公开(公告)号：US07392147B2

公开(公告)日：2008-06-24

申请号：US11309707

申请日：2006-09-15

Applicant: Chien-Hung Lo ,  Tao-Gen Chen ,  Xiao Su ,  Min-Fu Deng

Inventor： Chien-Hung Lo ,  Tao-Gen Chen ,  Xiao Su ,  Min-Fu Deng

IPC: G01M19/00

CPC classification number: G01R31/31715

Abstract: A Universal Serial Bus (USB) port tester for testing a USB port of an electronic device includes an interface unit, a current-testing unit, and a voltage-testing unit. The interface unit is used for electrically connecting with the USB port of the electronic device and a USB device. The current-testing unit is connected to the interface unit for testing quality of the USB port of the electronic device in a standard current range. The voltage-testing unit is connected to the interface unit for testing quality of the USB port of the electronic device in a standard voltage range.

Abstract translation: 用于测试电子设备的USB端口的通用串行总线（USB）端口测试器包括接口单元，电流测试单元和电压测试单元。 接口单元用于与电子设备的USB端口和USB设备电连接。 电流测试单元连接到接口单元，用于在标准电流范围内测试电子设备的USB端口的质量。 电压测试单元连接到接口单元，用于在标准电压范围内测试电子设备的USB端口的质量。

公开(公告)号：US20070136025A1

公开(公告)日：2007-06-14

申请号：US11309707

申请日：2006-09-15

Applicant: CHIEN-HUNG LO ,  Tao-Gen Chen ,  Xiao Su ,  Min-Fu Deng

Inventor： CHIEN-HUNG LO ,  Tao-Gen Chen ,  Xiao Su ,  Min-Fu Deng

IPC: G01M19/00

CPC classification number: G01R31/31715

Abstract: A Universal Serial Bus (USB) port tester for testing a USB port of an electronic device includes an interface unit, a current-testing unit, and a voltage-testing unit. The interface unit is used for electrically connecting with the USB port of the electronic device and a USB device. The current-testing unit is connected to the interface unit for testing quality of the USB port of the electronic device in a standard current range. The voltage-testing unit is connected to the interface unit for testing quality of the USB port of the electronic device in a standard voltage range.

Abstract translation: 用于测试电子设备的USB端口的通用串行总线（USB）端口测试器包括接口单元，电流测试单元和电压测试单元。 接口单元用于与电子设备的USB端口和USB设备电连接。 电流测试单元连接到接口单元，用于在标准电流范围内测试电子设备的USB端口的质量。 电压测试单元连接到接口单元，用于在标准电压范围内测试电子设备的USB端口的质量。

公开(公告)号：US20100017658A1

公开(公告)日：2010-01-21

申请号：US12329617

申请日：2008-12-07

Applicant: SU-KUANG YANG ,  CHIEN-HUNG LO ,  MIN-FU DENG ,  ZHENG-QUAN PENG ,  XIANG CAO

Inventor： SU-KUANG YANG ,  CHIEN-HUNG LO ,  MIN-FU DENG ,  ZHENG-QUAN PENG ,  XIANG CAO

IPC: G06F11/00 ,  G06G7/62

CPC classification number: G06F11/261

Abstract: A test system for testing various functions of electronic devices includes a master device and a simulation control device. The master device is connected to an input device and the electronic devices through the simulation control device. The master device records input signals of the input device and generate simulation signals according to the input signals. The simulation control device simulates the input signals of the input device according to the simulation signals to test the electronic devices.

