公开(公告)号：KR101834569B1

公开(公告)日：2018-03-05

申请号：KR1020170042244

申请日：2017-03-31

Applicant: 주식회사 토비스

Inventor： 한승환 ,  정영태 ,  이원규

IPC: G01B21/20 ,  G01B11/255 ,  H04N5/225

CPC classification number: G01B11/255 ,  G01B21/20 ,  H04N5/225

Abstract: 본발명은투명한곡면패널의균일도를측정할수 있는곡면패널의평탄도측정장치및 곡면패널의평탄도측정방법에관한것이다. 본발명의실시예에따른곡면패널의균일도측정장치는투명한곡면패널에접촉되어상기곡면패널의곡면을따라주행하는접촉롤러, 상기곡면패널을중심으로상기접촉롤러가접촉되는반대방향에위치되어상기곡면패널에상기접촉롤러가접촉되는접촉형상을촬영하는형상감지카메라, 및상기형상감지카메라에서촬영되는접촉형상을기초로상기접촉형상의변화에따라상기곡면패널의균일도를측정하는균일도판단부를포함한다. 따라서, 곡면패널의곡률및 곡면의균일도를비교적정확하고신속하게측정할수 있을뿐만아니라, 비교적간단한구성으로제작비용을감소시킬수 있다.

公开(公告)号：KR101613815B1

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：KR1020150014300

申请日：2015-01-29

Applicant: 연세대학교 산학협력단

Inventor： 박효선 ,  박준수 ,  오병관 ,  김유석

IPC: G01B11/255 ,  G01B11/16 ,  G01L5/00 ,  G06F17/10 ,  G06F17/11 ,  G06F17/13

CPC classification number: G06K9/468 ,  G01M5/0058 ,  G06K9/2054 ,  G01B11/255 ,  G01B11/16 ,  G01L5/00 ,  G06F17/13

Abstract: 본발명의실시예들에따른영상기반구조물안전성평가시스템은구조물의표면에부착된마커들이촬영된마커영상을획득하는마커영상획득부, 마커영상내의마커들의좌표를각각산출하는마커좌표산출부, 산출된마커좌표들을기초로스플라인보간하여형상함수를결정하는형상함수결정부및 결정된형상함수상의각 위치에서산출되는곡률반경에기초하여구조물의변형률또는응력을산출함으로써구조물의안전성을평가하는안전성평가부를포함할수 있다.

Abstract translation: 根据本发明的实施例，一种用于评估基于图像的结构安全性的系统包括：标记图像获取单元，被配置为获得拍摄附接到结构表面的标记的标记图像; 标记坐标计算单元，被配置为分别计算标记图像中的标记的坐标; 形状函数确定单元，被配置为基于所计算的标记坐标来通过样条插值来确定形状函数; 以及安全评估单元，被配置为基于在所确定的形状函数上的每个位置中计算的曲率半径来计算所述结构的变形率或应力，以评估所述结构的安全性。

公开(公告)号：KR101682914B1

公开(公告)日：2016-12-06

申请号：KR1020150043159

申请日：2015-03-27

Applicant: 가부시키가이샤 뉴플레어 테크놀로지

Inventor： 아키타마사토 ,  이예치카야스시

IPC: G01B11/24 ,  H01L21/20

CPC classification number: G01B11/24 ,  G01B11/16 ,  G01B11/255 ,  H01L21/67288 ,  H01L22/12

Abstract: 본발명은, 곡률측정불능의억제및 곡률측정정밀도의향상을실현할수 있는곡률측정장치및 곡률측정방법을제공한다. 곡률측정장치(10)는, 레이저광을출사하는레이저광출사부(21)와, 출사한레이저광을각각편광방향및 진행방향이상이한제1 레이저광(L1) 및제2 레이저광(L2)으로분리하는제1 편광빔 스플리터(22)와, 제1 레이저광(L1)과제2 레이저광(L2)이병행하여측정대상물인기판(W)으로진행하도록제1 레이저광(L1)을반사하는미러(23)와, 기판(W)에의해경면반사된제2 레이저광(L2)을투과시키고, 기판(W)에의해경면반사된제1 레이저광(L1)을제2 레이저광(L2)과상이한방향으로반사하는제2 편광빔 스플리터(10d)와, 반사한제1 레이저광(L1)의입사위치를검출하는일차원의제1 위치검출소자(10e)와, 기판(W)에의해경면반사된제2 레이저광(L2)의입사위치를검출하는일차원의제2 위치검출소자(10f)를구비한다.

