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    質量分光計のための汚染フィルタ
    4.
    发明专利
    質量分光計のための汚染フィルタ 审中-公开
    对于质谱仪污染物过滤器

    公开(公告)号：JP2016526672A

    公开(公告)日：2016-09-05

    申请号：JP2016520754

    申请日：2014-06-20

    申请人： ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド ,  ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド

    发明人： トーマス アール． コビー， ,  トーマス アール． コビー， ,  ブラッドレー ビー． シュナイダー， ,  ブラッドレー ビー． シュナイダー，

    IPC分类号： G01N27/62

    CPC分类号： G01N27/624 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/004 ,  H01J49/0422 ,  H01J49/145 ,  H01J49/165

    摘要： 質量分光法を行うための方法およびシステムは、本明細書に提供される。出願人の教示の様々な側面によれば、方法およびシステムは、高真空システム内に位置する質量分光計の下流の重要な構成要素(例えば、イオン光学系、質量フィルタ、検出器)の汚染および劣化の主な寄与因子を限られた信号損失で除去するよう、大気圧または低真空圧で作動するイオン移動度分光計を利用し得る。質量分光計システムを動作させる方法は、複数のイオンを生成するようにサンプルをイオン化するためのイオン源を提供するステップと、汚染を低減するために低分解能、高透過率イオン移動度分光計を提供するステップと、イオン移動度分光計の入力端内に複数のイオンを導入するステップと、イオン移動度分光計を通してその入力端から出力端に、複数のイオンをドリフトガス中で移送するステップと、微分移動度分光計に流体連通する質量分光計を提供するステップとを含む。

    摘要翻译： 用于进行质谱分析，在本文中提供的方法和系统。 根据申请人的教导，方法和系统，污染和位于高真空系统内的质谱仪的重要组成部分的下游的各个方面（例如，离子光学器件，质量过滤器，检测器） 删除与有限主要因素降解的信号损耗可利用在大气压力下或在低真空压力下操作离子迁移谱仪。 操作质谱仪系统的方法包括用于电离样品以产生多个离子，低分辨率的，以减少污染，高传输离子迁移谱仪提供离子源的步骤 和提供，将多个离子进入离子迁移谱仪的输入端，来自输入端的输出通过离子迁移谱仪的方法，包括以下步骤：a漂移气体中传送多个离子 和提供与所述差分迁移谱仪流体连通的质谱仪。

    Mass spectroscope
    10.
    发明专利
    Mass spectroscope 有权
    质谱仪

    公开(公告)号：JP2012104247A

    公开(公告)日：2012-05-31

    申请号：JP2010249260

    申请日：2010-11-08

    申请人： Hitachi High-Technologies Corp ,  株式会社日立ハイテクノロジーズ

    发明人： MOROKUMA HIDETOSHI ,  HASHIMOTO YUICHIRO ,  SUGIYAMA MASUYUKI ,  YAMADA MASUYOSHI ,  HASEGAWA HIDEKI

    IPC分类号： H01J49/26 ,  H01J49/10

    CPC分类号： H01J49/0013 ,  H01J49/0031 ,  H01J49/0422 ,  H01J49/0495 ,  H01J49/10 ,  H01J49/105 ,  H01J49/24 ,  H01J49/26

    摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a small and light mass spectroscope capable of analyzing a mass at high accuracy.SOLUTION: The mass spectroscope has an ion source for ionizing gas 23 flowing from outside to ionize a measurement sample 4, and a mass analyzing part 102 for separating the ionized measurement sample 4. The internal pressure of the ion source is reduced by differential evacuation from the mass analyzing part 102. The ion source takes in the gas 23 to increase the internal pressure, and ionizes the gas 23 when the internal pressure is about 100 Pa to about 10000 Pa. The mass analyzing part 102 separates the ionized measurement sample 4 when the internal pressure increased while taking in the gas 23 is reduced to about 0.1 Pa or less after taking in the gas 23. The spectroscope has restraining means 9 for restraining a flow rate of the gas 23 taken in by the ion source, and opening/closing means 8 for opening/closing a flow of the gas 23 taken in by the ion source.

    摘要翻译： 要解决的问题：提供能够以高精度分析质量的小型轻质量分光器。 解决方案：质谱仪具有用于从外部离子化的离子化气体23离子化离子源离子化测量样品4的离子源和用于分离离子化测量样品4的质量分析部件102.离子源的内部压力通过 质量分析部件102的差分抽出。离子源吸入气体23以增加内部压力，并且当内部压力为约100Pa至约10000Pa时使气体23离子化。质量分析部件102将离子化测量 在吸入气体23时使内部压力增加时的样品4在吸入气体23后降低至约0.1Pa以下。分光镜具有抑制由离子源吸入的气体23的流量的抑制装置9， 以及用于打开/关闭由离子源吸入的气体23的流动的打开/关闭装置8。 版权所有（C）2012，JPO＆INPIT