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    多軸加工機、多軸加工機の回転中心測定方法およびプログラム
    1.
    发明专利
    多軸加工機、多軸加工機の回転中心測定方法およびプログラム 有权

    公开(公告)号：JP2021169131A

    公开(公告)日：2021-10-28

    申请号：JP2020072646

    申请日：2020-04-15

    申请人： 株式会社ソディック

    发明人： 川▲崎▼ 通久 ,  横田 祥也 ,  安倍 宗孝

    IPC分类号： G01B5/00 ,  G05B19/401 ,  B23Q17/00 ,  B23Q15/26

    摘要： 【課題】より正確な回転軸の回転中心および回転中心の向きを算出し、ワークの加工精度を向上した多軸加工機、多軸加工機の回転中心測定方法およびプログラムを提供すること。 【解決手段】本発明は、ワー クが 載置されるテーブル4,5とワー クを 加工する工具61を、加工プログラム201に基づいて回転軸の制御により相対移動させる多軸加工 機の 回転中心測定方法であって、加工プログラム201を取得する加工プログラム取得工程(S101)と、加工プログラム201から工具姿勢の指令角度を読み出して解析し、解析した結果に基づいて測定角度を算出する加工プログラム解析工程(S102)と、テーブル4,5に基準球63を載置するとともにテーブル4,5と工具61を相対移動させて基準球63の位置を計測し、回転軸の回転中心の向きおよび回転中心の位置を演算する幾何偏差測定工程(S103)を行うことを特徴とする。 【選択図】図2

    機械制御装置
    3.
    发明专利
    機械制御装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020126461A

    公开(公告)日：2020-08-20

    申请号：JP2019018745

    申请日：2019-02-05

    申请人： ファナック株式会社

    发明人： 福島 知紀

    IPC分类号： B25J13/08 ,  B23Q17/24 ,  G05B19/401

    摘要： 【課題】安全性を高める機械制御装置を提供する。 【解決手段】機械制御装置10は、制御指令に基づいて、異なる2つ以上の撮像位置において2つ以上の画像を撮像するように撮像装置2を制御する撮像制御部11と、2つ以上の撮像位置の位置情報を取得する撮像位置情報取得部13と、ステレオカメラの手法を利用して2つの画像と2つの撮像位置間の距離情報と撮像装置2のパラメータとに基づいて、対象物Wの位置情報として対象物Wの測定距離を復元する測定距離復元部14と、対象物Wの一部領域を指定領域として指定する領域指定部12と、指定領域において2つの画像と対象物Wの測定距離と撮像装置2のパラメータとに基づいて、対象物Wの測定精度が所定の精度を満たす2つの撮像位置間の距離情報を算出する所定精度位置演算部17とを備え、算出された2つの撮像位置間の距離情報に基づいて撮像装置2の位置及び姿勢を制御し2つの撮像位置を変更する。 【選択図】図1

    ワーク計測装置、ワーク計測方法及びプログラム
    4.
    发明专利
    ワーク計測装置、ワーク計測方法及びプログラム 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020017111A

    公开(公告)日：2020-01-30

    申请号：JP2018140257

    申请日：2018-07-26

    申请人： ファナック株式会社

    发明人： 杉田 祐樹

    IPC分类号： G05B19/401 ,  B23Q17/22 ,  G01B21/02 ,  G01B5/02 ,  G01B11/03 ,  G05B19/4093

    摘要： 【課題】ワークの計測に要する作業負担を低減すること。 【解決手段】本発明のワーク計測装置1は、ワークの画像を表示する表示部15と、ワークの画像に対する計測対象の指定を受け付け、指定された計測対象に対応する計測対象構造を検出する計測対象取得部11cと、ワークの画像に対する計測項目の指定を受け付ける計測項目設定部11dと、計測対象構造に対して、計測項目設定部11dによって指定された計測項目に対応する計測点及びアプローチ点と、計測点及びアプローチ点を含む計測経路とが設定された計測プログラムを生成する計測プログラム生成部11eと、を備える。 【選択図】図1

    物体を測定するための方法および装置
    5.
    发明专利
    物体を測定するための方法および装置 审中-公开

    公开(公告)号：JP2020500288A

    公开(公告)日：2020-01-09

    申请号：JP2019514095

    申请日：2017-09-27

    申请人： レニショウ パブリック リミテッド カンパニー ,  RENISHAW PUBLIC LIMITED COMPANY

    发明人： デレク マーシャル ,  ジョン チャールズ オウルド

    IPC分类号： G01B21/04 ,  B23Q17/22 ,  G05B19/401 ,  G01B5/00

    摘要： 走査プローブ(4)を担持する工作機械(2)を用いて、物体(6、41)を測定するための技術が記載されている。工作機械は、物体(41)に対して予めプログラムされた走査経路(50)に沿って走査プローブ(4)を駆動するように配置され、そして走査プローブ(4)は、走査経路(50)が横切られている間に、走査プローブに対する物体の表面の空間的関係を記述するプローブデータ(60)を収集するように配置されている。記載された方法は、プローブデータ(60)を収集しながら走査プローブ(4)を走査経路(50)に沿って駆動すること、および物体(41)の並進および/または回転および/またはスケーリングからなる物体のオフセット(V)を決定するためにそのプローブデータ(60)を分析することを備えている。次に、走査経路(50)は、物体(41)に対して既知の量だけ並進および/または回転および/またはスケーリングされ、物体のオフセットを再決定するべく、データ収集および分析が繰り返される。次いで、再決定されたオフセットと、物体(41)に対する走査経路(50)の適用された並進および/または回転および/またはスケーリングから生じると予想されるオフセットとの間の差を記述する誤差マップまたは関数が確立される。誤差マップまたは関数は、物体(41)と名目上同一の他の物体の測定に使用されてもよい。

    回転軸の角度較正方法および角度較正プログラム
    6.
    发明专利
    回転軸の角度較正方法および角度較正プログラム 有权

    公开(公告)号：JP2018194509A

    公开(公告)日：2018-12-06

    申请号：JP2017100567

    申请日：2017-05-22

    申请人： ファナック株式会社

    发明人： 見波 弘志 ,  鈴木 豊明

    IPC分类号： B23Q17/22 ,  G05B19/401 ,  G01B21/22 ,  G01D5/244

    CPC分类号： G01D18/008

    摘要： 【課題】専用の角度読取装置や計算機を用意することを不要とし、回転軸の角度センサを精度よく較正する。 【解決手段】複数の回転軸と、各回転軸に備えられた制御用角度センサにより検出された角度に基づいて回転軸を制御する制御部とを備える産業用機械の第1の回転軸に、制御用角度センサより高精度かつ制御用角度センサと同型式のデータを出力する較正用角度センサを取り付け(S1)、第1の回転軸とは異なる第2の回転軸の制御用角度センサに代えて較正用角度センサを接続し(S2)、第1の回転軸を回転させ(S3)、制御部において、制御用角度センサにより検出された第1の回転軸の第1角度と、較正用角度センサにより検出された第2の回転軸の第2角度との差分を算出し(S4)、算出された差分を第1の回転軸の回転角度の較正値として記憶する(S5)回転軸の角度較正方法を提供する。 【選択図】図3