公开(公告)号：US20070294899A1

公开(公告)日：2007-12-27

申请号：US11682764

申请日：2007-03-06

申请人： LEI LI ,  PING CHEN ,  WEN-QUAN XU ,  ZHI CHENG ,  CHANG-FA SUN ,  XUE-LIANG ZHAI ,  LIN-SEN DONG

发明人： LEI LI ,  PING CHEN ,  WEN-QUAN XU ,  ZHI CHENG ,  CHANG-FA SUN ,  XUE-LIANG ZHAI ,  LIN-SEN DONG

IPC分类号： G01B5/14

CPC分类号： G01B11/0691

摘要： An exemplary testing mechanism (100) is used for testing for a sufficiency of a casing 90. The testing mechanism includes a framework (20) and a testing module (40). The framework includes a base board (21) and a pillar (26). One end of the pillar is mounted on the base board. The testing module includes a main board (42) and at least one testing pin (44). The main board is slidably mounted on the pillar. A bottom end of the testing pin is slidably mounted to the main board. A top end of the testing pin is positioned adjacent to the base board of the framework. The at least one testing pin is located in a position corresponding to at least one mounting hole of a sufficient casing.

摘要翻译： 示例性的测试机构（100）用于测试壳体90的充足性。 测试机构包括框架（20）和测试模块（40）。 框架包括基板（21）和支柱（26）。 支柱的一端安装在基板上。 测试模块包括主板（42）和至少一个测试引脚（44）。 主板可滑动地安装在支柱上。 测试销的底端可滑动地安装在主板上。 测试销的顶端定位成与框架的基板相邻。 所述至少一个测试销位于对应于足够壳体的至少一个安装孔的位置。

公开(公告)号：US20070240322A1

公开(公告)日：2007-10-18

申请号：US11615896

申请日：2006-12-22

申请人： LEI LI ,  Zhi Cheng ,  Ping Chen ,  Ai-Ge Sun ,  Xue-Liang Zhai ,  Chang-Fa Sun

发明人： LEI LI ,  Zhi Cheng ,  Ping Chen ,  Ai-Ge Sun ,  Xue-Liang Zhai ,  Chang-Fa Sun

IPC分类号： G01B5/25

CPC分类号： G01B5/207 ,  G01B5/25 ,  G01B5/285

摘要： A testing system for testing flatness of a surface of a workpiece includes a testing apparatus (10) and a processor (20). The testing apparatus includes a testing box (12) and a measuring apparatus (14). The testing box includes a plurality of holders (122); the holders define a datum plane. The measuring apparatus comprises a plurality of movable testing poles (142) extending out of the testing box and a plurality of gauges (141) configured for measuring distance of the testing poles retracting into the testing box. Ends (1421) of the testing poles away from the testing box are located at the datum plane and configured for supporting the surface of the workpiece thereon to allow the gauges measuring retracting distance of the testing poles under the pressure of the workpiece. The retracting distance of the testing poles is equal to distances between testing points on the surface of the workpieces and the datum plane. The processor is connected to the testing apparatus for receiving and processing testing data that are converted from the retracting distance of the testing poles measured by the gauges.

摘要翻译： 用于测试工件表面的平整度的测试系统包括测试装置（10）和处理器（20）。 测试装置包括测试箱（12）和测量装置（14）。 测试箱包括多个保持器（122）; 支架定义基准平面。 测量装置包括从测试箱延伸出来的多个可动测试极（142）和多个量测器（141），其被配置用于测量测试极回缩到测试箱中的距离。 远离测试箱的测试极的端部（1421）位于基准平面上并且被配置为支撑其上的工件的表面，以允许测量仪在工件的压力下测量测试极的回缩距离。 测试极的回缩距离等于工件表面和基准平面上的测试点之间的距离。 处理器连接到测试装置，用于接收和处理从由量规测量的测试极的回缩距离转换的测试数据。

公开(公告)号：US20080173110A1

公开(公告)日：2008-07-24

申请号：US11865629

申请日：2007-10-01

申请人： LEI LI ,  PING CHEN ,  ZHI CHENG ,  XUE-LIANG ZHAI ,  MING-FENG LI ,  CHANG-FA SUN ,  DONG LI ,  YONG-ZHI TAO

发明人： LEI LI ,  PING CHEN ,  ZHI CHENG ,  XUE-LIANG ZHAI ,  MING-FENG LI ,  CHANG-FA SUN ,  DONG LI ,  YONG-ZHI TAO

IPC分类号： G01N19/00

CPC分类号： G01M99/005

摘要： A testing system (100) is used to test a flip-type electronic device (80). The electronic device includes a cover (802) and a main body (801). A hinge (803) connects with the cover and the main body. The testing system includes a base (10), a plummer (20), a flipping device (30) and a control device (40). The plummer is fixed on the base for locking the electronic device. The flipping device is fixed on the base for opening and closing the cover of the electronic device. The control device includes an optical fiber sensor (42) for sensing the movement of the cover of the electronic device. The control device connects with the flipping device so as to control the flipping device.

