-
公开(公告)号：TW201906685A
公开(公告)日：2019-02-16
申请号：TW107115675
申请日：2018-05-09
Applicant: 德商華爾特機械製造公司 , WALTER MASCHINENBAU GMBH
Inventor： 海格勒 齊格弗里德 , HEGELE, SIEGFRIED , 斯庫奈比勒 斯特芬 , SCHNAIBLE, STEFFEN
Abstract: 本發明關於一種研磨及/或沖蝕機器(10)、以及一種用於測量及參考一軸配置(11)之方法，該軸配置包括數個機器軸(12)，其中每一者可佈設成一旋轉或平移機器軸。為此，一量測碟(28)插入一工具主軸(13)中，且一試驗心軸(27)插入一工件固持裝置(14)中。試驗心軸(27)電氣連接至一參考電位、較佳地大地(M)。量測碟(28)電氣連接至一供應電壓電位(UV)。藉形成一介於量測碟(28)與試驗心軸(27)之間的接觸，一量測電流(IM)將在供應電壓電位(UV)與該參考電位之間流動，且依據範例係從供應電壓電位(UV)到大地(M)。可在一監視裝置(31)中偵測到該量測電流(IM)之流動，且可判定量測電流(IM)之電流流動起始時的機器軸(12)實際位置。透過軸配置(11)，可接近量測碟(28)與試驗心軸(27)之間的一個或更多接觸位置點(K)，且因此可分別進行軸配置(11)及該機器之參考或測量。
Abstract in simplified Chinese: 本发明关于一种研磨及/或冲蚀机器(10)、以及一种用于测量及参考一轴配置(11)之方法，该轴配置包括数个机器轴(12)，其中每一者可布设成一旋转或平移机器轴。为此，一量测碟(28)插入一工具主轴(13)中，且一试验心轴(27)插入一工件固持设备(14)中。试验心轴(27)电气连接至一参考电位、较佳地大地(M)。量测碟(28)电气连接至一供应电压电位(UV)。藉形成一介于量测碟(28)与试验心轴(27)之间的接触，一量测电流(IM)将在供应电压电位(UV)与该参考电位之间流动，且依据范例系从供应电压电位(UV)到大地(M)。可在一监视设备(31)中侦测到该量测电流(IM)之流动，且可判定量测电流(IM)之电流流动起始时的机器轴(12)实际位置。透过轴配置(11)，可接近量测碟(28)与试验心轴(27)之间的一个或更多接触位置点(K)，且因此可分别进行轴配置(11)及该机器之参考或测量。
-
公开(公告)号：TWI647057B
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：TW104107782
申请日：2015-03-11
Applicant: 日商迪思科股份有限公司 , DISCO CORPORATION
Inventor： 松山敏文 , MATSUYAMA, TOSHIFUMI
IPC: B23Q17/22 , H01L21/301
-
公开(公告)号：TWM562737U
公开(公告)日：2018-07-01
申请号：TW107200057
申请日：2018-01-03
Applicant: 新代科技股份有限公司 , SYNTEC TECHNOLOGY CO., LTD.
Inventor： 陳永原 , CHEN, YUNG-YUAN
IPC: B23Q17/22
-
公开(公告)号：TW201812335A
公开(公告)日：2018-04-01
申请号：TW105130945
申请日：2016-09-26
Applicant: 峰安車業股份有限公司 , NOPORVIS CO., LTD.
