半導體元件之製造方法
    2.
    发明专利
    半導體元件之製造方法 审中-公开
    半导体组件之制造方法

    公开(公告)号:TW202008505A

    公开(公告)日:2020-02-16

    申请号:TW108112743

    申请日:2019-04-11

    Abstract: 在一方法中,蝕刻半導體基材以形成溝渠,藉此溝渠定義出通道部。沉積硬罩幕層於通道部之側壁上。非等向性地蝕刻半導體基材,以加深溝渠,藉此加深之溝渠進一步定義出位於通道部與硬罩幕層下方的基部。將硬罩幕層從通道部之側壁移除。以隔離材料填充加深之溝渠。凹入隔離材料以形成隔離結構,其中通道部凸出於隔離結構。

    Abstract in simplified Chinese: 在一方法中,蚀刻半导体基材以形成沟渠,借此沟渠定义出信道部。沉积硬罩幕层于信道部之侧壁上。非等向性地蚀刻半导体基材,以加深沟渠,借此加深之沟渠进一步定义出位于信道部与硬罩幕层下方的基部。将硬罩幕层从信道部之侧壁移除。以隔离材料填充加深之沟渠。凹入隔离材料以形成隔离结构,其中信道部凸出于隔离结构。

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