摘要翻译： 测试系统（100）用于测试翻盖型电子设备（80）。 电子设备包括盖（802）和主体（801）。 铰链（803）与盖和主体连接。 所述测试系统包括基座（10），直立器（20），翻转装置（30）和控制装置（40）。 直立式固定在基座上用于锁定电子设备。 翻转装置固定在基座上，用于打开和关闭电子装置的盖。 控制装置包括用于感测电子设备的盖的移动的光纤传感器（42）。 控制装置与翻转装置连接，以控制翻转装置。

公开(公告)号：US20080155846A1

公开(公告)日：2008-07-03

申请号：US11945512

申请日：2007-11-27

申请人： LEI LI ,  ZHI CHENG ,  PING CHEN ,  JI-WEN YANG ,  LIN-SEN DONG ,  CHANG-FA SUN

发明人： LEI LI ,  ZHI CHENG ,  PING CHEN ,  JI-WEN YANG ,  LIN-SEN DONG ,  CHANG-FA SUN

IPC分类号： G01B5/20

CPC分类号： G01B5/285 ,  G01B3/22

摘要： A measuring system (100) for flatness degree measurement includes a measuring instrument (10) and a processing device (20). The measuring instrument has a base (12), a guide column (14), a sliding member (16), a digital micrometer (18) and a holding member (19). The guide column is vertically attached to the base. The sliding member is moveably attached to the guide column. The digital micrometer is firmly fastened to the sliding member. The holding member is configured for fixing a workpiece (40) and has a reference-standard surface formed thereon. The processing device electronically connects with the digital micrometer. The processing device receives a plurality of measured values from the digital micrometer and displays a testing result after processing the measured values.

摘要翻译： 用于平坦度测量的测量系统（100）包括测量仪器（10）和处理设备（20）。 测量仪器具有底座（12），导柱（14），滑动构件（16），数字测微器（18）和保持构件（19）。 引导柱垂直连接到基座。 滑动构件可移动地附接到导向柱。 数字测微计牢固地固定在滑动构件上。 保持构件用于固定工件（40）并具有形成在其上的基准标准表面。 处理装置与数字千分尺电子连接。 处理装置从数字千分尺接收多个测量值，并在处理测量值之后显示测试结果。

公开(公告)号：US20110258220A1

公开(公告)日：2011-10-20

申请号：US12909954

申请日：2010-10-22

申请人： LEI LI ,  PING CHEN ,  LI-JUN CHEN

发明人： LEI LI ,  PING CHEN ,  LI-JUN CHEN

IPC分类号： G06F17/30

CPC分类号： G06Q10/00 ,  G06Q50/04 ,  Y02P90/30

摘要： A fixture administration system for administrating fixtures with an administration method, the system includes a database, a server, client computers, and a network connecting the client computers, the database and the server. The sever includes a requesting module, a notification module, a recording module, and a processing module. The requesting module starts a design request for the fixtures. The processing module processes the design request to extract and transmit a stored fixture report from the database to the notification module. The notification module notifies to modify the fixtures and create a new fixture report. The recording module records the new fixture report. The processing module compares and replaces the stored fixture report with the new fixture report.