Abstract translation: 根据实施例的曲率测量装置包括：发射激光束的激光束发射部分; 第一偏振光束分离器，将发射的激光束分离成不同偏振方向和不同行进方向的第一和第二激光束; 反射第一激光束的镜子，使得第一和第二激光束并排行进到基底; 第二偏振分束器，透射从所述基板镜像反射的所述第二激光束，并且反射从所述基板反射的所述第一激光束沿与所述第二激光束的行进方向不同的方向; 一维第一位置检测装置，检测反射的第一激光束在第一位置检测装置上的入射位置; 以及检测所述第二激光束在所述第二位置检测装置上的入射位置的一维第二位置检测装置。

公开(公告)号：KR1020070012459A

公开(公告)日：2007-01-25

申请号：KR1020067023311

申请日：2005-05-06

Applicant: 코닌클리케 필립스 엔.브이.

Inventor： 암스텔,빌렘,디.,밴 ,  비크,엔일스,에이.,제이.,밴데르 ,  보메르,스테판,엠.,비.

IPC: G01B11/02 ,  G01B11/24 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01B11/026 ,  G01B11/24 ,  G01B11/255 ,  G01M11/0207 ,  G01M11/025

Abstract: A device and method of optical precision measurement of a component. In the method, an optical probe is provided at a location relative to the component 120 and a source beam directed to the component 122. Deviation is detected 124 and stored in a component characteristic dataset 126. The optical source is moved to other locations relative to the component 128 and additional data acquired 130. The device includes an optical probe 24 providing a source beam 38, a probe stage 22 operable to rotate the optical probe 24 about a O-axis, a component stage 26 operable to rotate the component 28 about a (p-axis, and a position sensitive detector. The probe stage 22 directs the source beam 38 to the component 28, the source beam 38 generates a resultant beam from the component 28, and the position sensitive detector detects the resultant beam. ® KIPO & WIPO 2007

Abstract translation: 组件的光学精密测量的装置和方法。 在该方法中，在相对于组件120的位置处提供光学探针，并且将源光束指向组件122.检测到偏差124并存储在组件特征数据集126中。光源被移动到相对于 组件128和获取的附加数据130.该设备包括提供源光束38的光学探针24，可操作以围绕O轴旋转光学探针24的探针台22，可操作以使部件28绕着 （p轴和位置敏感检测器），探针台22将源光束38引导到部件28，源光束38从部件28产生合成的光束，并且位置敏感检测器检测合成光束。 KIPO＆WIPO 2007

公开(公告)号：KR100260464B1

公开(公告)日：2000-07-01

申请号：KR1019950702949

申请日：1994-01-07

Applicant: 테크노메트게젤샤프트퓨어메트운드메트테큰지스테에엠베하

Inventor： 쟝베네딕트 ,  벤데토마스 ,  마탈라나-킬만미카엘

IPC: A61B3/107 ,  G01B11/24

CPC classification number: G01B11/255 ,  A61B3/107

Abstract: 반사면의 표면상태를 결정하기 위한 방법 및 장치를 상술한다. 투영 패턴은 표면에 투영되고, 따라서 형성된 반사패턴을 감지하고 평가한다. 투영패턴의 구조와 반사패턴의 구조의 일치성을 개선시키기 위해 투영패턴에는 연속적인 흑/백 또는 명/암부위를 구별하기 위한 인지표시를 포함한다. 색표시 또는 음영이 특히 유익하다. 눈(3)의 각막 위에 투영패턴을 제공하기 위해 공동 콘모양의 투영체(17)가 사용되는데, 측벽(18)에는 투명링(19)이 배열되어 있고, 링-모양의 광소스(20)에 의해 둘러싸여진다. 칼라 비디오 카메라(26)는 감지기로써 사용된다.

