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公开(公告)号：JP2016197100A
公开(公告)日：2016-11-24
申请号：JP2016055601
申请日：2016-03-18
Applicant: ザ・ボーイング・カンパニー , The Boeing Company
Inventor： オーダーカーク, ジェームズ シー. , イズマン, アダム エル. , グリーンランド, ライアン ティー. , キルドール, ケネス エル.
CPC classification number: G01R31/008 , G01R1/0416 , G01R1/206 , G01R31/31723 , G01R31/31926 , B64F5/60
Abstract: 【課題】複数の異なる電気構成要素の間で迅速に接続切替可能な大規模自動試験システムを提供する。 【解決手段】大規模自動試験システム10は、例えば電源20、コンピュータ主制御部品22、コントロールパネル24、及びプログラム可能電源26、並びに他の電子装置といった、多数の異なる電気装置からなり、更に、3つのリレーボックス28、30、32及びリレー状態インジケータパネル34によって再構成される。リレーボックス28、30、32を操作することで試験システム10の接続が電気構成要素12と14との間で迅速に切替えられ、選択された電気構成要素を自動試験システム10を通じて試験版航空機16と連通させる。設計中のアイテムを、当該アイテムの設計の中で検討されている2またはそれ以上の電気構成要素と選択的に連通させるように各リレーボードが操作され、設計中のアイテム内の各電気構成要素の性能を評価できる。 【選択図】図1
Abstract translation: 要解决的问题：提供大规模的自动测试系统，其允许在多个不同电气部件之间快速连接切换。解决方案：大规模自动化测试系统10包括许多不同的电气设备，例如电源20，主计算机控制组件 22，控制面板24和可编程电源26以及其他电子设备; 并且被重新配置为具有三个继电器箱28,30,32和继电器状态指示器面板34.测试系统10的连接通过继电器盒28,30,32的操作和所选择的电气快速地切换在电气部件12和14之间 组件通过自动测试系统10与飞机16的测试版本通信。每个继电器板被操作以选择性地传达正在设计的物品，其中两个或更多个电气部件被考虑在该物品的设计中，以评估 在设计的项目中每个电气部件的性能。选择图：图1
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公开(公告)号：JP2015511004A
公开(公告)日：2015-04-13
申请号：JP2014560276
申请日：2013-03-07
Applicant: ローゼンベルガー ホーフフレクベンツテクニーク ゲーエムベーハー ウント ツェーオー カーゲー , ローゼンベルガー ホーフフレクベンツテクニーク ゲーエムベーハー ウント ツェーオー カーゲー
Inventor： ノイハウザー ロラント , ノイハウザー ロラント
CPC classification number: G01R1/0408 , G01R1/067 , G01R1/06772 , G01R31/31926
Abstract: 本発明は、誘電性ケーブルキャリアに装着される複数の導体を有して、導体の各々が接点フィンガと接続接点との両方に接続される、電子部品を測定するための装置において、導体の少なくとも一つにスイッチが組み込まれ、スイッチを介して導体がアース結線に追加的に接続されうることを特徴とする電子部品を測定するための装置に関する。【選択図】図2
Abstract translation: 本发明包括安装在电介质电缆载体上的多个导体，每个导体被连接到连接触点和所述接触指，在该装置中，用于测量电子元件，至少所述导体的 一个开关的装置中，通过电子元件，其特征在于，可另外连接到接地连接的开关措施并入用于导体。 .The
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公开(公告)号：JP5590078B2
公开(公告)日：2014-09-17
申请号：JP2012158286
申请日：2012-07-17
Applicant: 株式会社デンソー
Inventor： 朝道 溝口
IPC: H03K17/00
CPC classification number: H04L1/24 , G01R31/041 , G01R31/14 , G01R31/31926 , G01R31/327
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公开(公告)号：JP5475674B2
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：JP2010533743
申请日：2008-10-14
Applicant: 株式会社アドバンテスト
CPC classification number: G01R31/318511 , G01R31/31926
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公开(公告)号：JP5133870B2
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：JP2008505079
申请日：2007-03-07
Applicant: 株式会社アドバンテスト
IPC: G01R31/28 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: G01R31/3191 , G01R31/31926 , G01R31/31928
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP4977056B2
公开(公告)日：2012-07-18
申请号：JP2008038840
申请日：2008-02-20
Applicant: 株式会社アドバンテスト
Inventor： 昭二 小島
IPC: G01R31/28 , H03K19/0175 , H04L25/02
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/31706 , G01R31/31905 , G01R31/31926
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公开(公告)号：JPWO2009147720A1
公开(公告)日：2011-10-20
申请号：JP2010515690
申请日：2008-06-02
Applicant: 株式会社アドバンテスト
CPC classification number: G01R31/31926 , G01R31/2889 , G01R31/318511 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 半導体ウエハに形成された複数の半導体回路を試験する試験システムであって、半導体ウエハと信号を受け渡し可能に設けられる試験用基板と、試験用基板を制御する制御装置とを備え、半導体ウエハには、外部の測定回路に接続される外部端子と、半導体ウエハにおける複数の測定点に対応して設けられ、それぞれ対応する測定点と信号を受け渡し可能に設けられる複数の選択配線と、複数の選択配線のいずれかを選択し、選択した選択配線を介して、対応する測定点と外部端子との間で信号を伝送させる選択部とが形成され、試験用基板は、半導体ウエハの外部端子に接続され、選択部により選択された選択配線が伝送する信号の特性を測定する測定回路と、半導体ウエハの選択部に、いずれの選択配線を選択させるかを制御する制御部とを有する試験システムを提供する。
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公开(公告)号：JP4772801B2
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：JP2007551055
申请日：2006-12-14
Applicant: 株式会社アドバンテスト
Inventor： 昌克 須田
IPC: H03L7/099
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/31926 , G01R31/31932 , H03K3/0315 , H03K5/133 , H03K5/135 , H03K2005/00026 , H03L7/083 , H03L7/0995 , H03M9/00
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公开(公告)号：JP4686124B2
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：JP2003405230
申请日：2003-12-03
Applicant: 三星電子株式会社Samsung Electronics Co.,Ltd.
Inventor： ▲ジュン▼ 煥 崔
IPC: G01R31/28 , G11C29/12 , G01R31/319
CPC classification number: G01R31/31926
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公开(公告)号：JP4674274B2
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：JP2010514325
申请日：2008-08-08
Applicant: 株式会社アドバンテスト
Inventor： 和幹 田村
CPC classification number: G01R31/31907 , G01R31/2834 , G01R31/2851 , G01R31/319 , G01R31/31919 , G01R31/31926 , G06F11/273 , G06F11/2733 , G06F11/277 , H04L43/50
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