摘要翻译： 一种用管理装置管理方法的夹具管理系统，该系统包括数据库，服务器，客户端计算机以及连接客户端计算机，数据库和服务器的网络。 服务器包括请求模块，通知模块，记录模块和处理模块。 请求模块启动灯具的设计请求。 处理模块处理设计请求，以将存储的夹具报告从数据库提取并发送到通知模块。 通知模块通知修改灯具并创建新的灯具报告。 录音模块记录新的灯具报告。 处理模块将存储的夹具报告与新的夹具报告进行比较和替换。

公开(公告)号：US20110147565A1

公开(公告)日：2011-06-23

申请号：US13039403

申请日：2011-03-03

申请人： PING CHEN ,  LEI LI ,  YAN-HUA XING ,  WEN-QUAN XU ,  CHANG-FA SUN ,  LIN-SEN DONG

发明人： PING CHEN ,  LEI LI ,  YAN-HUA XING ,  WEN-QUAN XU ,  CHANG-FA SUN ,  LIN-SEN DONG

IPC分类号： B29C39/44

CPC分类号： B28B1/14 ,  B28B1/44 ,  B29C33/0033 ,  B29L2031/3005 ,  Y10T29/4998 ,  Y10T29/49982 ,  Y10T29/49984 ,  Y10T29/53

摘要： In a method for making an inspection fixture, a detachable mold assembly and a hardenable fluid are firstly prepared. Secondly, the hardenable fluid is poured into the mold assembly, and a plurality of molding pins are inserted into the mold assembly. Thirdly, a main body with a plurality of positioning holes corresponding to the molding pins (i.e., the locations thereof) are formed in the mold after the hardenable fluid hardens. Fourthly, the mold assembly is detached, and the part is removed from the mold. Finally, a plurality of positioning pins is mounted into the positioning holes of the molded part, the positioning holes having remained upon removal of the molding pins.

摘要翻译： 在制造检查夹具的方法中，首先准备可拆卸模具组件和可硬化流体。 其次，将可硬化流体倒入模具组件中，并将多个模制销插入模具组件中。 第三，在可硬化流体硬化之后，在模具中形成具有与模制销对应的多个定位孔（即其位置）的主体。 第四，拆卸模具组件，并将模具从模具中取出。 最后，多个定位销安装在模制部件的定位孔中，定位孔在去除模制销时保持不动。

公开(公告)号：US20100107377A1

公开(公告)日：2010-05-06

申请号：US12685826

申请日：2010-01-12

申请人： LEI LI ,  PING CHEN ,  ZHI CHENG ,  JIAN-GUI WU ,  HONG-YAN LI ,  LIN-SEN DONG ,  YONG-ZHI TAO ,  CHANG-FA SUN

发明人： LEI LI ,  PING CHEN ,  ZHI CHENG ,  JIAN-GUI WU ,  HONG-YAN LI ,  LIN-SEN DONG ,  YONG-ZHI TAO ,  CHANG-FA SUN

IPC分类号： A44B99/00

CPC分类号： B25B1/103 ,  B25B1/2484 ,  B25B5/10 ,  Y10T24/44017 ,  Y10T29/53961

摘要： A clamping device for clamping a portable electronic device is provided. The clamping device includes a mounting board and a clamping mechanism. The clamping mechanism includes two adjusting members, two sliding blocks, and a sliding rail. The adjusting members can adjust the positions of the sliding blocks on the sliding rail. The sliding rail is selectively attached to the mounting board, either horizontally or vertically.

摘要翻译： 提供一种用于夹持便携式电子设备的夹紧装置。 夹紧装置包括安装板和夹紧机构。 夹紧机构包括两个调节构件，两个滑块和滑轨。 调节构件可以调节滑轨上的滑动块的位置。 滑轨选择性地连接到安装板，水平或垂直。

公开(公告)号：US20090292498A1

公开(公告)日：2009-11-26

申请号：US12467379

申请日：2009-05-18

申请人： LEI LI ,  LIN-SEN DONG ,  ZHI-QIANG JIANG ,  PING CHEN ,  ZHI CHENG ,  CHANG-FA SUN ,  CHUAN-KANG TAN ,  LIN LI ,  CHUN-YING WANG

发明人： LEI LI ,  LIN-SEN DONG ,  ZHI-QIANG JIANG ,  PING CHEN ,  ZHI CHENG ,  CHANG-FA SUN ,  CHUAN-KANG TAN ,  LIN LI ,  CHUN-YING WANG

IPC分类号： G01R27/14

CPC分类号： G01R27/02

摘要： A resistance testing device detects resistances between testing points of an electronic element. The resistance testing device includes controls accepting input of data to the resistance testing device, a relay module, a multimeter, testing probes electrically connected to the relay module, a testing platform including a base and a probe mounting board, a driving assembly mounted on the base and moving the probe mounting board relative to the electronic device, a display, and a central processing assembly mounted within the base. The relay module controls the testing probes and implements the multimeter to detect resistances between the testing points. The base seats the electronic element, the probe mounting board fixes the testing probes, and the probe mounting board is adjustably mounted above the base. The central processing assembly includes a central processing unit. The central processing unit is respectively and electronically connected to the controls, driving assembly, display and the relay module. The central processing unit provides input of data and implements the driving assembly, display, relay module and the multimeter, and analyzes testing results, and the display shows input data and testing results.