公开(公告)号：KR1020150088925A

公开(公告)日：2015-08-04

申请号：KR1020140008703

申请日：2014-01-24

Applicant: (주)기흥기계

Inventor： 신흥철 ,  박우상 ,  조성기

IPC: G01B11/24 ,  G01N1/04

CPC classification number: G01B11/255 ,  G01B11/022 ,  G01N1/04

Abstract: 본발명은대형베어링의외주연일부에서채취한시편을 3차원측정기를이용하여정밀도를측정하는대형베어링의시편을이용한정밀도측정시스템에관한것이다. 이를위한본 발명의대형베어링의시편을이용한정밀도측정시스템은, 대형베어링의정밀도측정을위해외주연의일부를계단식형의단면을갖도록절단하여채취되는베어링시편; 테이블에시편이고정되고, 상기시편을촬영하여 3차원형상으로획득된이미지로대형베어링의정밀도를측정하는 3차원측정기; 상기 3차원측정기로부터측정값을입력받아대형베어링에대한정밀도를표시하는처리부로이루어진다.

Abstract translation: 本发明涉及一种使用大型轴承的样本测量精度的系统，其使用三维测量仪器测量相对于从大轴承的外周表面的一部分获取的样本的精度。 为了实现这一点，根据本发明，使用大轴承的样本测量精度的系统包括：轴承样品，其通过切割外周表面的一部分以具有阶梯形横截面而获得，以测量精度 大轴承; 将通过拍摄样品获得的三维图像作为样品测量大轴承的精度的三维测量仪器被固定在桌子上; 以及处理单元，通过从三维测量仪器接收测量值来显示大轴承的精度。

公开(公告)号：KR1020130083117A

公开(公告)日：2013-07-22

申请号：KR1020120003677

申请日：2012-01-12

Applicant: (주)미토스

Inventor： 엄효순 ,  유영훈 ,  황재학

IPC: G01B11/24 ,  G01N21/41 ,  G01M11/02

CPC classification number: G01B11/255 ,  G01M11/0228 ,  G01N21/41

Abstract: PURPOSE: A method for measuring a shape and a refractive index of a curvature-shaped plastic lens is provided to measure shapes and refractive indexes of several portions with comparative ease by using a digital holography microscope. CONSTITUTION: A method for measuring a shape and a refractive index of a curvature-shaped plastic lens (30) is as follows. A refractive index of a portion of the plastic lens is measured. The measured refractive index is defined as an average refractive index of the plastic lens. Refractive index matching oil (10) which is matched with the average refractive index and relative refractive index oil (20) in which a refractive index is different from the average refractive index are prepared. The refractive index matching oil and the relative refractive index oil are stored in the upper and lower part of a container which is partitioned by the plastic lens. A first phase contrast phase is obtained from a transmission-type digital holography microscope by irradiating lights of a first wavelength to the container from the bottom to the top. A second phase contrast phase is obtained from the transmission-type digital holography microscope by irradiating lights of a second wavelength to the container from the bottom to the top. A third phase contrast phase is obtained from the transmission-type digital holography microscope by irradiating lights of a third wavelength to the container from the bottom to the top.

Abstract translation: 目的：提供一种用于测量曲率形塑料透镜的形状和折射率的方法，通过使用数字全息显微镜来比较容易地测量几个部分的形状和折射率。 构成：用于测量曲率形塑料透镜（30）的形状和折射率的方法如下。 测量塑料透镜的一部分的折射率。 测量的折射率被定义为塑料透镜的平均折射率。 制备与折射率不同于平均折射率的平均折射率和相对折射率油（20）匹配的折射率匹配油（10）。 折射率匹配油和相对折射率油储存在由塑料透镜分隔的容器的上部和下部中。 通过从底部到顶部向容器照射第一波长的光，从透射型数字全息显微镜获得第一相位相位。 通过从底部向顶部向容器照射第二波长的光，从透射型数字全息显微镜获得第二相位相位。 通过从底部向顶部向容器照射第三波长的光，从透射型数字全息显微镜获得第三相位对比相。

公开(公告)号：KR1020120064047A

公开(公告)日：2012-06-18

申请号：KR1020110130610

申请日：2011-12-07

Applicant: 제록스 코포레이션

Inventor： 데종조안네스엔엠

IPC: G03G21/16 ,  G03G15/00

CPC classification number: B65H7/14 ,  B65H2511/17 ,  B65H2553/416 ,  B65H2701/1311 ,  B65H2801/06 ,  G01B11/255 ,  G03G15/6576 ,  G03G2215/00662 ,  G03G2215/00704 ,  B65H2220/03 ,  B65H2220/01

Abstract: PURPOSE: An inclined array sensor method measuring a media curl having reinforced accuracy for environmentally caused errors is provided to obtain the function of a sheet curl by measuring a point of a propelled media sheet touching an array for an inclined array sensor. CONSTITUTION: An inclined array sensor method measuring a media curl comprises the following steps: propelling more than one curling media sheet toward an inclined array sensor using nibs of a curler(510); locating the inclined array sensor on the upstream or the downstream of a media propelling device in the angle for the media sheets passing through the curler; obtaining the function of a media sheet curl by measuring a point of the propelled media sheet touching an array for the inclined array sensor(530); and accurately determining the sheet curl using the sheet curl function(540).

