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公开(公告)号:KR102226226B1
公开(公告)日:2021-03-09
申请号:KR1020187029116A
申请日:2017-03-07
发明人: 토비아스 하겐로헤르 , 토마스 키벨러
IPC分类号: B23K26/04 , B23K26/03 , B23K26/08 , B23K26/10 , B23K26/21 , B23K26/38 , B23K26/70 , B23Q17/22 , B25J9/16 , G05B19/401
CPC分类号: B23K26/032 , B23K26/04 , B23K26/0884 , B23K26/10 , B23K26/21 , B23K26/38 , B23K26/705 , B23Q17/2233 , B23Q17/2275 , B25J9/1692 , G05B19/401 , G05B2219/45041 , G05B2219/50057 , G05B2219/50252
摘要: 빔축(S)의 공간적 공칭 배향(S0)으로부터 빔 가공 기계의 빔축(S)의 공간적 배향의 편차를 결정하기 위한 방법에서, 윤곽 섹션(KA1, KB2)은 2개의 측으로부터 테스트 작업편(31) 내로 가공빔(5)으로 절결되고, 윤곽 섹션(KA1, KB2)은 캘리브레이팅될 회전축(B, C)의 공칭 배향에 평행하게 연장된다. 윤곽 섹션(KA1, KA2)은 윤곽 섹션(KA1, KB1)의 공간적 위치를 결정하기 위해 측정 디바이스에 의해 일측으로부터 검출되고, 특히 프로빙되고, 공간적 공칭 배향(S0)으로부터 빔 가공 기계의 빔축(S)의 공간적 배향의 편차는 윤곽 섹션(KA1, KB1)의 공간적 위치에 기초하여 결정된다.