公开(公告)号：US06222145B1

公开(公告)日：2001-04-24

申请号：US09182333

申请日：1998-10-29

申请人： Robert F. Cook ,  Eric G. Liniger ,  Ronald L. Mendelson ,  Dean R. Sanders

发明人： Robert F. Cook ,  Eric G. Liniger ,  Ronald L. Mendelson ,  Dean R. Sanders

IPC分类号： B07C5344

CPC分类号： B07C5/34 ,  Y10S209/938

摘要： A method for sorting integrated circuit chips. At least one physical defect is detected in the semiconductor chips. The semiconductor chips are sorted based upon the physical defect.

摘要翻译： 集成电路芯片分类方法。 在半导体芯片中检测到至少一个物理缺陷。 基于物理缺陷对半导体芯片进行分类。