Abstract translation: 目的：提供一种倾斜阵列传感器方法，用于测量具有环境造成误差的加强精度的介质卷曲，以通过测量与倾斜阵列传感器的阵列相接触的推进介质片的点来获得片卷曲的功能。 构成：测量介质卷曲的倾斜阵列传感器方法包括以下步骤：使用卷发器（510）的笔尖向倾斜阵列传感器推进多于一个卷曲介质片; 将倾斜阵列传感器定位在媒体推进装置的上游或下游，以便通过卷曲器的介质片的角度; 通过测量与倾斜阵列传感器（530）的阵列接触的推进介质片的点来获得介质片卷曲的功能; 并使用纸张卷曲功能（540）精确地确定纸张卷曲。

公开(公告)号：KR1019920009800B1

公开(公告)日：1992-10-22

申请号：KR1019890016185

申请日：1989-11-09

Applicant: 올림푸스 가부시키가이샤

Inventor： 오오가와가네야스

IPC: G01B11/08 ,  G01B11/24

CPC classification number: G01B11/255

Abstract: 내용 없음.

公开(公告)号：KR101584723B1

公开(公告)日：2016-01-15

申请号：KR1020140174016

申请日：2014-12-05

Applicant: 경남대학교 산학협력단 ,  한국기초과학지원연구원

Inventor： 김병창 ,  김건희 ,  현상원

IPC: G01B11/24 ,  G01B11/255 ,  G01B9/02

CPC classification number: G01B9/02 ,  G01B11/24 ,  G01B11/255

Abstract: 본발명은국부영역의곡률값을이용한자유곡면형상측정방법에관한것이다. 본발명의목적은비교적간편한과정을통해자유곡면의형상을정확하게측정할수 있는자유곡면형상측정방법을제공하는것이다. 본발명의다른목적은측정대상곡면의국부영역으로부터인접한국부영역간에 x-y방향으로조합할수 있는자유곡면형상측정방법을제공하는것이다. 이를위해, 본발명에따른자유곡면형상측정방법은측정대상자유곡면을가상의 x-y 평면내 다수의미세국부영역으로분할하는단계; 상기다수의미세국부영역각각에대해 x방향곡률값및 y방향곡률값을측정하는단계; 상기 x방향곡률값및 y방향곡률값에기초하여상기측정대상자유곡면의 x축곡률값매트릭스맵과 y축곡률값매트릭스맵을생성하는단계; 상기 x축곡률값매트릭스맵과상기 y축곡률값매트릭스맵으로부터프레네방정식을이용하여 x축경사값매트릭스맵과 y축경사값매트릭스맵을생성하는단계; 상기 x축경사값매트릭스맵과상기 y축경사값매트릭스맵을적분하여측정대상자유곡면의형상매트릭스를생성하는단계를포함한다.

Abstract translation: 本发明涉及使用部分区域的曲率来测量自由曲面的形状的方法。 本发明的目的是提供一种能够通过简单的工艺精确测量自由曲面形状的自由曲面形状的测量方法。 本发明的另一个目的是提供一种用于测量自由曲面表面的形状的方法，该方法能够在与要测量的曲线的部分区域相邻的部分区域之间在X-Y方向上组合。 根据本发明，用于测量自由曲面形状的方法包括：将待测量的自由形成表面划分成平面中的多个细小部分区域的步骤; 在每个精细部分区域上测量X方向曲率和Y方向曲率的步骤; 基于X方向曲率和Y方向曲率生成待测量的自由形成表面的X轴曲率矩阵图和Y轴曲率矩阵图的步骤; 通过使用来自X轴曲率矩阵图和Y轴曲率矩阵图的Frenet方程来生成X轴倾斜值矩阵图和Y轴倾斜值矩阵图的步骤; 以及通过对X轴倾斜值矩阵图和Y轴倾斜值矩阵图进行积分来生成待测量的自由形成表面的成形矩阵的步骤。