公开(公告)号：JPWO2019181518A1

公开(公告)日：2021-02-18

申请号：JP2019008940

申请日：2019-03-06

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 齋藤 繁 ,  石井 基範 ,  竹本 征人 ,  香山 信三

IPC: G01S17/894 ,  G01S7/487 ,  G01S17/10

Abstract: 測定距離の分解能の向上を図ることができる距離測定装置、距離測定システム、距離測定方法、及びプログラムを提供する。距離測定装置(10)は、測定波(W1)を送波する送波部(2)と、対象物(4)で反射した測定波(W1)を受波する受波部(3)と、に接続される。距離測定装置(10)は、距離測定部(12)を備える。距離測定部(12)は、送波部(2)が測定波(W1)を送波してから受波部(3)が測定波(W1)を受波するまでの時間に基づいて、対象物(4)までの距離を算出する。測定可能距離を分割した複数の距離区間のうち、連続する前段距離区間と後段距離区間とにわたって対象物(4)が存在する場合がある。この場合、距離測定部(12)は、前段距離区間に対応した期間における受波部(3)での前段受波量、及び後段距離区間に対応した期間における受波部(3)での後段受波量に基づいて、対象物(4)までの距離を算出する。

公开(公告)号：JPWO2019186838A1

公开(公告)日：2020-12-17

申请号：JP2018013007

申请日：2018-03-28

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 能勢 悠吾 ,  石井 基範 ,  香山 信三 ,  春日 繁孝

IPC: G01S7/4861 ,  G01S17/89

Abstract: 受光部(200)は、露光状態と遮光状態とに切り換え可能に構成され、露光状態において受光した光に応じた電荷を生成する。電荷蓄積部(300)は、電荷を蓄積する。第1電荷転送部(400)は、受光部(200)から電荷蓄積部(300)へ電荷を転送する。出力部(500)は、電荷蓄積部(300)に蓄積された電荷に応じた信号を出力する。電荷蓄積キャパシタ(600)は、電荷を蓄積する。第2電荷転送部(700)は、電荷蓄積部(300)と電荷蓄積キャパシタ(600)の一端との間において電荷を双方向に転送する。

公开(公告)号：JP6964264B2

公开(公告)日：2021-11-10

申请号：JP2020509912

申请日：2019-03-14

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 越田 浩旨 ,  香山 信三 ,  石井 基範 ,  春日 繁孝

IPC: G01S7/4865 ,  G01S17/10

公开(公告)号：JP2021144028A

公开(公告)日：2021-09-24

申请号：JP2021032721

申请日：2021-03-02

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 湯浅 佑亮 ,  香山 信三 ,  廣瀬 裕 ,  小田川 明弘

IPC: G01S17/894 ,  G01C3/06 ,  G01S7/487

Abstract: 【課題】マルチパスに由来する虚像による画質劣化を抑制するマルチパス除去方法を提供する。 【解決手段】本開示におけるマルチパス除去方法は、撮影空間内の背景の距離を推定する背景距離推定ステップと、画素毎に反射光の受光量に関する情報を保持した輝度画像あるいは画素毎に物体までの距離の情報を保持した距離画像を取得する撮影ステップと、前記輝度画像あるいは前記距離画像において、前記背景距離推定ステップで推定した推定背景距離より遠い物体を撮像した画素の値を更新する画素値決定ステップと、を有し、前記背景距離推定ステップは、カメラの撮影条件に関するパラメータを用いて算出する。 【選択図】図3

公开(公告)号：JP6846708B2

公开(公告)日：2021-03-24

申请号：JP2017068085

申请日：2017-03-30

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 齋藤 繁 ,  香山 信三 ,  竹本 征人 ,  石井 基範

IPC: G01S7/484 ,  G01S17/894

公开(公告)号：JP6823815B2

公开(公告)日：2021-02-03

申请号：JP2017554793

申请日：2016-12-07

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 石井 基範 ,  香山 信三 ,  竹本 征人 ,  齋藤 繁

IPC: G01S7/4861 ,  G01S7/487 ,  G01S17/894 ,  H04N5/335 ,  H04N5/3745 ,  G01S17/18

公开(公告)号：JPWO2019050024A1

公开(公告)日：2020-10-22

申请号：JP2018033363

申请日：2018-09-10

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 香山 信三 ,  石井 基範 ,  廣瀬 裕 ,  小田川 明弘

IPC: G01S17/10 ,  G01S17/931 ,  G01S17/894 ,  G01C3/06 ,  G01S7/486

Abstract: 距離測定方法では、背景光検知期間に、閾値が設定され、距離測定期間がN個の期間に分割され、背景光検知期間に、トランスファーゲートをONし、リセット信号をONし、トランスファーゲートがONしている期間にリセット信号をOFFし、距離測定期間において、トランスファーゲートをONし、リセット信号をONし、トランスファーゲートがONしている期間であってかつ光源からの光パルスの発射時刻に対し所定の時間だけ遅れた時間にリセット信号をOFFし、距離測定期間のN個の期間のそれぞれにおいて閾値とカウント値とを比較し、閾値よりもカウント値が大きくなった期間に時間信号を距離信号として記憶し、距離信号出力期間に距離信号を距離画像として出力する。

公开(公告)号：JP6508493B2

公开(公告)日：2019-05-08

申请号：JP2017564253

申请日：2017-01-24

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 香山 信三 ,  石井 基範 ,  齋藤 繁 ,  竹本 征人 ,  田中 毅

IPC: G02B5/26 ,  B60J1/00 ,  G02B5/28

公开(公告)号：JP2018159628A

公开(公告)日：2018-10-11

申请号：JP2017057081

申请日：2017-03-23

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 香山 信三 ,  竹本 征人 ,  石井 基範 ,  福島 裕介 ,  福島 奨

IPC: G01S17/93 ,  G01C3/06 ,  G01S17/10

Abstract: 【課題】保護カバーに異物が付着した場合であっても異物の付着を判定できる距離測定装置を提供する。 【解決手段】受光部30に感度の高いフォトダイオード(PD)を採用したPD部33を採用した場合、発光部20と受光部30との近傍に配置された保護カバー11における反射散乱光Sの強度変化を判定することで、保護カバー11への異物12の付着の有無を検出しようとすると、高感度が災いして異物検出が困難になる。そこで、異物検出を行おうとする際には、発光部20の発光強度が弱くなるように調整し、或いはPD部33の利得率が低くなるようにPD部33への印加電圧を調整することで、PD部33の実質的な感度を低下させる。 【選択図】図1

公开(公告)号：JPWO2020196257A1

公开(公告)日：2021-12-02

申请号：JP2020012287

申请日：2020-03-19

Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社

Inventor： 能勢 悠吾 ,  香山 信三 ,  小田川 明弘 ,  春日 繁孝 ,  薄田 学

IPC: G01S7/497

Abstract: 本開示に係る測距方法は、物体に背景光が照射されている環境下において、当該背景光の照度を測光する工程(ステップS300)と、当該背景光の照度に基づいて測距レンジを設定する工程(ステップS310)と、設定した測距レンジに基づいて、それぞれがAPD(Avalanche Photo Diode)を有する複数の画素を含む撮像部の撮像条件、及び、光源から光を出射させる出射条件を設定する工程(ステップS320)と、設定した撮像条件及び出射条件に基づいて撮像部及び光源を制御することで、当該物体との距離の測定を行う工程(ステップS330)と、を含む。