Abstract translation: 用于测试电子设备的各种功能的测试系统包括主设备和仿真控制设备。 主设备通过仿真控制设备连接到输入设备和电子设备。 主设备记录输入设备的输入信号，并根据输入信号生成模拟信号。 模拟控制装置根据模拟信号模拟输入装置的输入信号，以测试电子装置。

公开(公告)号：US07992046B2

公开(公告)日：2011-08-02

申请号：US12329617

申请日：2008-12-07

Applicant: Su-Kuang Yang ,  Chien-Hung Lo ,  Min-Fu Deng ,  Zheng-Quan Peng ,  Xiang Cao

Inventor： Su-Kuang Yang ,  Chien-Hung Lo ,  Min-Fu Deng ,  Zheng-Quan Peng ,  Xiang Cao

IPC: G06F11/00 ,  G06F11/26

CPC classification number: G06F11/261

Abstract: A test system for testing various functions of electronic devices includes a master device and a simulation control device. The master device is connected to an input device and the electronic devices through the simulation control device. The master device records input signals of the input device and generate simulation signals according to the input signals. The simulation control device simulates the input signals of the input device according to the simulation signals to test the electronic devices.

Abstract translation: 用于测试电子设备的各种功能的测试系统包括主设备和仿真控制设备。 主设备通过仿真控制设备连接到输入设备和电子设备。 主设备记录输入设备的输入信号，并根据输入信号生成模拟信号。 模拟控制装置根据模拟信号模拟输入装置的输入信号，以测试电子装置。

公开(公告)号：US20050135974A1

公开(公告)日：2005-06-23

申请号：US10739784

申请日：2003-12-18

Applicant: Michael Harvey ,  Lara Dowland ,  Breck Parker ,  Stephen Sherman ,  To Cheung ,  Bin Li ,  Yong Peng ,  Qi- Cai ,  Ke Liu ,  Hai Ge ,  Fu Deng ,  Li Ding

Inventor： Michael Harvey ,  Lara Dowland ,  Breck Parker ,  Stephen Sherman ,  To Cheung ,  Bin Li ,  Yong Peng ,  Qi- Cai ,  Ke Liu ,  Hai Ge ,  Fu Deng ,  Li Ding

IPC: B01L3/00 ,  B01L9/00 ,  G01N1/31 ,  G01N31/22

CPC classification number: B01L3/50855 ,  B01L9/52 ,  B01L2200/025 ,  B01L2300/0822 ,  B01L2300/0829 ,  G01N1/312

Abstract: The present invention relates to a device for preparing assay samples using a number of microscope slides. Each slide has a number of assay reaction surface locations spaced on the planar surface of the slide. In preferred embodiments, the device comprises, in part, a microscope slide holder that has the exterior dimensions of a SBS standard microplate, such as a 96 well plate. The device accepts conventional microscope slides equipped with sixteen microarray surfaces spaced nine millimeters apart on center, or four for a 96 well plate. Individual chamber plates are placed on top of the slides, creating an individual well above each assay reaction surface location. In preferred embodiments, each assay reaction surface location can comprise a microarray of multiple reactive sites. Thus, parallel processing can be done of samples for genomic or proteomic profiling. An advantage of the present invention is that one can use the conventional high throughput assaying equipment for SBS standard microplates while using conventional microscope slides, thereby allowing the use of robotic assay reading equipment designed for slides.

Abstract translation: 本发明涉及使用多个显微镜幻灯片制备测定样品的装置。 每个载片具有在载玻片平面上间隔开的多个测定反应表面位置。 在优选实施例中，该装置部分地包括具有诸如96孔板的SBS标准微板的外部尺寸的显微镜载玻片保持器。 该装置接受传统的显微镜载玻片，其中装有十六个微阵列表面，中心隔开9毫米，或四个96孔板。 单独的室板放置在载玻片的顶部，在每个测定反应表面位置之上产生单个孔。 在优选实施方案中，每个测定反应表面位置可以包含多个反应性位点的微阵列。 因此，可以对基因组或蛋白质组图谱的样品进行并行处理。 本发明的一个优点是可以使用传统的高通量测定设备用于SBS标准微孔板，同时使用传统的显微镜载玻片，从而允许使用为幻灯片设计的机器人测定读数设备。