像装置
    10.
    发明专利
    撮像装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2018143003A

    公开(公告)日:2018-09-13

    申请号:JP2018098616

    申请日:2018-05-23

    Inventor: 奥田 義行

    Abstract: 【課題】本発明は、特定基準色の照明光の照射時間を長くし、且つ好適なカラー画像を得ることを課題としている。 【解決手段】本発明は、1の特定色と他の非特定色とから成る複数色の照明光を照射可能な照明部を制御する制御部と、単位撮像期間において撮像部の撮影により画像を生成する処理部と、を備え、制御部は、単位撮像期間において、非特定色の照明光の照射時間が1の特定色の照明光の照射時間の一部と重畳するよう照明部を制御することを特徴とする。 【選択図】図2

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