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    探針卡及其製造方法
    3.
    发明专利
    探針卡及其製造方法 审中-公开
    探针卡及其制造方法

    公开(公告)号：TW201413251A

    公开(公告)日：2014-04-01

    申请号：TW101134326

    申请日：2012-09-19

    申请人： 旺矽科技股份有限公司 ,  MPI CORPORATION

    发明人： 李忠哲 ,  吳堅州 ,  陳宗毅 ,  CHEN, TSUNG YI ,  陳明祈

    IPC分类号： G01R1/073 ,  G01R3/00

    CPC分类号： G01R1/0491 ,  G01R1/07378 ,  G01R3/00 ,  Y10T29/49126

    摘要： 一種探針卡，用以與複數個探針接抵；該探針卡包含有一基板、至少兩個IC載板以及複數個探針墊；其中，該等IC載板設於該基板上，且間隔一預定距離；各該IC載板上具有複數個導接點；該等探針墊分別鍍設於該等IC載板上，且分別與各該導接點連接，而遮蔽各該導接點，並於各該IC載板上圍成一佈針區；該等探針墊用以分別與各探針接抵。另外，本發明更提供有該探針卡之製造方法。

    简体摘要： 一种探针卡，用以与复数个探针接抵；该探针卡包含有一基板、至少两个IC载板以及复数个探针垫；其中，该等IC载板设于该基板上，且间隔一预定距离；各该IC载板上具有复数个导接点；该等探针垫分别镀设于该等IC载板上，且分别与各该导接点连接，而屏蔽各该导接点，并于各该IC载板上围成一布针区；该等探针垫用以分别与各探针接抵。另外，本发明更提供有该探针卡之制造方法。

    具有彈簧套筒式探針之探針裝置
    6.
    发明专利
    具有彈簧套筒式探針之探針裝置 审中-公开
    具有弹簧套筒式探针之探针设备

    公开(公告)号：TW201533454A

    公开(公告)日：2015-09-01

    申请号：TW104102925

    申请日：2015-01-28

    申请人： 旺矽科技股份有限公司

    发明人： 吳堅州 ,  陳宗毅 ,  李天嘉 ,  郭廷鑫

    IPC分类号： G01R1/073

    CPC分类号： G01R1/06722 ,  G01R1/06705 ,  G01R1/07342 ,  G01R3/00

    摘要： 一種探針裝置，包含一彈簧套筒式探針及一探針座，該探針有一針體及一彈簧套筒，彈簧套筒有至少一彈簧段及一固定於針體之結合部，結合部有一凸出於彈簧段之外筒面之凸出部，探針座有複數相疊之導板及至少一供該探針穿設之導引孔，其中包含一下導板、一位於下導板上方之支撐導板及一設於支撐導板之支撐孔，支撐孔呈非圓形且能定義出一中心、一導引面及一支撐面，支撐面與中心的距離大於彈簧段的外筒面的半徑，導引面與中心的距離大於支撐面與中心的距離，且大於凸出部與針體之中心的最大距離；藉此，該探針受力時可避免過度偏擺或扭曲。

    简体摘要： 一种探针设备，包含一弹簧套筒式探针及一探针座，该探针有一针体及一弹簧套筒，弹簧套筒有至少一弹簧段及一固定于针体之结合部，结合部有一凸出于弹簧段之外筒面之凸出部，探针座有复数相叠之导板及至少一供该探针穿设之导引孔，其中包含一下导板、一位于下导板上方之支撑导板及一设于支撑导板之支撑孔，支撑孔呈非圆形且能定义出一中心、一导引面及一支撑面，支撑面与中心的距离大于弹簧段的外筒面的半径，导引面与中心的距离大于支撑面与中心的距离，且大于凸出部与针体之中心的最大距离；借此，该探针受力时可避免过度偏摆或扭曲。

