公开(公告)号：US08086978B2

公开(公告)日：2011-12-27

申请号：US12143547

申请日：2008-06-20

申请人： Lizheng Zhang ,  Parveen Khurana ,  Vassilios Gerousis ,  Hongliang Chang ,  Sachin Shrivastava

发明人： Lizheng Zhang ,  Parveen Khurana ,  Vassilios Gerousis ,  Hongliang Chang ,  Sachin Shrivastava

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5068 ,  G06F2217/10 ,  G06F2217/78

摘要： A method, system, and computer program product are disclosed for performing statistical leakage power characterization to estimate yield of a circuit in terms of leakage power. According to some approaches, this is performed with consideration of state correlation.

摘要翻译： 公开了一种方法，系统和计算机程序产品，用于执行统计泄漏功率表征以估计电路在泄漏功率方面的产量。 根据一些方法，这是考虑到状态相关性来进行的。

公开(公告)号：US08069432B2

公开(公告)日：2011-11-29

申请号：US12241519

申请日：2008-09-30

申请人： Lizheng Zhang ,  Hongliang Chang ,  Kai-Ti Huang ,  Vassilios Gerousis

发明人： Lizheng Zhang ,  Hongliang Chang ,  Kai-Ti Huang ,  Vassilios Gerousis

IPC分类号： G06F17/50

CPC分类号： G06F17/5036

摘要： A method, system, and computer program product are disclosed for performing statistical leakage power characterization to estimate yield of a circuit in terms of leakage power. According to some approaches, this is performed with consideration of bi-exponential modeling.

摘要翻译： 公开了一种方法，系统和计算机程序产品，用于执行统计泄漏功率表征以估计电路在泄漏功率方面的产量。 根据一些方法，这是考虑到双指数模型来进行的。

公开(公告)号：US20100313177A1

公开(公告)日：2010-12-09

申请号：US12842268

申请日：2010-07-23

申请人： Lizheng Zhang ,  Yuhen Hu ,  Chun-ping Chen

发明人： Lizheng Zhang ,  Yuhen Hu ,  Chun-ping Chen

IPC分类号： G06F9/455

CPC分类号： G06F17/5031

摘要： Statistical timing analysis methods for circuits having latches and feedback loops are described wherein the circuit yield, and/or the critical cycle mean (the largest cycle mean among all loops in the circuit), may be iteratively calculated with high speed and accuracy, thereby allowing their ready usage in the analysis and validation of proposed circuit designs.

摘要翻译： 描述了具有锁存器和反馈回路的电路的统计时序分析方法，其中电路产量和/或临界循环平均值（电路中所有回路中的最大周期平均值）可以以高速度和精确度迭代地计算，从而允许 它们在拟议的电路设计的分析和验证中的准备使用。

公开(公告)号：US07492449B2

公开(公告)日：2009-02-17

申请号：US11086473

申请日：2005-03-22

申请人： Ifeanyi Charles Ume ,  Lizheng Zhang

发明人： Ifeanyi Charles Ume ,  Lizheng Zhang

IPC分类号： G01N21/00

CPC分类号： G01N21/95684 ,  G01N21/95607

摘要： Embodiments of inspection systems and methods are disclosed. One embodiment of an inspection system, among others, comprises logic configured to receive a reference signal and a target signal, the reference signal having first surface displacement information and the target signal having second surface displacement information, said logic configured to determine a correlation coefficient between the first surface displacement information and the second surface displacement information, the correlation coefficient indicating whether an inspected object exhibits a defect.

摘要翻译： 公开了检查系统和方法的实施例。 检查系统的一个实施例包括被配置为接收参考信号和目标信号的逻辑，参考信号具有第一表面位移信息，并且目标信号具有第二表面位移信息，所述逻辑被配置为确定 第一表面位移信息和第二表面位移信息，指示被检查物体是否表现出缺陷的相关系数。

公开(公告)号：US20070118331A1

公开(公告)日：2007-05-24

申请号：US11272234

申请日：2005-11-10

申请人： Natesan Venkateswaran ,  Chandramouli Visweswariah ,  Lizheng Zhang ,  Vladimir Zolotov

发明人： Natesan Venkateswaran ,  Chandramouli Visweswariah ,  Lizheng Zhang ,  Vladimir Zolotov

IPC分类号： G06F17/18

CPC分类号： G06F17/5031

摘要： The invention provides a method, system, and program product for accommodating spatially-correlated variation in a process parameter during statistical timing of a circuit. In one embodiment, the method includes dividing an area of the circuit into a plurality of grid cells; associating an independent random variable with each of the plurality of grid cells; and expressing at least one spatially-correlated parameter of a first grid cell as a function of the random variables associated with the first grid cell and at least one neighboring grid cell.

摘要翻译： 本发明提供一种用于在电路的统计定时期间适应处理参数的空间相关变化的方法，系统和程序产品。 在一个实施例中，该方法包括将电路的区域划分成多个网格单元; 将独立随机变量与所述多个网格单元中的每一个相关联; 以及将与第一网格单元和至少一个相邻网格单元相关联的随机变量的函数表达为第一网格单元的至少一个空间相关参数。