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公开(公告)号:JP2022000664A
公开(公告)日:2022-01-04
申请号:JP2021165076
申请日:2021-10-06
Applicant: 山一電機株式会社
Abstract: 【課題】コンタクトピンモジュールにおいて、コンタクトピンモジュールの製造コストを低減でき、しかも、コンタクトピンモジュールの組み立ての自動化を図ることができること。 【解決手段】コンタクト端子22aiにおける一対の張出部22faおよび一対の仮止用爪部22fcは、それぞれ、第1のコンタクト端子支持基板の孔26dおよび孔26eに挿入された後、第1のコンタクト端子支持板26の外面から突出した基板側固定端子部22Fの突起片22tの当接部22fpが所定の圧力により押圧されることにより、当接部22fpが外面と一致するまで押し込まれるとき、孔26dおよび孔26eから押し出されるもの。 【選択図】図1
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公开(公告)号:JP6980410B2
公开(公告)日:2021-12-15
申请号:JP2017101766
申请日:2017-05-23
Applicant: 株式会社日本マイクロニクス
IPC: G01R1/067
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公开(公告)号:JP2021189085A
公开(公告)日:2021-12-13
申请号:JP2020096188
申请日:2020-06-02
Applicant: 東理システム株式会社
Inventor: 榎戸 英治
Abstract: 【課題】電気自動車に搭載される電動パワートレーンのインバータ検査のような大電流の検査において、保持ブロックに挿入されたプローブの真直度に多少の誤差があっても、プローブ接触子を被検査側の電極に緊密に圧着できる電気特性検査プローブおよび電力変換回路装置の電気特性検査ユニットを提供する。 【解決手段】電力変換回路装置の被検査端末部20に接合可能な電気特性検査ユニット1であって、往復動作機構に担持された可動パレット2と、可動パレット2を被検査端末部20に対して位置決めする位置決め機構(位置決めロッド3、位置決め孔22)と、可動パレットに搭載され、かつ該可動パレットの往復動によって被検査端末部と接離する電流テストプローブ4とを有し、この電流テストプローブは、先端に接触子11を備えたプローブ軸部がプローブ保持部の貫通孔にばね部材を介して遊挿されている。 【選択図】図1
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公开(公告)号:JP2021189064A
公开(公告)日:2021-12-13
申请号:JP2020095571
申请日:2020-06-01
Applicant: 東京特殊電線株式会社
IPC: G01R1/067
Abstract: 【課題】主に電子部品及び基板等の導通検査に用いる検査用のプローブ針において、めっき厚を厚くしても線径が大きくならず、狭ピッチ化を実現できるプローブ針及びプローブユニットを提供する。 【解決手段】ピン形状の金属導体1の外周に絶縁被膜2を有する胴体部6と、金属導体1の両端に該絶縁被膜を有しない端部3とを有するプローブ針10において、前記端部3のみに厚さ1μm以上5μm以下の範囲内のめっき層4が形成されているようにして上記課題を解決した。胴体部6の外径をD3とし、端部3の外径をD2としたとき、[(D3−D2)/2]が1.5μm以上5μm以下の範囲内であることが好ましい。 【選択図】図2
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公开(公告)号:JPWO2020175346A1
公开(公告)日:2021-12-02
申请号:JP2020006964
申请日:2020-02-21
Applicant: 株式会社村田製作所
Abstract: プローブ部材(10)は、主体(11)、内導体(211)、および、壁部(12)を備える。主体(11)は、検査用の端面(111)を有する。内導体(211)は、同軸型のプローブの内導体に接続し、主体(11)に保持される。内導体(211)の端部は、端面から突出する。壁部(12)は、端面(111)から突出し、内導体(211)の端部を囲む形状であり、少なくとも表面が導電性を有する。
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公开(公告)号:JPWO2020158575A1
公开(公告)日:2021-12-02
申请号:JP2020002356
申请日:2020-01-23
Applicant: 株式会社ヨコオ
Inventor: 佐藤 賢一
IPC: G01R1/067
Abstract: プランジャー(10)は、導電性の基材層(11)と、前記基材層の外側に設けられた白金族元素を主成分とする白金族層(13)と、を有する。プランジャーは、母材が前記基材層であり、検査対象物に接触する先端部において、前記基材層の外側に前記白金族層を有する。コンタクトプローブ(1)は、前記プランジャーと、端部が前記プランジャーに当接するスプリング(40)と、を備える。
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公开(公告)号:JP6969930B2
公开(公告)日:2021-11-24
申请号:JP2017161169
申请日:2017-08-24
Applicant: 株式会社日本マイクロニクス
Inventor: 那須 美佳
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公开(公告)号:JP2021165726A
公开(公告)日:2021-10-14
申请号:JP2020070038
申请日:2020-04-08
Applicant: 株式会社日本マイクロニクス
Inventor: 福士 輝夫
Abstract: 【課題】測定品質の低下を低減できるプローブおよび電気的接続装置を提供する。 【解決手段】プローブ10は、棒形状の中心導体11と、中心導体11の側面を囲む中間絶縁膜13と、中間絶縁膜13の表面を覆う外部導電膜14とを備える。プローブ10の被検査体と接触する先端部101において、中心導体11が露出する。 【選択図】図1
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公开(公告)号:JP2021162316A
公开(公告)日:2021-10-11
申请号:JP2020060874
申请日:2020-03-30
Applicant: 山一電機株式会社
Inventor: 小堀 栄治
IPC: G01R1/073 , H01R13/193 , G01R1/067
Abstract: 【課題】接点との接触性を考慮しつつ、耐久性が向上したコンタクトを備えている検査用ソケットを提供する。 【解決手段】所定方向に差し込まれて所定方向と直交する直交方向に設けられた端子81aと導通可能な検査用ソケット1であって、所定方向に沿って弾性的に伸縮可能とされ、導電性を有する第1コンタクトプローブ10と、端子81aに導かれる先端21と第1コンタクトプローブ10のAプランジャ11が接触する基端22とが所定方向に沿って設けられた、導電性を有するコンタクト20と、を備え、コンタクト20には、基端22側から直交方向に離間した位置に回動支点が設けられ、コンタクト20は、第1コンタクトプローブ10が基端22に接触することよって回動支点周りに回動してコンタクトの先端21が直交方向に移動する。 【選択図】図11
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