分光測定装置
    4.
    发明专利
    分光測定装置 审中-公开

    公开(公告)号:JP2017181182A

    公开(公告)日:2017-10-05

    申请号:JP2016065970

    申请日:2016-03-29

    IPC分类号: G01N21/65

    摘要: 【課題】光源からのレーザー光が試料に至るまでの間に生じる損失および試料からの反射光がカメラに至るまでの間に生じる損失を抑制することができる分光測定装置を提供することである。 【解決手段】全反射ミラー6とダイクロイックミラー7とがレーザー光L1の光軸上に配置されており、レーザー光源2からのレーザー光L1が、全反射ミラー6のピンホール6aを通過して試料Sに照射され、試料Sに照射されたレーザー光L1によって励起される光がダイクロイックミラーに反射されて分光器10に入射され、観察用照明光源14からの観察用照明光L3が、全反射ミラー6に反射されてレーザー光L1の光軸に観察用照明光L3の光軸を一致させた状態で試料Sに照射され、試料Sから反射した観察用照明光L3が、その光軸をレーザー光L1の光軸に一致させた状態で全反射ミラー6に反射されて観察用カメラ13に入射される。 【選択図】図1