摘要翻译： 电阻测试装置检测电子元件的测试点之间的电阻。 电阻测试装置包括接受数据输入到电阻测试装置的控制器，继电器模块，万用表，电连接到继电器模块的测试探针，包括基座和探针安装板的测试平台，安装在 并且相对于电子设备移动探针安装板，显示器和安装在基座内的中央处理组件。 继电器模块控制测试探头并实现万用表以检测测试点之间的电阻。 基座安装电子元件，探头安装板固定测试探头，探头安装板可调节地安装在基座上方。 中央处理组件包括中央处理单元。 中央处理单元分别电连接到控制器，驱动组件，显示器和继电器模块。 中央处理单元提供数据输入，实现驱动组件，显示，继电器模块和万用表，分析测试结果，显示输入数据和测试结果。

公开(公告)号：US20090260451A1

公开(公告)日：2009-10-22

申请号：US12417764

申请日：2009-04-03

申请人： LEI LI ,  PING CHEN ,  ZHI-QIANG JIANG ,  CHUN-YING WANG ,  XUE-LIANG ZHAI ,  LI-PING HUANG ,  ZHI CHENG ,  CHANG-FA SUN ,  XIAN-CUI DU

发明人： LEI LI ,  PING CHEN ,  ZHI-QIANG JIANG ,  CHUN-YING WANG ,  XUE-LIANG ZHAI ,  LI-PING HUANG ,  ZHI CHENG ,  CHANG-FA SUN ,  XIAN-CUI DU

IPC分类号： G01N3/20

CPC分类号： G01N3/32 ,  G01M99/005 ,  G01N2033/0078 ,  G01N2203/0073 ,  G01N2203/028

摘要： A fatigue test apparatus for thin workpiece includes a supporting module, a driving mechanism, a first connecting module, a second connecting module, a first holding post, a second holding post and a computer system. The first and second connecting modules are respectively fixed to two sides of the supporting module. Ends of the first holding post and the second holding post are fixed to the first and second connecting modules. The computer system electronically connects with and controls the driving mechanism. The first holding post and the second holding post are drive to rotate by the driving mechanism.

摘要翻译： 用于薄工件的疲劳试验装置包括支撑模块，驱动机构，第一连接模块，第二连接模块，第一保持柱，第二保持柱和计算机系统。 第一和第二连接模块分别固定在支撑模块的两侧。 第一保持柱和第二保持柱的端部固定到第一和第二连接模块。 计算机系统与驱动机构电连接并控制。 第一保持柱和第二保持柱由驱动机构驱动旋转。

公开(公告)号：US20080184583A1

公开(公告)日：2008-08-07

申请号：US11767022

申请日：2007-06-22

申请人： LEI LI ,  PING CHEN ,  YUN-FANG ZHAO ,  DONG LI ,  ZHI-LI CHEN ,  JUN JIANG

发明人： LEI LI ,  PING CHEN ,  YUN-FANG ZHAO ,  DONG LI ,  ZHI-LI CHEN ,  JUN JIANG

IPC分类号： G01B3/18 ,  G01B5/02

CPC分类号： G01B3/18 ,  G01B5/02 ,  G01B5/063

摘要： A measuring system (100) includes a measuring instrument (10) and a processing device (20). The measuring instrument includes a base (12), a guide column (14), a sliding member (16), and a digital micrometer (18). The guide column is vertically attached to the base. The sliding member is moveably attached to the guide column. The digital micrometer is firmly fastened to the sliding member. The processing device is electronically connected with the digital micrometer. The processing device receives a measured value from the digital micrometer and diplays a testing result after processing the measured value.

摘要翻译： 测量系统（100）包括测量仪器（10）和处理设备（20）。 测量仪器包括基座（12），导柱（14），滑动构件（16）和数字测微器（18）。 引导柱垂直连接到基座。 滑动构件可移动地附接到导向柱。 数字测微计牢固地固定在滑动构件上。 处理装置与数字千分尺电子连接。 处理装置从数字千分尺接收测量值，并在处理测量值后显示测试结果。