表面の化学的性質の非接触測定装置および方法
    2.
    发明专利
    表面の化学的性質の非接触測定装置および方法 有权
    非接触测量装置和表面化学的方法

    公开(公告)号:JP2016224063A

    公开(公告)日:2016-12-28

    申请号:JP2016160335

    申请日:2016-08-18

    IPC分类号: G01N21/3563

    摘要: 【課題】複合構造物などの構造物の表面上の汚染またはその他の表面の化学的性質の測定において、検査されている表面との物理的接触を必要としない表面の化学的性質の非接触測定装置および方法を提供する。 【解決手段】表面の化学的性質の測定装置1は、プロセッサと、プロセッサと接続しており、かつ、ある範囲の赤外波長を用いた測定対象面25にわたる表面の化学的性質の同時測定のために構成されている波長可変赤外線レーザー分光計のアレイと、プロセッサと接続しており、かつ、測定対象面25から反射する赤外波長の赤外線スペクトルを表示するよう適合されている表示部8とを含み、汚染の可能性のある表面の赤外線スペクトルを得ること、および、汚染の可能性のある表面の赤外線スペクトルを表面の化学的性質の汚染の広がりの赤外線スペクトルと比較することを含む。 【選択図】図1

    摘要翻译: 本发明公开了的结构中,如复合结构的表面上的污染物或其它表面的化学性质的测量结果,被检查的表面化学的非接触式测量,不需要与表面物理接触 它提供了一种装置和方法。 的表面上,处理器的化学性质,测量装置1被连接到所述处理器,并且对象表面25的整个表面上的化学性质的同时测量使用红外波长范围 波长可调红外激光光谱仪的阵列被配置为,被连接到所述处理器,并且被适配成显示红外波长的红外光谱显示部8从物体表面25反射 其中,获得潜在的污染的表面的红外光谱,以及比较潜在的污染和表面化学的污染的红外光谱的传播的表面的红外光谱。 点域1

    Specifying method and specifying device for position and angular direction of single or plurality of holes
    8.
    发明专利
    Specifying method and specifying device for position and angular direction of single or plurality of holes 审中-公开
    指定方法和指定单位或多重角度位置和角度方向的装置

    公开(公告)号:JP2007009908A

    公开(公告)日:2007-01-18

    申请号:JP2006174688

    申请日:2006-06-26

    IPC分类号: F02C7/00

    摘要: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an automated device and method for specifying the position and the angular direction of a hole having an opening part in a surface which is at least partially closed with heat-insulation coating. SOLUTION: A scanner device 10 includes a laser spot projector 40, a laser spot sensor 42, a memory device 48, and a processor 50. In a range 24 including at least one hole 12, a laser beam 44 is projected on a surface 16 of an article, and the spot sensor 48 receives a reflection beam 46. A series of points 52 representing a scanning range 24 are stored as a point cloud 54 in the memory device 48, and processed for computation of the position and the angular direction of each hole in the range 24. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

    摘要翻译: 要解决的问题:提供一种用于指定具有至少部分地用隔热涂层封闭的表面中的开口部分的孔的位置和角度方向的自动化装置和方法。 解决方案:扫描仪装置10包括激光点投影仪40,激光点传感器42,存储装置48和处理器50.在包括至少一个孔12的范围24中,激光束44投射在 物体的表面16,光点传感器48接收反射光束46.表示扫描范围24的一系列点52作为点云54存储在存储器件48中,并被处理以用于计算位置和 每个孔的角度方向在范围24内。版权所有(C)2007,JPO&INPIT

    System for identifying defect in complex structure
    9.
    发明专利
    System for identifying defect in complex structure 有权
    用于识别复杂结构中的缺陷的系统

    公开(公告)号:JP2005147750A

    公开(公告)日:2005-06-09

    申请号:JP2003382562

    申请日:2003-11-12

    CPC分类号: G01N21/88 G01N2021/8472

    摘要: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an improved system for identifying defects in a complex structure, by providing a light source so that defects, such as dark defects at a dark background and/or bright defects at a bright background, can be identified by capturing an image at an illuminated part in the complex structure.
    SOLUTION: The improved system for identifying defects in the complex structure can include a reflection surface, a dispersive element, and a plurality of and/or movable light sources and/or a camera for capturing the most accurate image for processing even at a curved region or a region having an external form, or at any region of the complex structure. As a result, by the system, an operator can rapidly identify or correct structural marks for affecting the integrity of the complex structure, or defects for causing unconformity.
    COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

    摘要翻译: 要解决的问题:为了提供用于识别复杂结构中的缺陷的改进的系统,通过提供光源,使得诸如黑色背景下的暗缺陷和/或明亮背景下的明亮缺陷的缺陷可以是 通过在复杂结构中的照明部分捕获图像来识别。 解决方案:用于识别复杂结构中的缺陷的改进的系统可以包括反射表面,分散元件以及多个和/或可移动光源和/或用于捕获最准确的图像以用于即使在 弯曲区域或具有外部形式的区域,或在复杂结构的任何区域。 因此,通过该系统,操作人员可以快速识别或纠正结构标记,以影响复杂结构的完整性,或造成不合格的缺陷。 版权所有(C)2005,JPO&NCIPI