    探針測試裝置
    7.
    发明专利
    探針測試裝置 审中-公开
    探针测试设备

    公开(公告)号：TW201307851A

    公开(公告)日：2013-02-16

    申请号：TW100127587

    申请日：2011-08-03

    申请人： 旺矽科技股份有限公司 ,  MPI CORPORATION

    发明人： 吳堅州 ,  WU, CHIEN CHOU ,  陳明祈 ,  CHEN, MING CHI ,  李忠哲 ,  LI, CHUNG CHE

    IPC分类号： G01R1/073

    摘要： 一種探針測試裝置，其包括一電路板、一增強結構、至少一空間轉換板、與至少一探針組。增強結構設置在電路板上，且增強結構的內部導電線路是與電路板上的導電線路電性連接，於增強結構中設置有多個容置空間。另外，空間轉換板設置在增強結構上，所述的空間轉換板的內部導電線路是藉由多個第一錫球而與增強結構的內部導電線路電性連接。此外，探針組是設置在空間轉換板上，且探針組包括多個探針。其中，第一錫球是位於容置空間內，而增強結構則抵接著空間轉換板。

    简体摘要： 一种探针测试设备，其包括一电路板、一增强结构、至少一空间转换板、与至少一探针组。增强结构设置在电路板上，且增强结构的内部导电线路是与电路板上的导电线路电性连接，于增强结构中设置有多个容置空间。另外，空间转换板设置在增强结构上，所述的空间转换板的内部导电线路是借由多个第一锡球而与增强结构的内部导电线路电性连接。此外，探针组是设置在空间转换板上，且探针组包括多个探针。其中，第一锡球是位于容置空间内，而增强结构则抵接着空间转换板。

    探針測試裝置
    8.
    实用新型
    探針測試裝置 有权
    探针测试设备

    公开(公告)号：TWM442506U

    公开(公告)日：2012-12-01

    申请号：TW101213755

    申请日：2012-07-17

    申请人： 旺矽科技股份有限公司

    发明人： 吳堅州 ,  李忠哲

    IPC分类号： G01R

    摘要： 一種探針測試裝置，其包括一電路板、一第一增強板、至少一空間轉換板、至少一探針組，其中第一增強板設置在電路板上，第一增強板具有多個容置空間，容置空間是貫穿第一增強板。空間轉換板設置在第一增強板上，空間轉換板的內部導電線路是藉由多個第一錫球而與電路板上的導電線路電性連接。此外，探針組是設置在空間轉換板上，探針組包括多個探針。另外，第一錫球是位於容置空間內，而第一增強板則抵接著空間轉換板。

    简体摘要： 一种探针测试设备，其包括一电路板、一第一增强板、至少一空间转换板、至少一探针组，其中第一增强板设置在电路板上，第一增强板具有多个容置空间，容置空间是贯穿第一增强板。空间转换板设置在第一增强板上，空间转换板的内部导电线路是借由多个第一锡球而与电路板上的导电线路电性连接。此外，探针组是设置在空间转换板上，探针组包括多个探针。另外，第一锡球是位于容置空间内，而第一增强板则抵接着空间转换板。

    探針測試裝置
    9.
    发明专利
    探針測試裝置 有权
    探针测试设备

    公开(公告)号：TWI375037B

    公开(公告)日：2012-10-21

    申请号：TW097126843

    申请日：2008-07-15

    申请人： 旺矽科技股份有限公司

    发明人： 孫宏川 ,  簡志忠 ,  楊惠彬 ,  吳堅州 ,  黃朝敬 ,  施伯宗

    IPC分类号： G01R

    摘要： 一種探針測試裝置，主要於一電路板與一空間轉換板之間設置一墊高板，再設置多數個探針於空間轉換板，使得電路板之表面與該等探針之針尖之間所具有的固定高度可透過墊高板加以克服，而不需要再另外製作高厚度的空間轉換板，可有效降低本發明於製造上的困難度與成本。

    简体摘要： 一种探针测试设备，主要于一电路板与一空间转换板之间设置一垫高板，再设置多数个探针于空间转换板，使得电路板之表面与该等探针之针尖之间所具有的固定高度可透过垫高板加以克服，而不需要再另外制作高厚度的空间转换板，可有效降低本发明于制造上的困难度与成本。