Inventor： 蘇威宏 , SU, WEI-HUNG , 林輝鴻 , LIN, HUI-HUNG , 洪國凱 , HUNG, KUO-KAI , 詹畯能 , CHAN, CHUN-NENG , 王祿宇 , WANG, LU-YU
CPC classification number: G01B9/02001 , B23Q17/00 , G01B9/02015 , G01B9/02057 , G01B2290/70
Abstract: 位移量測裝置包含一光學模組、一分光模組、一光源、一影像感測器以及一處理單元。該光學模組用以折射或反射光線。該分光模組包含一偏振分光層用以允許具一第一偏振方向的光線通過且反射具一第二偏振方向的光線。該光源用以產生具該第一偏振方向的一第一光束及具該第二偏振方向的一第二光束。其中該第一光束通過該光學模組及該分光模組後被一量測件反射，該第二光束通過該光學模組後被該偏振分光層反射。該影像感測器用以感測被反射之該第一光束及該第二光束所產生的一干涉圖案。該處理單元用以根據該干涉圖案計算該量測件的位移量。
Abstract in simplified Chinese: 位移量测设备包含一光学模块、一分光模块、一光源、一影像传感器以及一处理单元。该光学模块用以折射或反射光线。该分光模块包含一偏振分光层用以允许具一第一偏振方向的光线通过且反射具一第二偏振方向的光线。该光源用以产生具该第一偏振方向的一第一光束及具该第二偏振方向的一第二光束。其中该第一光束通过该光学模块及该分光模块后被一量测件反射，该第二光束通过该光学模块后被该偏振分光层反射。该影像传感器用以传感被反射之该第一光束及该第二光束所产生的一干涉图案。该处理单元用以根据该干涉图案计算该量测件的位移量。
-
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：TWI560023B
公开(公告)日：2016-12-01
申请号：TW101132172
申请日：2012-09-04
Applicant: 東麗工程股份有限公司 , TORAY ENGINEERING COMPANY, LIMITED
Inventor： 濱川健史 , HAMAKAWA, KENJI , 森俊裕 , MORI, TOSHIHIRO
CPC classification number: G01D5/34753
-
公开(公告)号：TWI483804B
公开(公告)日：2015-05-11
申请号：TW101146146
申请日：2012-12-07
Applicant: 國立虎尾科技大學 , NATIONAL FORMOSA UNIVERSITY
-
公开(公告)号：TWI480512B
公开(公告)日：2015-04-11
申请号：TW102113549
申请日：2013-04-17
Applicant: 中國鋼鐵股份有限公司 , CHINA STEEL CORPORATION
-
公开(公告)号：TWI476066B
公开(公告)日：2015-03-11
申请号：TW100130897
申请日：2011-08-29
Applicant: 三菱重工業股份有限公司 , MITSUBISHI HEAVY INDUSTRIES, LTD.
Inventor： 佐藤欣且 , SATO, YOSHIKATSU
IPC: B23Q17/22
CPC classification number: B23P13/00 , B23Q17/22 , B23Q17/2233 , B23Q17/2461 , G01B21/045 , Y10T29/49 , Y10T408/175 , Y10T409/303752 , Y10T409/303864 , Y10T409/30728 , Y10T409/307336
-
公开(公告)号：TW201503991A
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW102127349
申请日：2013-07-30
Applicant: 鴻璿股份有限公司
Inventor： 顏進雄
Abstract: 本發明為一種CNC工具機自動刀具換刀檢測編碼器，包括：一發光元件、一光罩、一光柵輪以及一光接收處理裝置。該發光元件發出一光線，該光罩罩於該發光元件之上，該光罩開設有供該光線穿過之至少一孔洞，該光柵輪可進行旋轉且開設有呈環狀排列之複數信號孔，該信號孔係供該光線穿過且對應於工具機換刀機構所需檢測信號；以及該光接收處理裝置接收該光線並轉換處理為能控制工具機換刀機構之一控制信號。藉此，本發明換刀檢測編碼器無人員目視調整誤差，在定位精度上更精準。
Abstract in simplified Chinese: 本发明为一种CNC工具机自动刀具换刀检测编码器，包括：一发光组件、一光罩、一光栅轮以及一光接收处理设备。该发光组件发出一光线，该光罩罩于该发光组件之上，该光罩开设有供该光线穿过之至少一孔洞，该光栅轮可进行旋转且开设有呈环状排列之复数信号孔，该信号孔系供该光线穿过且对应于工具机换刀机构所需检测信号；以及该光接收处理设备接收该光线并转换处理为能控制工具机换刀机构之一控制信号。借此，本发明换刀检测编码器无人员目视调整误差，在定位精度上更精准。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
110
records
(took 0.014 seconds)
