Abstract:
적분형 A/D 변환과, 그 잔차 아날로그 신호에 대한 순회형 A/D 변환을 행하는 A/D 변환기를 싱글 엔드 구성에 의해 실현하는 것을 목적으로 한다. A/D 변환기에 의하면, 동일한 회로 구성에 있어서의 동작 순서의 제어에 의해, 적분형 A/D 변환을 행하기 위한 제1의 A/D 변환 동작과 순회형 A/D 변환을 행하기 위한 제2의 A/D 변환 동작이 실현된다. 또, 제1의 A/D 변환 동작에 있어서, 출력 신호의 적분에 이용되는 캐패시터의 용량은 입력 아날로그 신호 및 기준 참조 전압의 격납에 이용되는 캐패시터의 용량보다 크기 때문에, 적분형 A/D 변환에 있어서 입력되는 아날로그 신호는 그 용량비에 따라 감쇠되어 샘플링 및 적분된다. 이런 이유로 적분형 A/D 변환에 있어서 출력되는 아날로그 신호의 전압 범위도 캐패시터의 용량비에 따라 작아지므로, 싱글 엔드 구성에 의해 A/D 변환기를 구성할 수 있다.
Abstract:
센서 회로로부터 신호 처리 회로로의 신호 전달 시간을 최종값의 정확도를 손상시키는 일이 없이 단축 가능한 센서 집적 회로를 제공한다. 센서 회로(13)는 출력 저항 Rs를 가지고, 신호선(19)에 접속된 출력(13a)과 이미지 센서용의 화소(21)를 포함한다. 신호 처리 회로(15a)는 센서 회로(13)의 출력에 신호선(19)을 통해 접속된다. 신호 처리 회로(15a)는 제1의 입력 용량값을 가지는 입력(16a)을 포함하고, 센서 회로(13)로부터 신호선(19)을 통해 받은 신호를 처리한다. 충전 회로(17)는 신호선(19)에 접속된 출력(17a), 입력(17b)을 포함한다. 출력(17a)의 출력 저항 R2는 출력 저항 Rs보다 작고, 입력(17b)의 입력 용량값은 제1의 입력 용량값보다 작다. 충전 회로(17)는 입력(17b)에서의 전위 V COL 에 응답하여 출력(17a)을 통해 신호선(19)에의 충전을 개시하고, 구동 기간 T DRV 의 종점의 시각 t1의 전의 시각 t2에 충전을 종료한다.
Abstract:
거리 분해능의 저하없이 거리 계측 범위를 확대 가능한 거리 화상 센서를 제공한다. 방사원(13)은 시간축 상에 차례로 배열된 제1~ 제5의 프레임에 있어서 대상물에 조사되는 제1~ 제5의 펄스 P T1 ~P T5 의 열을 방사 펄스로서 제공한다. 프레임의 각각에서는 촬상 시각 T PU1 ~T PU5 는 각 프레임의 시점으로부터 소정의 시간 △T PD 의 위치에 규정되고, 또 펄스 P T1 ~P T5 가 각각 제1~ 제5의 프레임의 시점으로부터 서로 다른 변위량으로 변위된다. 5개의 프레임의 각각에 있어서의 촬상 윈도우 A, B를 이용하여 화소 어레이(23)는 서로 다른 거리 범위의 대상물의 거리 정보를 가지는 요소 화상 신호 S E1 ~S E5 를 생성한다. 처리 장치(17)는 이들을 합성하여 화상 신호 S IMAGE 를 생성한다. 5회의 비행시간 측정의 것을 이용하므로 넓은 거리 범위의 대상물의 거리 정보를 얻기 위해서 방사 펄스의 폭을 넓힐 필요가 없고 거리 분해능이 저하하지 않는다.
Abstract:
센서 회로로부터 신호 처리 회로로의 신호 전달 시간을 최종값의 정확도를 손상시키는 일이 없이 단축 가능한 센서 집적 회로를 제공한다. 센서 회로(13)는 출력 저항 Rs를 가지고, 신호선(19)에 접속된 출력(13a)과 이미지 센서용의 화소(21)를 포함한다. 신호 처리 회로(15a)는 센서 회로(13)의 출력에 신호선(19)을 통해 접속된다. 신호 처리 회로(15a)는 제1의 입력 용량값을 가지는 입력(16a)을 포함하고, 센서 회로(13)로부터 신호선(19)을 통해 받은 신호를 처리한다. 충전 회로(17)는 신호선(19)에 접속된 출력(17a), 입력(17b)을 포함한다. 출력(17a)의 출력 저항 R2는 출력 저항 Rs보다 작고, 입력(17b)의 입력 용량값은 제1의 입력 용량값보다 작다. 충전 회로(17)는 입력(17b)에서의 전위 V COL 에 응답하여 출력(17a)을 통해 신호선(19)에의 충전을 개시하고, 구동 기간 T DRV 의 종점의 시각 t1의 전의 시각 t2에 충전을 종료한다.
Abstract:
p형의 기체 영역(21), 기체 영역(21)과 포토 다이오드(D1)를 구성하도록 기체 영역(21)의 상부의 일부에 매립되어 제1 퍼텐셜 골(PW1)을 형성하는 n형의 전하 생성 매립 영역(23), 전하 생성 매립 영역(23)으로부터 이격되어 매립되고, 제1 퍼텐셜 골(PW1)보다 깊은 제2 퍼텐셜 골(PW2)을 형성하는 n형의 축적 영역(24), 전하 생성 매립 영역(23)과 축적 영역(24) 사이에 설치된 전송 게이트 절연막(33), 전송 게이트 절연막(33) 상에 설치되고, 전하 생성 매립 영역(23)과 축적 영역(24) 사이의 기체 영역(21)에 형성되는 전송 채널의 전위를 제어하는 전송 게이트 전극(31), 전송 채널 중에, 단차상 퍼텐셜 형상을 이루는 전자 셔터용 전위 장벽을 형성하는 계단 퍼텐셜 형성 수단을 구비하고, 전하의 완전 전송을 실현할 수 있고, 충분한 축적 전자 수를 확보할 수 있는 반도체 소자 및 고체 촬상 장치를 제공한다.
Abstract:
A solid-state imaging device, in which the transfer efficiency of charges is good, and the structure of the pixel is simple, and a high resolution and a high-speed operation are possible is disclosed, which encompasses a semiconductor region (21) of p-type; a buried region (23) of n-type, configured to serve as a photodiode together with the semiconductor region (21); a extraction region of n-type, configured to extract charges generated by the photodiode from the buried region (23), having higher impurity concentration than the buried region (23); a read-out region (28) of n-type, configured to accumulate charges, which are transferred from the buried region (23) having higher impurity concentration than the buried region (23); and a potential gradient changing means (31, 32), configured to control a potential of the channel, and to change a potential gradient of a potential profile from the buried region (23) to the read-out region (28) and a potential gradient of a potential profile from the buried region (23) to the extraction region, so as to control the transferring/ extraction of charges.